一种多波段噪声开关控制装置

本发明涉及一种多波段噪声控制装置，其包括：时钟转换模块，其将外部输入的正弦波转换为方波信号；以及与所述时钟转换模块连接的同步时序控制模块，其包括：与外部的上位机通信连接的单片机；以及与所述单片机连接的FPGA单元，其具有多个分别与多个外部的不同波段的接收机连接的输出接口。本发明通过采用与外部上位机通信连接的单片机以及具有多个输出接口的FPGA单元，从而可以根据上位机输出的各种指令，控制FPGA选择与待注入噪声的接收机的波段对应的输出接口输出相应的TTL控制电平，从而实现了对不同波段的接收机的噪声注入的控制，并且对于每个波段的接收机均可以满足不同的噪声注入方式的需求

一种Ka频段下变频系统

本实用新型涉及一种Ka频段下变频系统，其包括：一安装本体，其上表面和下表面上分别设有第一腔体和第二腔体；一工作在Ka频段、用于接收射频信号和本振频率的IQ接收机芯片，其通过一射频电路板固定连接在所述第一腔体中；一与所述IQ接收机芯片连接、用于将所述射频信号的射频频率变频至中频频率的中频转换模块，其通过一中频电路板可拆卸地连接在所述第一腔体中；以及与所述IQ接收机芯片和所述中频转换模块连接的供电电路板，其设置在所述第二腔体中。本实用新型可以将射频频率内的所有射频信号无混叠地直接变频至中频频率；本实用新型通过将IQ接收机芯片、中频转换模块和供电电路板集成在同一安装本体中，从而实现了整个系统的小型化

一种基于数字鉴相的频标稳相传输系统A

本发明涉及一种基于数字鉴相的频标稳相传输系统，该系统包括一信号发送装置以及与该信号发送装置连接的信号接收装置，所述信号发送装置包括第一循环器；分频器；以及第一混频器，其将所述参考频标信号与所述第一循环器输出的所述双边带信号进行混频，并通过一第一低通滤波器向一数字鉴相器输出一调制信号，且所述数字鉴相器还通过一环路低通滤波器与所述压控移相器连接；所述信号接收装置包括第二带通滤波器；第二低通滤波器；以及所述第二混频器将所述参考频标信号与所述分频信号进行混频，并依次通过所述第二循环器和第二带通滤波器向所述信号发送装置输出所述双边带信号。本发明避免了在高频段下由于电缆或光缆温度效应所导致的本振相位漂移

一种基于数字鉴相的频标稳相传输系统B

本发明涉及一种基于数字鉴相的频标稳相传输系统，该系统包括一信号发送装置以及与该信号发送装置连接的信号接收装置，所述信号发送装置包括第一循环器；分频器；以及第一混频器，其将所述参考频标信号与所述第一循环器输出的所述双边带信号进行混频，并通过一第一低通滤波器向一数字鉴相器输出一调制信号，且所述数字鉴相器还通过一环路低通滤波器与所述压控移相器连接；所述信号接收装置包括第二带通滤波器；第二低通滤波器；以及所述第二混频器将所述参考频标信号与所述分频信号进行混频，并依次通过所述第二循环器和第二带通滤波器向所述信号发送装置输出所述双边带信号。本发明避免了在高频段下由于电缆或光缆温度效应所导致的本振相位漂移

同轴微带转换器

本实用新型提供一种同轴微带转换器，包括一壳体、一同轴连接器、一带有玻璃珠探针的玻璃珠、以及一MMIC芯片，所述壳体包括一面板；所述玻璃珠嵌入所述面板中；所述同轴连接器连接在所述面板的下表面，并与所述玻璃珠探针的下端相连；所述MMIC芯片设置在所述面板的上表面；其中，所述同轴微带转换器还包括一设置在所述面板上表面并电连接在所述玻璃珠探针与所述MMIC芯片之间的转换电路板。本实用新型的MMIC芯片可以设置在壳体面板上，便于调试和测试

一种测量大型抛物面天线重力变形的方法B

本发明提供一种测量大型抛物面天线重力变形的方法，包括以下步骤：提供参考天线，与被测天线组成甚长基线干涉仪；将参考天线始终对准射电源而被测天线围绕该射电源进行扫描，以使参考天线和被测天线分别接收该射电源发射的射电源信号；对被测天线和参考天线接收的两路射电源信号进行信号处理，以得到被测天线的口径场相位；当被测天线的俯仰角每转动预定角度时，重复执行一次前述步骤，以得到被测天线在相应俯仰角下的口径场相位，该口径场相位为主面精度对应的口径场相位；得到被测天线的副面位置偏移量随俯仰角的变化；得到被测天线的主面面形偏差随俯仰角的变化。本发明能够精确测量天线主面面形偏差和副面位置偏移分别随天线俯仰角的变化

一种测量大型抛物面天线重力变形的方法A

本发明提供一种测量大型抛物面天线重力变形的方法，包括以下步骤：提供参考天线，与被测天线组成甚长基线干涉仪；将参考天线始终对准射电源而被测天线围绕该射电源进行扫描，以使参考天线和被测天线分别接收该射电源发射的射电源信号；对被测天线和参考天线接收的两路射电源信号进行信号处理，以得到被测天线的口径场相位；当被测天线的俯仰角每转动预定角度时，重复执行一次前述步骤，以得到被测天线在相应俯仰角下的口径场相位，该口径场相位为主面精度对应的口径场相位；得到被测天线的副面位置偏移量随俯仰角的变化；得到被测天线的主面面形偏差随俯仰角的变化。本发明能够精确测量天线主面面形偏差和副面位置偏移分别随天线俯仰角的变化