The metrological verification procedure of automatic testing system for industrial electrical products

Referat przedstawia rozwiązanie problemu weryfikacji funkcjonalnej i metrologicznej zautomatyzowanego systemu do testowania wyrobów elektrycznych, systemu o podwyższonych wymaganiach z zakresu wydajności i wiarygodności wyników oceny wyrobów. Procedura, opracowana w oparciu o analizę niezawodnościową i opracowany zbiór etalonów, modelujących parametry testowanych obiektów, integruje dwie techniki diagnostyczne - współbieżne, permanentne monitorowanie stanów połączeń przemieszczanych głowic pomiarowych; oraz -okresową diagnostykę, w postaci dwu różnych działań -weryfikacji funkcjonalnej oraz weryfikacji niepewności pomiarowych systemu.The paper presents the solution of the functional and metrological verification of the automatic system, developed for testing electrical products. The system is characterized by high speed of testing and high level of classification quality. The procedure is developed on the basis of reliability analyses and a special set of etalons, designed for modelling the characteristic of the product under test. The verification procedure integrates two diagnostic methods – concurrent, permanent monitoring of the states of moving test head connectors, and periodic diagnostics – in a form of two different activities- functional verification and metrological verification

Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures

In this article a new Multifunctional System for Photoelectric Measurements of Semiconductor Structures (MSPM) is presented. The system enables very accurate photocurrent measurements at levels as low as 10 fA. Measured structures can be biased by sequences of DC voltages and stimulated by light beams of predefined wavelengths and powers. The software controls all the system actions allowing flexibility in retrieving data stored in the related databases