5 research outputs found

    Hochreine einkristalline Schichten von II-VI-Halbleitern mit Hilfe von MOCVD-Verfahren und deren Optimierung fuer optoelektronische Anwendungen Schlussbericht

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    Available from TIB Hannover: F97B415+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)DEGerman

    Entwicklung, Erprobung und Implementation von Biotestverfahren zur Ueberwachung des Rheins. Teilvorhaben 5: Verzoegerte Algenfluoreszenz DF-Algentest und Regensburger Leuchtbakterientest. Abschlussbericht

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    Details are given about the planning, development, setup and testing of the DF algae test which uses algae cells as bioindicators for continuous surface water monitoring. The subsidence of the delayed fluorescence of intact algae cells (reference channel) and of algae cells in test water (test channel) was measured in a two-channel flow fluorometer. The differing photosynthetic performance of the algae cells which served as the test criterion was measured as the difference of the subsidence kinetics of the delayed fluorescence. Hardware was developed and software programs were written for both types of tests for control of the automated permanent measurement and for integration of the test instruments into monitoring networks. (orig.)Die Arbeit berichtet ueber Planung, Entwicklung, Bau und Erprobung des DF-Algentests fuer die kontinuierliche Ueberwachung von Oberflaechengewaessern mit Algenzellen als Bioindikator. Gemessen wird in einem Zweikanel-Durchflussfluorometer das Abklingen der verzoegerten Fluoreszenz (DF Delayed Fluoreszenz) von intakten Algenzellen (Referenzkanal) und mit Probewasser beaufschlagte Algenzellen (Probekanal). Testkriterium ist die unterschiedliche Photosyntheseleistung der Algenzellen, die als Differenz der Abklingkinetik der DF gemessen wird. Fuer beide Biotests wurden neben den Hardware-Entwicklungen umfangreiche Softwareprogramme geschrieben, die die automatisierte Dauermessung steuern und die die Integration der Testgeraete in Messnetze ermoeglichen. (orig.)Available from TIB Hannover: F94B0650 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)DEGerman

    Bestimmung von Valenzband-Offsets in II-VI-Halbleitergrenzflaechen durch Photoelektronenspektroskopie am Synchrotron Schlussbericht

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    Available from TIB Hannover: DtF QN1(39,15) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung, Wissenschaft, Forschung und Technologie, Bonn (Germany)DEGerman

    Untersuchung von Valenzband-Offsets und Grenzflaechenstrukturen in II-VI-Halbleitern mit der Methode der winkelaufgeloesten Photoelektronen-Spektroskopie

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    Available from TIB Hannover: DtF QN1(69,36) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung, Wissenschaft, Forschung und Technologie, Bonn (Germany)DEGerman
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