Available from TIB Hannover: F98B102+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung, Wissenschaft, Forschung und Technologie, Bonn (Germany)DEGerman

Huenlich, R. (Weierstrass-Institut fuer Angewandte Analysis und Stochastik (WIAS) im Forschungsverbund Berlin e.V. (Germany))

Model, R.

Orlt, M.

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin (Germany). Fachbereich Metrologische Informationstechnik

Walzel, M.

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Grundlegende Untersuchungen zur optischen Tomographie. Mathematische Behandlung der Streulichttomographie von dicken Gewebeschichten und Phantomen  Abschlussbericht