Multiple controlled random testing

Рассматриваются различные способы формирования управляемых вероятностных тестов и их недостатки. Предлагаются и анализируются различные численные метрики для построения многократных управляемых вероятностных тестов. Обосновывается и подтверждается экспериментальными исследованиями эффективность применения расстояния Евклида для формирования многократных управляемых вероятностных тестов. Various methods for generating controlled random tests and their disadvantages are considered. Various numerical metrics are proposed and analyzed to construct multiple controlled random tests. The effectiveness of applying the Euclidean distance for the formation of multiple controlled random tests is substantiated and confirmed by experimental studies

МНОГОКРАТНОЕ УПРАВЛЯЕМОЕ ВЕРОЯТНОСТНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ

Various methods for generating controlled random tests and their disadvantages are considered. Various numerical metrics are proposed and analyzed to construct multiple controlled random tests. The effectiveness of applying the Euclidean distance for the formation of multiple controlled random tests is substantiated and confirmed by experimental studies.Рассматриваются различные способы формирования управляемых вероятностных тестов и их недостатки. Предлагаются и анализируются различные численные метрики для построения многократных управляемых вероятностных тестов. Обосновывается и подтверждается экспериментальными исследованиями эффективность применения расстояния Евклида для формирования многократных управляемых вероятностных тестов

ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ НА БАЗЕ МНОГОКРАТНЫХ МАРШЕВЫХ ТЕСТОВ

Methods for modern memory devices are analyzed. The validity of using pseudo-exhaustive tests to detect complex memory faults is shown. A necessary condition for generating a pseudo-exhaustive test for a given number of memory cells is formulated. It is shown that the problem of generating a pseudo-exhaustive test based on multiple memory tests with a variable background is reduced to the combinatorial task of the coupon collector. Estimates of the mean, minimum, and maximum multiplicity of a multiple test are given to provide an exhaustive set of combinations for a given number of cells of a memory device. The validity of analytical estimates is shown experimentally and the possibility of pseudo-exhaustive memory testing is confirmed.Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов запоминающих устройств с изменяемым начальным состоянием сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки средней, минимальной и максимальной кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек запоминающего устройства. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается возможность псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств.

МНОГОКРАТНЫЕ УПРАВЛЯЕМЫЕ ВЕРОЯТНОСТНЫЕ ТЕСТЫ

Controlled Random Tests and methods for their generation have been analyzed and investigated. The similarities of all known controlled random testing approaches are shown. A new method and algorithm for Multiple Controlled Random Tests have been proposed and analyzed.Рассматриваются однократные управляемые вероятностные тесты, методы их формирования, а также их применение для тестирования средств вычислительных систем. Показываются основные недостатки построения однократных вероятностных тестов. Предлагается метод построения многократных управляемых вероятностных тестов на базе исходного однократного теста. Анализируются различные численные метрики для построения как однократных, так и многократных управляемых вероятностных тестов

ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ОЗУ

Modern RAM tests and methods for their generation are analyzed and investigated. The wide application of pseudoexhaustive tests as the main test procedure for modern computer systems has been proved. The main estimates and metrics for so kind of tests are obtained. The values of analytical estimates have been validated by the experimental investigations.Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числеоперативных запоминающих устройств (ОЗУ), обосновывается применение псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества запоминающих ячеек ОЗУ. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ, что подтверждает возможность формирования псевдоисчерпывающего теста для заданного числа ячеек ОЗУ

Анализ и синтез маршевых тестов запоминающих устройств

The paper shows the relevance of testing storage devices in modern computing systems. Mathematical models of memory device faults and the efficiency of their detection, in particular, complex pattern sensitive faults of the PNPSFk type, based on classical march memory tests are presented. Limit estimates are given for the completeness of coverage of such faults depending on the number of memory cells involved in the fault. The necessity of synthesis of memory march tests characterized by high efficiency of PNPSFk failure detection is substantiated. The concept of a primitive providing conditions for activation and detection of various types of PNPSFk is defined. Examples of analysis and synthesis of memory march tests with different coverage of PNPSFk faults are given. The March OP memory test is synthesized, which is characterized by the maximum completeness of PNPSFk fault coverage and has the lowest time complexity compared to the known memory march tests, which provide the same comprehensiveness of coverage of complex memory device faults.В статье показывается актуальность тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Представляются математические модели неисправностей запоминающих устройств и эффективность их обнаружения, в частности, сложных кодочувствительных неисправностей типа PNPSFk, на базе классических маршевых тестов. Приводятся предельные оценки полноты покрытия подобных неисправностей в зависимости от количества запоминающих ячеек, участвующих в неисправности. Обосновывается необходимость синтеза маршевых тестов, характеризующихся высокой эффективностью обнаружения PNPSFk неисправностей. Определяется понятие примитива, обеспечивающего условия активизации и обнаружения различных видов PNPSFk. Приводятся примеры анализа и синтеза маршевых тестов, имеющих различную полноту покрытия PNPSFk неисправностей. Синтезируется маршевый тест March OP, характеризующийся максимальной полнотой покрытия неисправностей PNPSFk и имеющий минимальную временную сложность по сравнению с известными маршевыми тестами, обеспечивающими такую же полноту покрытия сложных неисправностей запоминающих устройств.

Применение алмазных разверток для обработки прецизионных отверстий

The problems concerning the improvement of machining accuracy and higher productivity while manufacturing cylinder mirrors of motorcycle engines have been investigated. The paper shows that while using diamond reaming accuracy, roughness and productivity of engine cylinder machining significantly exceed similar parameters of conventional methods.Рассмотрены вопросы повышения точности обработки и производительности при изготовлении зеркала цилиндров двигателей мотоциклов. Показано, что при алмазном развертывании точность, шероховатость и производительность обработки цилиндров двигателей значительно превышает аналогичные параметры традиционно используемых методов

Organization of a decision support system according to technical condition assessment and diagnosing rotor aggregates by vibration parameters

Обоснована актуальность системы поддержки принятия решений по оценке технического состояния оборудования по вибрационным параметрам, как элемента проактивной системы обслуживания механизмов и агрегатов. Рассмотрены составные компоненты такой системы, функции компьютерной программы обработки длинных реализаций вибрационных сигналов, виды решающих функций для оценки технического состояния контролируемого технического объекта. The relevance of the decision support system for assessing the technical condition of equipment by vibration parameters, as an element of a proactive system for servicing mechanisms and assemblies, has been substantiated. The constituent components of such a system, the functions of a computer program for processing long realizations of vibration signals, the types of decisive functions for assessing the technical state of a controlled technical object are considered

Построение и применение маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств

The urgency of the problem of testing storage devices of modern computer systems is shown. The mathematical models of their faults and the methods used for testing the most complex cases by classical march tests are investigated. Passive pattern sensitive faults (PNPSFk) are allocated, in which arbitrary k from N memory cells participate, where k << N, and N is the memory capacity in bits. For these faults, analytical expressions are given for the minimum and maximum fault coverage that is achievable within the march tests. The concept of a primitive is defined, which describes in terms of march test elements the conditions for activation and fault detection of PNPSFk of storage devices. Examples of march tests with maximum fault coverage, as well as march tests with a minimum time complexity equal to 18N are given. The efficiency of a single application of tests such as MATS ++, March C− and March PS is investigated for different number of k ≤ 9 memory cells involved in PNPSFk fault. The applicability of multiple testing with variable address sequences is substantiated, when the use of random sequences of addresses is proposed. Analytical expressions are given for the fault coverage of complex PNPSFk faults depending on the multiplicity of the test. In addition, the estimates of the mean value of the multiplicity of the MATS++, March C− and March PS tests, obtained on the basis of a mathematical model describing the problem of the coupon collector, and ensuring the detection of all k2k PNPSFk faults are given. The validity of analytical estimates is experimentally shown and the high efficiency of PNPSFk fault detection is confirmed by tests of the March PS type.Показывается актуальность задачи тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Исследуются математические модели неисправностей запоминающих устройств и используемые методы тестирования наиболее сложных из них на базе классических маршевых тестов. Выделяются пассивные кодочувствительные неисправности (PNPSFk), в которых участвуют произвольные k из N ячеек памяти, где k << N, а N представляет собой емкость памяти в битах. Для этих неисправностей приводятся аналитические выражения минимальной и максимальной полноты покрытия, которые достижимы в рамках маршевых тестов. Определяется понятие примитива, описывающего в терминах элементов маршевого теста условия активизации и обнаружения неисправностей PNPSFk запоминающих устройств. Приводятся примеры построения маршевых тестов, имеющих максимальную полноту покрытия, а также маршевых тестов с минимальной временной сложностью, равной 18N. Исследуется эффективность однократного применения тестов типа MATS++, March C− и March PS для различного количества k ≤ 9 ячеек памяти, участвующих в неисправности PNPSFk. Обосновывается применимость многократного тестирования с изменяемыми адресными последовательностями, в качестве которых предлагается применять случайные последовательности адресов. Приводятся аналитические выражения для полноты покрытия сложных неисправностей PNPSFk в зависимости от кратности теста. Кроме того, даются оценки среднего значения кратности тестов MATS++, March C− и March PS, полученные на основании математической модели, которая описывает задачу собирателя купонов, и обеспечивающие обнаружение всех k2k неисправностей PNPSFk. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается высокая эффективность обнаружения неисправностей PNPSFk тестами типа March PS

Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств

The urgency of the problem of memory testing of modern computing systems is shown. Mathematical models describing the faulty states of storage devices and the methods used for their detection are investigated. The concept of address sequences (pA) with an even repetition of addresses is introduced, which are the basis of the basic element included in the structure of the new transparent march tests March _pA_1 and March _pA_2. Algorithms for the formation of such sequences and examples of their implementations are given. The maximum diagnostic ability of new tests is shown for the case of the simplest faults, such as constant (SAF) and transition faults (TF), as well as for complex pattern sensitive faults (PNPSFk). There is a significantly lower time complexity of the March_pA_1 and March_pA_2 tests compared to classical transparent tests, which is achieved at the expense of less time spent on obtaining a reference signature. New distance metrics are introduced to quantitatively compare the effectiveness of the applied pA address sequences in a single implementation of the March_pA_1 and March_pA_2 tests. The basis of new metrics is the distance D(A(j), pA) determined by the difference between the indices of repeated addresses A(j) in the sequence pA. The properties of new characteristics of the pA sequences are investigated and their applicability is evaluated for choosing the optimal test pA sequences that ensure the high efficiency of new transparent tests. Examples of calculating distance metrics are given and the dependence of the effectiveness of new tests on the numerical values of the distance metrics is shown. As well as in the case of classical transparent tests, multiple applications of new March_pA_1 and March_pA_2 tests are considered. The characteristic V(pA) is introduced, which is numerically equal to the number of different values of the distance D(A(j), pA) of addresses A(j) of the sequence pA. The validity of analytical estimates is experimentally shown and high efficiency of fault detection by the tests March_pA_1 and March_pA_2 is confirmed by the example of coupling faults for p = 2.Показывается актуальность задачи тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Исследуются математические модели неисправностей этих устройств и используемые методы тестирования наиболее сложных из них на базе классических неразрушающих маршевых тестов. Вводится понятие адресных последовательностей (pA) с четным повторением адресов, которые являются основой базового элемента, входящего в структуру новых неразрушающих маршевых тестов March_pA_1 и March_pA_2. Приводятся алгоритмы формирования подобных последовательностей и примеры их реализации. Показывается максимальная диагностическая способность новых тестов для случая простейших неисправностей, таких как константные (SAF) и переходные (TF), а также сложных кодочувствительных неисправностей (PNPSFk). Отмечается существенно меньшая временная сложность тестов March_pA_1 и March_pA_2 по сравнению с классическими неразрушающими тестами, которая достигается за счет меньших временных затрат на получение эталонной сигнатуры. Вводятся новые метрики расстояния для количественного сравнения эффективности применяемых pA при однократной реализации тестов March_pA_1 и March_pA_2. В основе новых метрик лежит расстояние D(A(j), pA), определяемое разностью индексов повторяющихся адресов A(j) в последовательности pA. Исследуются свойства новых характеристик последовательностей pA и оценивается их применимость для выбора оптимальных тестовых последовательностей pA, обеспечивающих высокую эффективность новых неразрушающих тестов. Приводятся примеры вычисления метрик расстояний и показывается зависимость эффективности новых тестов от численных значений метрик расстояния. Как и в случае классических неразрушающих тестов, рассматривается многократное применение тестов March_pA_1 и March_pA_2. Вводится характеристика V(pA), которая численно равняется количеству отличающихся значений расстояния D(A(j), pA) адресов A(j) последовательности pA. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается высокая эффективность обнаружения неисправностей однократными и многократными тестами типа March_pA_1 и March_pA_2 на примере неисправностей взаимного влияния для p = 2