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Uma análise da difração de elétrons por um fio delgado de comprimento variado com e sem efeitos de fase Aharonov-Bohm
- Author
- Aguilera-Navarro V.C.
- Aharonov Y.
- Aharonov Y.
- Aharonov Y.
- Allman B.E.
- Allman B.E.
- Alonso M.
- Amaral G.M.
- Anandan J.
- Arndt M.
- Bach R.
- Ballesteros M.
- Barut O.A.
- Barwick B.
- Bassalo J.M.F.
- Bastardo J.L.
- Bayer M.
- Beau M.
- Berry M.V.
- Berry M.V.
- Blanch L.
- Born M.
- Born M.
- Boyer T.H.
- Bradonjić K.
- Bright M.
- Bulirsch R.
- Calbick C.J.
- Carnal O.
- Chambers R.G.
- Chen Q.
- Choi P.
- de Broglie L.
- de Raedt H.
- Dirac P.A.M.
- Donati O.
- Ebbesen T.W.
- Ehrenberg W.
- Feynman R.P.
- Feynman R.P.
- Frabboni S.
- Friedman J.R.
- Ganci S.
- Gerry C.C.
- Gondran M.
- Hangelbroek R.J.
- Haskell R.E.
- Huefner M.
- Jönsson C.
- Jönsson C.
- Kobe D.H.
- Kobe D.H.
- Laughlin R.B.
- Leighton R.B.
- Li L.L.
- Lincoln D.
- Machado K.D.
- Magana-Loaiza O.S.
- Mannheim P.D.
- Meek D.S.
- Merli P.G.
- Mooij J.E.
- Nairz O.
- Nairz O.
- Nussenzveig H.M.
- Olariu S.
- Orlando T.P.
- Orlando T.P.
- Orlando T.P.
- Osakabe N.
- Pancharatnam S.
- Quach J.Q.
- Recher P.
- Reis D.M.
- Rosa R.
- Russo S.
- Sakurai J.J.
- Samuel J.
- Sanz A.S.
- Sawant R.
- Shapiro D.
- Shi H.
- Shimizu F.
- Sinha A.
- Sinha U.
- Sorkin R.D.
- Styer D. F.
- Tipler P.A.
- Tonomura A.
- Tonomura A.
- Tonomura A.
- Umul Y.Z.
- Van der Wal C.H.
- Velentzas A.
- Verma M.
- Walton D.J.
- Walton D.J.
- Webb R.A.
- Wijngaarden A.V.
- Wu T.T.
- Wu X.Y.
- Yabuki H.
- Yanagisawa H.
- You S.
- Zeilinger A.
- Zhu X.
- Publication venue
- 'FapUNIFESP (SciELO)'
- Publication date
- Field of study