3 research outputs found
Creating Self-Organized Submicrometer Contact Instability Patterns in Soft Elastic Bilayers with a Topographically Patterned Stamp
- Author
- Arun N.
- Arun N.
- Arun N.
- Ashutosh Sharma
- Bowden N.
- Chou S. Y.
- Chung J. Y.
- Chung J. Y.
- Crosby A. J.
- Dietzel M.
- Efimenko K.
- Gabriele S.
- Ghatak A.
- Ghatak A.
- Ghatak A.
- Ghatak A.
- Ghatak A.
- Golovin A. A.
- Golovin A. A.
- Gonuguntla M.
- Gonuguntla M.
- Gonuguntla M.
- He L. H.
- Huang J.
- Huang S.
- Hui C. Y.
- Kim J.
- Matsumoto E. A.
- Monch W.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Pangule R. C.
- Pattader P. S. G.
- Rabibrata Mukherjee
- Reiter G.
- Reiter G.
- Ru C. Q.
- Ruckenstein E.
- Saffman P. G.
- Sarkar J.
- Sarkar J.
- Sarkar J.
- Sarkar J.
- Sarkar J.
- Sarkar J.
- Schaffer E.
- Schaffer E.
- Schaffer E.
- Sehgal A.
- Sharma A.
- Sharma A.
- Sharma A.
- Sharma A.
- Shenoy V.
- Shenoy V.
- Shenoy V.
- Shull K. R.
- Suh K. Y.
- Tomar G.
- Voicu N. E.
- Wasserman S. R.
- Webber R. E.
- Xia Y.
- Xie R.
- Yoo P. J.
- Yoon J.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full textSoft lithography meets self-organization: Some new developments in meso-patterning
- Author
- A. Ghatak
- A. Ghatak
- A. Kros
- A. Kumar
- A. Salleo
- A. Sharma
- A. Sharma
- A. Sharma
- A. Sharma
- A. Singh
- A. Terfort
- A. W. Chow
- Ashutosh Sharma
- B. D. Gates
- C. D. McFarland
- C. D. Schaper
- C. J. Brabec
- D. Bratton
- D. Chowdhury
- D. J. Beebe
- D.-Y. Khang
- D.-Y. Khang
- Danish Faruqui
- E. Kim
- E. Schäffer
- F. Bendetto Di
- F. Stellacci
- G. M. Eichenbaum
- G. M. Whitesides
- G. M. Whitesides
- G. M. Whitesides
- G. Reiter
- G. Reiter
- G. Widawski
- Ganesh Patil
- Gooh Pattader
- H. He
- H. O. Jacobs
- H. Schift
- H. Tan
- J. C. McDonalds
- J. H. Burroughes
- J. Henzie
- J. Jagur-Grodzinski
- J. M. Lupton
- J.-U. Meyer
- K. Ansari
- K. Y. Suh
- K.-B. Lee
- L. J. Guo
- M. A. Unger
- M. Emmelius
- M. Gonuguntla
- M. Gonuguntla
- M. J. Levene
- M. Lei
- M. Ouyang
- P. B. Fischer
- P. L. Burn
- P. Ruchhoeft
- Partho Sarathi
- R. D. Deegan
- R. Mukherjee
- R. S. Kane
- Rabibrata Mukherjee
- S. Harkema
- S. W. Rhee
- S. Y. Chou
- S. Y. Chou
- T. Bailey
- T. Tanaka
- T.-W. Lee
- V. I. Chin
- W. A. Lopez
- Y. Ito
- Y. Rondelez
- Y. Xia
- Y. Xia
- Z. Hu
- Z. Hu
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- Field of study
No full textInfluence of Electrostatic and Chemical Heterogeneity on the Electric-Field-Induced Destabilization of Thin Liquid Films
- Author
- Anklam M. R.
- Anklam M. R.
- Arnab Atta
- Bae J.
- Bandyopadhyay D.
- Bandyopadhyay D.
- Brenan K.
- Charles R. Koch
- Craster R.
- Craster R. V.
- Crawford D. G.
- Danov K. D.
- Das A. L.
- David G. Crawford
- Dickey M.
- Dickey M.
- Dickey M. D.
- Eow J. S.
- Favazza C.
- Favazza C.
- Gambhire P.
- Ghatak A.
- Gonuguntla M.
- Harkema S.
- Kalpathy S. K.
- Khristov K.
- Kralchevsky P. A.
- Krishna H.
- Lee S. H.
- Lenz R. D.
- Lenz R. D.
- Lenz R. D.
- Li B.
- Lu W.
- Lyutakov O.
- Masliyah J. H.
- Mitlin V.
- Morariu M. D.
- Mostowfi F.
- Mostowfi F.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Mukherjee R.
- Oron A.
- Panchev N.
- Pattader P. S. G.
- Pease L. F.
- Reddy P. D. S.
- Roberts S. A.
- Ruckenstein E.
- Ruckenstein E.
- Sarkar J.
- Schaffer E.
- Schaffer E.
- Shankar V.
- Sharma A.
- Sharma A.
- Srivastava S.
- Stubenrauch C.
- Subir Bhattacharjee
- Taylor S. D.
- Trice J.
- Verma A.
- Verma R.
- Verma R.
- Voicu N.
- Voicu N. E.
- Williams M.
- Wu N.
- Wu N.
- Wu N.
- Wu N.
- Wu N.
- Xiang H. Q.
- Yan X. H.
- Yeoh H. K.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full text
