SPATIALLY RESOLVED ABSORPTION AND DETECTION OF MICROSCOPIC IMPURITIES IN OPTICAL THIN FILMS BY PHOTOTHERMAL DETECTION

On décrit une méthode de mesure d'absorption résolue spatiallement qui permet la localisation d'impuretés absorbantes dans des films diélectriques. Une corrélation entre les sites absorbants et les dommages est établie partiellement.Spatially resolved absorption measurements allowing for the location of micron size absorbing impurities in dielectric thin films using photothermal detection is described. A partial correlation between localized absorption sites and damage is made