Appareillage pour étude par diffraction d'électrons lents à température variable dans la gamme 20 °K-150 °K

On présente un appareillage permettant l'étude par diffraction d'électrons lents (DEL) de surface refroidis à des températures aussi basses que 20 °K et ajustables rapidement dans la gamme 20 °K-150 °K. On met en évidence les difficultés principales à surmonter dans une telle réalisation. On expose les solutions retenues

Appareillage pour étude par diffraction d'électrons lents à température variable dans la gamme 20 °K-150 °K

A low energy electron diffraction apparatus is described for experiments in the range 20 °K-150 °K, with the possibility of fast temperature variations in that range. The major difficulties of such an apparatus are pointed out. The corresponding solutions are presented and justified.On présente un appareillage permettant l'étude par diffraction d'électrons lents (DEL) de surface refroidis à des températures aussi basses que 20 °K et ajustables rapidement dans la gamme 20 °K-150 °K. On met en évidence les difficultés principales à surmonter dans une telle réalisation. On expose les solutions retenues