Resting Regulatory CD4 T Cells: A Site of HIV Persistence in Patients on Long-Term Effective Antiretroviral Therapy

BACKGROUND: In HIV-infected patients on long-term HAART, virus persistence in resting long-lived CD4 T cells is a major barrier to curing the infection. Cell quiescence, by favouring HIV latency, reduces the risk of recognition and cell destruction by cytotoxic lymphocytes. Several cell-activation-based approaches have been proposed to disrupt cell quiescence and then virus latency, but these approaches have not eradicated the virus. CD4+CD25+ regulatory T cells (Tregs) are a CD4+ T-cell subset with particular activation properties. We investigated the role of these cells in virus persistence in patients on long-term HAART. METHODOLOGY/PRINCIPAL FINDINGS: We found evidence of infection of resting Tregs (HLADR(-)CD69(-)CD25(hi)FoxP3+CD4+ T cells) purified from patients on prolonged HAART. HIV DNA harbouring cells appear more abundant in the Treg subset than in non-Tregs. The half-life of the Treg reservoir was estimated at 20 months. Since Tregs from patients on prolonged HAART showed hyporesponsiveness to cell activation and inhibition of HIV-specific cytotoxic T lymphocyte-related functions upon activation, therapeutics targeting cell quiescence to induce virus expression may not be appropriate for purging the Treg reservoir. CONCLUSIONS: Our results identify Tregs as a particular compartment within the latent reservoir that may require a specific approach for its purging

Étude des couches minces et des surfaces par réflexion rasante, spéculaire ou diffuse, de rayons X

Nous savons que les équations de Fresnel appliquées à des dioptres supposés, parfaitement plans et homogènes, ne permettent pas de rendre compte des courbes de réflexion spéculaire fournies par des échantillons massifs ou en couche mince. Nos considérations sur divers processus de diffusion élastique ou inélastique, montrent que seule la diffusion élastique introduite par les irrégularités ou inhomogénéités de surface est importante pour l'analyse de ces courbes. Nous proposons quelques modèles de rugosité et en précisons les domaines de validité aussi bien pour la réflexion spéculaire, que pour la réflexion diffuse (suivant la loi des réseaux). Ces modèles sont comparés avec les courbes expérimentales obtenues sur des échantillons massifs de titane, de silicium et de germanium, avec les rayonnements Kα 1 du cuivre ou du chrome

Caractérisation des surfaces par réflexion rasante de rayons X. Application à l'étude du polissage de quelques verres silicates

La théorie présentée permet d'obtenir une formulation explicite de l'influence des rugosités ainsi que des variations locales de constante diélectrique n2 (dues par exemple à une modification de composition ou de compacité) sur la réflexion rasante d'un faisceau de rayons X monochromatique, dans la mesure où les rugosités relèvent d'une distribution gaussienne et à condition que n2 ne dépende que de la profondeur Z par rapport au plan moyen de la surface éclairée. L'analyse des verres silicatés polis mécaniquement sur polissoir en poix, à l'aide de suspensions aqueuses d'oxydes divers, révèle que la couche de polissage se compose en réalité de deux zones bien distinctes. La première, tout à fait superficielle, l'épaisseur ne dépassant pas quelques dizaines d'angströms, présente une densité toujours inférieure à celle du coeur de l'échantillon et semble imputable au fluage plastique et à l'hydrolyse de la surface pendant le polissage. La seconde, sous-jacente, s'étend au contraire sur plusieurs centaines d'angströms et met en jeu un processus soit de densification (silice pure, alumino-silicate) soit de lacunisation (verres à assez forte teneur en ions alcalins). Nous examinons également l'influence de la durée du polissage, du type d'oxyde utilisé, et (ou) des traitements thermiques effectués après polissage, sur les divers paramètres qui caractérisent ces couches