Emisija kratkovalnog zračenja tijekom udara iona o čvrstu površinu

The possibility of short-wave photon emission during surface scattering of positive ions is investigated by selection of the type of charge-exchange process (one- or two-electron processes), through the calculation of the neutralization probabilities and the charge-transfer cross sections. These probabilities are calculated statically as a function of distance between the incident ion and the surface, and dynamically as a function of the ion velocity. The model is applied to real systems such as He+/semiconductor (silicon and germanium), taking into account the difference in the physical constants of the two systems. We found that emitted photons have short wavelengths, lying in the ultraviolet range of the electromagnetic spectrum of the helium emission spectrum.Istražujemo mogućnost emisije kratkovalnih fotona tijekom udara iona o čvrstu površinu odabirom procesa izmjene naboja (jedno i dvoelektronski procesi) i računanjem vjerojatnosti neutralizacije i udarnog presjeka za prijenos naboja. Te vjerojatnosti računamo statički kao funkcije udaljenosti upadnog iona i površine, i dinamički kao funkcije brzine iona. Model primjenjujemo stvarnim sustavima kao što su poluvodiči silicij i germanij, uzimajući u obzir razlike fizičkih svojstava dvaju sustava. Nalazimo da fotoni imaju kratke valne duljine, u području elektromagnetskog spektra helija