1 research outputs found
Reliability of Die-Level Interconnections
- Author
- AW Adamson
- C Giacomo Di
- C Soret
- CC Huang
- CF Felter
- CG Sherley
- CL Lau
- CM Hsieh
- CW Chen
- D Montgomery
- DP Bouldin
- DS Peck
- E Hart
- EJE Forsyth
- ES Meieran
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- G Giacomo Di
- GJ Gurp Van
- GJ Hans
- H Ewals
- H Weyer
- H Yoo
- HB Huntington
- HB Huntington
- IA Blech
- IA Blech
- J Crank
- JH Matlock
- JTG Overbeck
- KC Norris
- KJ Lodge
- KJ Puttlitz
- KU Snowden
- MC Shine
- ML White
- MS Cole
- N Lycoudes
- P Tobias
- R Berriche
- R Hogg
- R Satoh
- RJ Bird
- RP Merrett
- S Brunauer
- SE Greer
- SK Sen
- SP Sim
- SR Calabro
- TK Hong
- TS May
- Y Adda
- Y Okamoto
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- 01/01/2001
- Field of study
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