Lebenssituation und Soziale Sicherung 2005 (LSS 2005) : IAB-Querschnittsbefragung SGB II. Handbuch-Version 1.0.0

"Der Datenreport dokumentiert die IAB Querschnittsbefragung 'Lebenssituation und Soziale Sicherung 2005', die aus zwei Samples besteht (LSS 2005-I und LSS 2005-II)1. Er stellt damit eine Dokumentation des IAB Projekts 'Zusammenlegung von Arbeitslosen- und Sozialhilfe mit Einführung des SGB II: Übergangsmuster, Strukturen und Folgen für die Betroffenen' dar. Auf Grund der Datenlage zum Ziehungszeitpunkt (Januar 2005) - noch nicht abgeschlossene Anbindung der Systeme der sog. optierenden Kommunen an das Datennetzwerk der BA - hat das IAB zwei Erhebungen durchgeführt: LSS 2005-I mit den Daten der Arbeitsgemeinschaften und zu einem etwas späteren Zeitpunkt LSS 2005-II mit den Daten der Kunden der optierenden Kommunen. Beide sind hier in diesem Datenreport dargestellt. Über die Querschnittsbefragung hinaus beinhaltet die Erhebung einen retrospektiven Längsschnitt, welcher in dieser Dokumentation nicht enthalten ist, da er momentan noch aufbereitet wird. Da die Zielgruppe der LSS 2005 die hilfebedürftige Erwerbsfähige im Alter von 15 bis unter 65 Jahren sind, befinden sich in der Grundgesamtheit der Untersuchung auch Minderjährige. Für diese gesondert zu behandelnde Zielgruppe wurde der Fragebogen modifiziert, sowie durch einen Eltern-Fragebogen ergänzt. In Bezug auf die Minderjährigen beschränkt sich der vorliegende Datenreport in seiner Dokumentation auf die in Hauptstudie und modifizierter Variante übereinstimmenden Merkmale. Die Ergebnisse des Eltern-Fragebogens sind nicht enthalten. Der Report ist wie folgt gegliedert: Inhaltliche und methodische Hintergründe der Studie; Abbildung der theoretischen Grundgesamtheit in den Befragungsdaten; Erstellung des Scientific Use Files aus der LSS 2005; Datenaufbereitung: Bereinigungen, Filter und fehlende Werte; Variablenbeschreibung und -verteilung; Anhang." (Autorenreferat, IAB-Doku) Additional Information Hier finden Sie die dazugehörenden Auszählungen.IAB-Querschnittsbefragung, Sozialgesetzbuch II, Datengewinnung, Datenaufbereitung, Datenzugang, Arbeitslosengeld II, Hilfebedürftige

Quantitative Field Emission Imaging for Studying the Doping-Dependent Emission Behavior of Silicon Field Emitter Arrays

Field emitter arrays (FEAs) are a promising component for novel vacuum micro- and nanoelectronic devices, such as microwave power amplifiers or fast-switching X-ray sources. However, the interrelated mechanisms responsible for FEA degradation and failure are not fully understood. Therefore, we present a measurement method for quantitative observation of individual emission sites during integral operation using a low-cost, commercially available CMOS imaging sensor. The emission and degradation behavior of three differently doped FEAs is investigated in current-regulated operation. The measurements reveal that the limited current of the p-doped emitters leads to an activation of up to 55% of the individual tips in the array, while the activation of the n-type FEA stopped at around 30%. This enhanced activation results in a more continuous and uniform current distribution for the p-type FEA. An analysis of the individual emitter characteristics before and after a constant current measurement provides novel perspectives on degradation behavior. A burn-in process that trims the emitting tips to an integral current-specific ideal field enhancement factor is observed. In this process, blunt tips are sharpened while sharp tips are dulled, resulting in homogenization within the FEA. The methodology is described in detail, making it easily adaptable for other groups to apply in the further development of promising FEAs