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    Eine präzise Multilevel-Testbench zur Systemsimulation und Charakterisierung einer 2,5 GHz PLL

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    In diesem Aufsatz wird eine präzise Multilevel-Testbench zur PLL-Charakterisierung vorgestellt. Die Schwerpunkte dieses Beitrags sind einerseits das 10 GHz VCO-Design und andererseits die vorhersagefähigen Ergebnisse der mit Hilfe dieses Multilevelansatzes durchgeführten PLL-Systemsimulationen. <br><br> Bei dem VCO-Design wurden folgende Ergebnisse erreicht: Abstimmbereich ≈26% bzw. kvco≈1300 MHz/V, Phasenrauschen PN=–101,4 dBc/Hz @1 MHz Offset vom 10 GHz Träger, Leistungsverbrauch = 5,5 mW. Als realistisches Demonstrationsbeispiel ist das „analog mixed signal“-Verhalten eines 2,5 GHz PLL-Systems für „dual-conversion“-Strukturen bei IEEE 802.11a WLAN-Anwendungen gewählt worden. Für dieses Beispiel wird eine effiziente PLL-Modellierung kritischer PLL-Blöcke (Frequenzteiler und Phasenfrequenzdetektor) auf der Basis der PSS-Analyse und neuer Verilog-A/MS Befehle demonstriert. Die dabei verwendete Testbench kann im Prinzip in verschiedenen aktuellen Wireless Kommunikationssystemen bis 10 GHz wieder verwendet werden (Reuse-IP). Dieser Ansatz führt einerseits zur Verbesserung der Simulationszeiten (verglichen mit dem Transistorlevel) und andererseits zu genaueren und realistischeren Ergebnissen, vor allem am VCO-Ausgang (verglichen mit dem HDL-Level)

    On the Influence of Thermal Diffusion and Heat Flux on Bipolar Device and Circuit Performance

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    For device models which consider energy transport the modeling of the flux components due to spatially inhomogeneous carrier temperatures is still a con-troversial issue. In this paper the influence of these flux components on device and circuit performance is evaluated by the example of a state of the art bipolar technology using mixed level 2D-device/circuit simulation. 1

    Modeling of impact ionization in short channel devices

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