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INDEX TO ADVERTISERS IN THIS ISSUE
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full textInstruments, Equipment and Supplies
- Author
- Acco
- Airflow Developments
- American Instrument Co.
- American Instrument Co.
- American Ultraviolet Co.
- Arthur H. Thomas Co.
- Arthur H. Thomas Co.
- Associates Varian
- Associates Varian
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Box P.O.
- Cambridge Thermionic Corp.
- Cans
- Chrono-Log Corp. Inc.
- Co Utopia Instrument
- Conrac Corp.
- Control Equipment Corp.
- Control Equipment Corp.
- Del Electronics Corp. Equipment Corp.
- Digital Equipment Corp. Dynatech R/D Co.
- Div Avondale
- Div Control
- Div Nikon Instrument
- Div Products
- Duke Scientific Corp.
- Dynalab Corp.
- Dynascan Corp.
- E
- Edwin
- Electrical Syntex Analytical Instruments The Hickok
- Fischer &
- Fisher Scientific Co.
- Fisher Scientific Co.
- Frequency Labs Lepel High
- Frequency Labs Lepel High
- GAUZE
- Glass Scientific
- Glass Scientific
- GRINDERS
- Hach Chemical Co.
- Hewlett-Packard Co.
- Hewlett-Packard Co.
- Hewlett-Packard Co.
- Hughes Aircraft Co.
- Hughes Aircraft Co. Inteco Corp.
- Inc.
- Industries Ltd Rank Precision
- Instrument Co.
- Instruments Lab-Line
- Instruments Lab-Line
- Itek Corp.
- Itek Corp.
- Japan Spectroscopic Co.
- Kaisha Toyo Roshi
- Kaisha Toyo Roshi
- Kaisha Toyo Roshi
- Leeds &
- Leeds &
- Ltd Buehler
- Ltd Pye Unicam
- Ltd Pye Unicam
- Ltd Pye Unicam
- Ltd Pye Unicam
- magnetic memories Cambridge Thermionic Corp.
- McCrone Associates Walter C.
- Meetings-Two
- Monsanto Co.
- National Environmental Fisher Scientific Co.
- National Spectrographic Corning Glass Works Laboratories Ino.
- Nicolet Instrument Corp.
- Nicolet Technology Corp.
- Nuclear Equipment Chemical Wale Apparatus Co.
- Nuclear Equipment Corp.
- Nuclear Equipment Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp. Instrument Co.
- Nuclide Corp. U. S.
- Ollier
- ORTEC Incorporated Fischer &
- Perkin-Eimer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Pittsburgh
- Princeton Applied Research Dynalab Corp. Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- SCRUBBERS
- Seisakusho Shimadzu
- Services Chemical Research
- sine-wave Galileo Electro-Optics Corp. Fish-Schurman Corp.
- Spellman High-Voltage PRESSURE CONTROLLERS Electronics Corp.
- Sub-Zero Products Cincinnati
- The Carborundum Co.
- The Carlson Co.
- The Ealing Corp. Inc.
- The Hickok
- The Hickok Electrical Instrument Co. U. S.
- The Narda Microwave Corp. GLASS
- The VirTis Co.
- Theall Engineering Co.
- Thermovac Industries Corp.
- Toyo Kagaku Sangyo Co. Ltd.
- Union Carbide Corp.
- Union Carbide Corp.
- Union Carbide Corp.
- Utopia Instrument Co.
- Voland Corp.
- Wale Apparatus Co.
- Westinghouse Electric Corp.
- Westinghouse Electric Corp.
- x-ray Fisher Scientific Co.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full textOrganic elemental analysis
- Author
- Abramyan A. A.
- Abramyan A. A.
- Abramyan A. A.
- Abramyan A. A.
- Abramyan A. A.
- Awad W. I.
- Awad W. I.
- Bache C. A.
- Balodis R. B.
- Baltes J.
- Bartels U.
- Barton H. J.
- Basargin N. N.
- Basson W. D.
- Bazalitskaya V. S.
- Belcher R.
- Belcher R.
- Belisle J.
- Beuerman D. R.
- Binkowski J.
- Blazejczak J.
- Borda P.
- Bowen H. J. M.
- Bramlitt E. T.
- Budesinsky B.
- Burroughs J. E.
- Burton J. D.
- Bussmann G.
- Butkiewicz K.
- Buyanova L. M.
- Campbell A. D.
- Campiglio A.
- Campiglio A.
- Celon E.
- Celon E.
- Cheng F. W.
- Christopher J.
- Chromv V.
- Chromv V.
- Chudakova I. K.
- Chumachenko N.
- Chumachenko N.
- Chwalinski S.
- Culmo R.
- Culmo R.
- Czech F. P.
- Dahl W. E.
- Debal E.
- Derge K.
- Diedering P.
- Dirscherl A.
- Diuguid L. L
- Dugan G.
- Dunke M.
- Egan T. F.
- Ehrenberger F.
- Ehrenberger F.
- Eisenberg F. Jr.
- Ellison VI.
- England E. A. VL
- Engler R.
- Ewan R. C.
- Farlev L. L.
- Fedoseev P. N.
- Fedotova L. A.
- Foissac L.
- Francis H. J.
- Frazer J. W.
- Friend A. B.
- Fukamauchi H.
- Gagnon J. G.
- Garnett J.
- Gawargious Y. A.
- Gehrke C. W.
- Gel'man N. E.
- Gel'man N. E.
- Geyer R.
- Glebko L. I.
- Goldstein S.
- Goldstein VI.
- Gouverneur P.
- Graham J. H.
- Griepink B.
- Griepink B.
- Griepink B.
- Griepink B. F. A.
- Habashy G. VI.
- Hadzija O.
- Hamada VI.
- Havacek T.
- Helesic L.
- Henry S.
- Herrmann R.
- Hewlett-Packard
- Holm-Hansen O.
- Horacek J.
- Hozumi K.
- Hozumi K.
- Hozumi K.
- Hunter T. L.
- Ionescu T.
- Ionescu VI.
- Ishii D.
- Ishii D.
- Ishii D.
- Jaworski VL
- Jenik J.
- Jones G. R. N.
- Kachur L. A.
- Kainz G.
- Kainz G.
- Kainz G.
- Kainz G.
- Kalinovskaya E. A.
- Kasler F.
- Ke P. J.
- Kelley H. C.
- Kirsten W. J.
- Klimova V. A.
- Knight D. VI.
- Kreutzer H.
- Kuck J. A.
- Kunz K. P.
- Kuus K. Y.
- Lambdin C. E.
- Larina N. I.
- Lebedev D. D.
- Lebedeva A. I.
- Leuteritz F.
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- List W. H.
- Macdonald A. VI. G.
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- Maryakina I. VI.
- Marzadro VI.
- Merz W.
- Mikhailov V. V.
- Milton. Gutterson
- Mishchenko A. P.
- Morris G. F.
- Negina V. R.
- Numec Instruments Dept
- Oita I. J.
- Oliver F. H.
- Olson P. B.
- Padowetz W.
- Pecar VI.
- Pella E.
- Pennington S.
- Perez-Bustamante J. A.
- Perkin-EImer Corp.
- Pitre D.
- Podorozhanskii M.
- Prokopov T.
- Raspanti G.
- Rauch P.
- Reznitskaya T. V.
- Rison H.
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- Saran J.
- Sato T.
- Scheidl F.
- Schlunz M.
- Schoniger W.
- Schultz W. B. T. Z.
- Schwarz-Bergkampf E.
- Scott B. F.
- Scroggins L. H.
- Seis F.
- Selig W.
- Shanina T. M.
- Shibazaki T.
- Sloane-Stanley G. H.
- Smith A. J.
- Smoczkiewiczowa A.
- Srp L.
- Stapfer C. H.
- Starcuk Z.
- Strukova P.
- Strukova P.
- Strukova P.
- Strukova P.
- Taves D. R.
- Technicon Corp.
- Terent'eva A. P.
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- Terent'eva E. A.
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- Thomas A. H.
- Truffert L.
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- Walisch W.
- Walisch W.
- Walisch W.
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- Yamazaki M.
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- Úhle L.
- Ütsumi S.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full text
