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    Diagnostics d'imagerie X par microscopes X à miroirs développés dans le cadre du programme LIL

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    Cet article présente les premiers diagnostics d'imagerie X à base de microscopes à miroirs mis en œuvre sur la chambre d'expériences de la Ligne d'intégration Laser (LIL) implantée au CEA-CESTA. Ces diagnostics comprennent trois éléments de base : un bloc optique, qui assure les fonctions d'imagerie et de sélectivité spectrale (dans les domaines [100 eV – 1 keV] et [1-5 kev]), un détecteur rapide (caméra à balayage de fente ou tube obturateur) et un système d'insertion. Ils permettent d'observer des détails inférieurs à 10 μ\mum sur un champ de 1 mm (ou 30 μ\mum SUT 3 mm) au niveau du plasma source. La qualification des microscopes sur un banc X spécifique du CEA-DIF est également décrite

    High transconductance AlGaN/GaN HEMT with thin barrier on Si(111) substrate

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