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Zn_(0.83)Mn_(0.17)Se和ZnSe/Zn_(0.84)Mn_(0.16)Se超晶格材料中Mn~(2+)的压力光谱研究
采用压力光谱技术在低温下观测到了Mn~(2+)离子的4 T1→6 A1跃迁,该谱线在Zn_(0.83)Mn_(0.17)Se和ZnSe/Zn_(0.84)Mn_(0.16)Se超晶格样品中有不同的压力行为,体材料中其压力系数为-42.4peV/Pa,超晶格中为-29.5peV/Pa。用晶体场理论计算得到体材料Zn_(0.83)Mn_(0.17)Se中Mn~(2+)离子4 T1→6 A1谱线的压力系数为-38.3peV/Pa,与实验结果基本一致。结合材料中发光峰积分强度随压力的变化关系进行分析,证实Mn~(2+)离子的发光性质主要与其近邻的晶体场环境有关
用硅离子注入SiO_2层方法制备的纳米硅的光学性质
报道了用硅离子注入热氧化生长的SiO_2层后热退火的方法制备纳米硅样品,并在室温下测量了样品的光致发光谱及其退火温度的关系。实验结果表明,在800℃以下退火的样品的发光是由于离子注入而引入SiO_2层的缺陷发光,在900℃以上退火,才观察到纳米硅的发光,在1100℃下退火,纳米硅发光达到最强,纳米硅的发光峰随退火温度升高而红移呈量子尺寸效应。在直角散射配置下,首次观察到纳米硅的特征拉曼散射峰,进一步证实了光致发光谱的结果
不同尺寸ZnS:Mn纳米粒子的静压光致发光研究
测量了ZnS:Mn纳米粒子以及相应体材料在不同压力下的光致发光谱.随压力增大,来源于Mn2+离子的4T1-6A1跃迁的桔黄色发光明显红移.体材料和10,4.5,3.5,3 nm的ZnS:Mn纳米粒子中Mn2+发光的压力系数分别是-29.4±0.3和-30.1±0.3,-33.3±0.6,-34.6±0.8,-39±1 meV/GPa,压力系数的绝对值随粒子尺寸减小而增大,该种尺寸关系由晶体场场强Dq和Racah参数B值的尺寸依赖性引起.1nm样品的Mn2+发光的特殊压力行为是因为样品的粒子尺寸比较小,另外,分布在Y型沸石中的纳米粒子的表面状况也不同于其它样品
生长在尖晶石衬底上的GaN外延层的喇曼散射研究
在室温下测量了用MOVPE方法生长在尖晶石(MgAl_2O_4)衬底上的GaN外延层的一阶喇曼光谱。应用各种背散射和90°散射配置,测得了除低频E_2模外所有GaN的喇曼活性光学声子模。并且在X(Z,X)Z和X(Y,Y)Z配置下观测到了由A_1和E_2模混合形成的准TO和准LO模。所得结果与群论选择定则预计的一致
纳米硅薄膜光学性质的测定与研究
通过测定纳米硅薄膜的透射谱,建立计算模型计算得出薄膜样品的折射率、厚度、吸收系数和光能隙.计算结果表明这种半导体材料在620 nm波长附近的折射率约为3.4,计算得到的厚度与用台阶仪测量的结果吻合很好.在620 nm波长附近的吸收系数介于吸收系数较小的晶体硅与吸收系数较大的非晶硅之间,光能隙约为1.6 eV,两者都随晶态含量增大而呈减小趋势
