Méthode de détection de défauts dans des modules l'électronique de puissance par analyse électromagnétique

National audienceCet article présente une méthodologie originale afin de détecter certains défauts au sein de structures d’électronique de puissance. Cette approche repose sur l’analyse électromagnétique et topologique de la structure de puissance. Elle est appliquée en vue de caractériser des mécanismes de défaillance clairement identifiés. La mise en oeuvre de cette méthodologie est décrite en détails, de la mise en place des modèles Utilisés pour réaliser des simulations prédictives, jusqu’à la comparaison à l’expérimentation. De plus, la validation de la démarche est étayée par son application à un démonstrateur test représentatif des modules de puissance. Enfin, les perspectives que laissent augurer cette méthodologie sont décrites

Chemie ist Leben – (über)lebt die Chemie?

International audienceBrief bibliographical information : The team EMC of LESIA/INSA works on emission and susceptibility of electronic systems in cooperation with numerous firms from several domains including avionics (EADS) and automotive (Motorola, Siemens VDO). The team is a co-author of the standard IEC 62014-3, the organizer of the international conference EMC Compo and participates to the European projects MESDIE and LIMA

Susceptibilité des micro-contrôleurs aux agressions électromagnétiques

La prise en considération des contraintes de la compatibilité électromagnétique (CEM), initialement au niveau des équipements électroniques, se répercute aujourd'hui sur les circuits intégrés : l'objectif de cette étude est de contribuer à la réduction de la susceptibilité des micro-contrôleurs aux perturbations électromagnétiques en utilisant des méthodes de protections logicielles. Nous nous sommes intéressés aux origines de ces perturbations, à leur façon de se coupler au système et à leur propagation jusqu'au niveau du circuit intégré. Nous présentons également les différentes méthodes de mesures permettant de reproduire de tels champs électromagnétiques en laboratoire. La conception, la mise en œuvre et la validation d'un banc de test de susceptibilité reposant sur la méthode de mesure Direct Power Injection (IEC 62132-3) est également détaillée. Une carte de test a été conçue et développée autour d'un micro-contrôleur 16 bit afin de proposer un premier modèle de susceptibilité des composants. De plus, ce moyen de test nous a également permis d'évaluer l'efficacité de protections logicielles aussi bien pour des blocs analogiques que digitaux du micro-contrôleur.Electromagnetic Compatibility (E.M.C.) constraints that are taken into account at equipment level are now impacting integrated circuits: the goal of this study is to contribute to the improvement of the micro-controller immunity against electromagnetic aggressions using defensive software methodology. We investigate the origins of parasitic sources, the coupling mode to the system, and the propagation to the integrated circuit. We present different susceptibility measurement methods to produce such electromagnetic disturbance in a laboratory environment. The design, the test set-up and the validation of a susceptibility work bench using direct power injection (IEC 62132-3) injection. A test vehicle have been design and developed using a 16 bit micro-controller to propose a first integrated circuit immunity model. This test board allowed to evaluate the defensive software effectiveness for analogue and digital functional block of the micro-controller.TOULOUSE-INSA (315552106) / SudocSudocFranceF

Etude du couplage électromagnétique entre circuits intégrés par émulation du perturbateur (application en téléphonie 3G)

TOULOUSE3-BU Sciences (315552104) / SudocSudocFranceF