8 research outputs found
Systematics of chemical structure and schottky barriers at compound semiconductor-metal interfaces
- Publication venue
- 'Elsevier BV'
- Publication date
- Field of study
No full textEffects of environment and heat treatment on an oxygen plasma-treated polyimide surface and its adhesion to a chromium overcoat
- Author
- Publication venue
- 'Brill'
- Publication date
- Field of study
No full textValence band discontinuity of the (0001) 2H-GaN / (111) 3C-SiC interface
- Author
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- Field of study
No full textConduction band offset of strained InGaP by quantum well capacitance-voltage profiling
- Author
- A.D. Katnani
- B. Biswas
- C.G. Walle Van de
- C.P. Kuo
- D. Taupin
- F. Alexandre
- F.H. Pollak
- G.H. Olsen
- H. Asai
- H. Kroemer
- I-H. Tan
- J.W. Matthews
- K. Ozasa
- L.Y. Leu
- Landolt - Bornstein
- M. Razeghi
- M.A. Rao
- M.J. Mondry
- Markarian M.
- O. Watanabe
- P. M. Asbeck
- PKL Yu
- S. H. Park
- S. Tagaki
- S.S. Lu
- T. Kobayashi
- V.Y. Aleshkin
- X. Letartre
- X.S. Jiang
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- Field of study
No full textElectronic Properties of Heterostructures
- Author
- A. Baldereschi
- A. Bonanni
- A. Forchel
- A. Kley
- A. Schliwa
- A. Urbieta
- A. Zunger
- A.-B. Chen
- A.-B. Chen
- A.A. Reeder
- A.D. Katnani
- A.D. Katnani
- A.G. Milnes
- A.T. Gorelenok
- B. Deveaud
- C.G. Walle van de
- C.G. Walle van de
- C.G. Walle van de
- C.G. Walle van de
- C.K. Williams
- D. Bimberg
- D. Fröhlich
- D. Gershoni
- D.C. Reynolds
- E. Kapon
- E. Martinet
- E.T. Yu
- F. Bernardini
- F. Bernardini
- F. Guffarth
- F. Kubacki
- F. Vouilloz
- F. Vouilloz
- F.H. Pollak
- G. Bastard
- G. Dorda
- G. Tränkle
- G.L. Bir
- H. Mathieu
- I. Vurgaftman
- J. Tersoff
- J. Tersoff
- J. Tersoff
- J.A. Vechten Van
- J.E. Bernard
- J.M. Langer
- K. Shahzad
- K. Suzuki
- K.P. O’Donnell
- L. Samuelson
- L. Viña
- L.D. Laude
- M. Grundmann
- M. Scholz
- M. Städele
- M. Suzuki
- N. Kobayashi
- O. Ambacher
- O. Ambacher
- O. Stier
- P. Pfeffer
- P. Vashishta
- P.L. Gourley
- P.Y. Yu
- R. Ambigapathy
- R. Dingle
- R. Dingle
- R. Heitz
- R. Heitz
- R. Nicolini
- R. Pässler
- R.C. Miller
- R.C. Miller
- R.G. Dandrea
- R.G. Dandrea
- R.L. Anderson
- S. Adachi
- S. Adachi
- S. Raymond
- S. Rodt
- S. Rodt
- S. Rodt
- S. Rubini
- S.-H. Wei
- T. Maltezopoulos
- T. Ogawa
- T. Someya
- U.W. Pohl
- U.W. Pohl
- U.W. Pohl
- W. Bludau
- W. Shan
- W.A. Harrison
- W.A. Harrison
- W.R. Frensley
- X.-L. Wang
- Y.P. Varshni
- Z.-G. Wang
- Z.-G. Wang
- Z.-Y. Deng
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- 01/01/2013
- Field of study
No full textCrystal Defects
- Author
- A. Zunger
- A. Zunger
- A.D. Katnani
- A.H. Cottrell
- A.H. Cottrell
- A.H. Smith
- B.L. Sharma
- D. Hull
- D. Mergel
- E. Orowan
- E. Spenke
- E.H. Rhoderick
- E.R. Weber
- F.C. Frank
- F.C. Frank
- F.C. Frank
- F.R.N. Nabarro
- G.I. Taylor
- H. Kraemer
- H.B. Michaelson
- H.K. Henisch
- J. Bourgoin
- J. Friedel
- J. Heydenreich
- J. Weertman
- J.M. Burgers
- J.M. Burgers
- J.P. Hirth
- J.R. Patel
- K. Wessel
- K.W. Böer
- L.C. Kimerling
- L.J. Brillson
- M. Heggie
- M. Kleman
- M. Lannoo
- M. Suezawa
- P.B. Hirsch
- R. Jones
- R. Labusch
- R.L. Anderson
- R.S. Bauer
- V.F. Petrenko
- V.V. Koeder
- W. Hayes
- W. Schottky
- W. Schroter
- W. Shockley
- W.A. Harrison
- W.E. Spicer
- W.L. Bragg
- W.T. Read Jr.
- Yu.A. Osip’yan
- Yu.A. Osip’yan
- Yu.A. Osip’yan
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- 01/01/2013
- Field of study
No full textModeling and Design of a Thin-Film CdTe/Ge Tandem Solar Cell
- Author
- A. Braun
- A. Compaan
- A. Gupta
- A. Morales-Acevedo
- A. Vos
- A.D. Katnani
- C. Ferekides
- C.-Y. Tsao
- C.-Y. Tsao
- D. Goren
- David Pulfrey
- E.D. Palik
- Gilberto A. Umana-Membreno
- H. Hwang
- H. Watakabe
- J. Britt
- J. Fritsche
- J. Heide van der
- J. Tousek
- J. Yang
- J. Zanatta
- J.P. Zanatta
- James Sharp
- John M. Dell
- K.W. Boer
- L. Huang
- Lorenzo Faraone
- M. Chu
- M. Green
- M. Hermle
- M. Shao
- M.V. Kot
- N.E. Posthuma
- R. Bube
- R.K. Ahrenkiel
- S.A. Ringel
- T. Chu
- T.J. Coutts
- V. Palankovski
- V.P. Khvostikov
- Y. Ma
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- Field of study
No full textElectronic Properties of Van Der Waals-Epitaxy Films and Interfaces
- Author
- A. Amokrane
- A. Franciosi
- A. Garcia
- A. Kahn
- A. Klein
- A. Klein
- A. Klein
- A. Koma
- A. Koma
- A. Koma
- A. Koma
- A. Koma
- A. Koëbel
- A. Koëbel
- A. Likforman
- A. Ludviksson
- A. Nagashima
- A. Nagashima
- A. Rettenberger
- A. Schellenberger
- A. Segura
- A. Zunger
- A.A. Chernov
- A.D. Katnani
- A.D. Katnani
- A.F. Wells
- A.L. Wachs
- A.R. Law
- B. Ullrich
- B.A. Parkinson
- C. Scott
- C. Tatsuyama
- C. Tejedor
- C. Weisbuch
- C.A. Papageorgopoulos
- C.A. SĂ©benne in
- C.W.R. Rao
- C.Y. Fong
- D. Fargues
- E. Bauer
- E. Bauer
- E. Bucher
- E. Doni
- E. Schaar-Gabriel
- E.A. Kraut
- E.A. Kraut
- E.T. Yu
- F. Flores
- F. Patthey
- F.S. Ohuchi
- G. Margaritondo
- G. Neuhold
- G. Prasad
- H. Itoh
- H. Nishiwaki
- H. Raether
- H. Reqqass
- J. Martinez-Pastor
- J. Menéndez
- J. Robertson
- J. Tersoff
- J. Tersoff
- J. Tersoff
- J.A. Vechten van
- J.A. Vechten van
- J.A. Wilson
- J.B. Goodenough
- J.E. Ortega
- J.E. Palmer
- J.E. Palmer
- J.E. Palmer
- J.H. Merwe van der
- J.M. Langer
- J.M. Langer
- J.O. McCaldin
- J.Y.F. Tang
- K. Horn
- K. Jacobi
- K. Kobayashi
- K. Kobayashi
- K. Maschke
- K. Ueno
- K. Ueno
- K. Ueno
- K. Wilke
- K.E. Miyano
- K.Y. Liu
- L. E. Rumaner
- L.B. Brahim-Otsmane
- L.F. Mattheis
- L.J. Brillson
- L.T. Vinh
- L.T. Vinh
- M. Alonso
- M. Budiman
- M. Cardona
- M. Giulio Di
- M. Horn-von Hoegen
- M. Kamaratos
- M. Lannoo
- M. SchlĂĽter
- M. Traving
- M.A. Herman
- M.A. Hove Van
- M.A. Mueller
- M.H. Hecht
- M.J. Caldas
- M.L. Bortz
- N. Jedrecy
- N. Kojima
- N. Nakayama
- N.V. Smith
- O. Lang
- O. Lang
- O. Lang
- O. Lang
- O. Lang
- P. Gomes Costa da
- P.K. Larsen
- R. Cimino
- R. Coehoorn
- R. H. Friendt
- R. Hoffmann
- R. Kern
- R. Mamy
- R. Manzke
- R. Paniago
- R. Schlaf
- R. Schlaf
- R. Schlaf
- R. Schlaf
- R. Schlaf
- R. Schlaf
- R. Schlaf
- R. Tenne
- R.C. Tatar
- R.H. Williams
- R.L. Anderson
- R.L. Schwoebel
- R.L. Schwoebel
- R.R. Daniels
- R.W. Grant
- R.W. Grant
- R.W. Grant
- R.W. Grant
- S. HĂĽfner
- S. Kurtin
- S. Kurtin
- S. Kurtin
- S. Tiefenbacher
- S. Tiefenbacher
- S. Tiefenbacher
- S. Tiefenbacher
- S.B. Zhang
- S.G. Louie
- S.M. Sze
- S.W. Hla
- T. Aizawa
- T. Aizawa
- T. Aizawa
- T. Aizawa
- T. Finteis
- T. Ichinokawa
- T. Izumi
- T. Löher
- T. Löher
- T. Löher
- T. Löher
- T. Löher
- T. Löher
- T. Löher
- T. Miller
- T. Mori
- T. Mori
- T. Shimada
- T. Shimada
- T. Shimada
- T. Shimada
- T. Shimada
- T. Shimada
- T. Tambo
- T. Ueno
- T. Valla
- V. Heine
- W. Jaegermann
- W. Jaegermann
- W. Jaegermann
- W. Jaegermann
- W. Jaegermann
- W. Mönch
- W. Mönch
- W. Ranke
- W.A. Harrison
- W.A. Harrison
- W.A. Harrison
- W.A. Harrison
- W.A. Harrison
- W.E. McMahon
- W.E. McMahon
- W.R. Frensley
- W.R. Frensley
- X. Tong
- X. Yu
- X. Zaoui
- Y. Hasegawa
- Y. Hwang
- Y. Zheng
- Y.-C. Ruan
- Publication venue
- 'Springer Science and Business Media LLC'
- Publication date
- 01/01/2002
- Field of study
No full text
