204 research outputs found

    Running Shoe Pedometer

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    Running shoe pedometer aims to solve the issue of worn out running shoes. It can be difficult to know just how many miles you have run in your shoes and when a new pair is needed. Running in old shoes and worn out shoes is heavily linked to injury. My proposed project is a device that is powered by the compressive forces on the shoes soles that counts the number of steps the wearer takes using a microcontroller. Then, when the shoe reaches milestone that indicate it has been used 75% 90% and 100% of its expected life, it will output the information to the user. In order to output the wear life of the shoes to the user, a series of color changing chemical reactions will be used. These reactions will most likely be acid/base with some type of indicator or an electrochromic material. These color changes will allow the user to see that their shoes are worn out. The device should be extremely low cost so that it can be built into a running shoe and disposed of when the shoe is worn out

    Low Power Memory/Memristor Devices and Systems

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    This reprint focusses on achieving low-power computation using memristive devices. The topic was designed as a convenient reference point: it contains a mix of techniques starting from the fundamental manufacturing of memristive devices all the way to applications such as physically unclonable functions, and also covers perspectives on, e.g., in-memory computing, which is inextricably linked with emerging memory devices such as memristors. Finally, the reprint contains a few articles representing how other communities (from typical CMOS design to photonics) are fighting on their own fronts in the quest towards low-power computation, as a comparison with the memristor literature. We hope that readers will enjoy discovering the articles within

    Approximate hardening techniques for digital signal processing circuits against radiation-induced faults

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    RESUMEN NO TÉCNICO. Se llama radiación al proceso por el cual una partícula o una onda es capaz de transmitir energía a través del espacio o un medio material. Si la energía transmitida es suficientemente alta, la radiación puede provocar que algunos electrones se desplacen de su posición, en un proceso llamado ionización. La radiación ionizante puede provocar problemas a los seres vivos, pero también a los diversos materiales que componen los sistemas eléctricos y electrónicos utilizados en entornos sujetos a radiación. Existen en La Tierra varios procesos que emiten radiación ionizante, como la obtención de energía en centrales nucleares o ciertos procedimientos médicos. Sin embargo, las fuentes de radiación más importantes se sitúan más allá de nuestra atmósfera y afectan fundamentalmente a sistemas aeroespaciales y vuelos de gran altitud. Debido a la radiación, los sistemas electrónicos que se exponen a cualquiera de estas fuentes sufren degradación en sus propiedades a lo largo del tiempo y pueden sufrir fallos catastróficos que acorten su vida útil. El envejecimiento de los componentes se produce por acumulación de carga eléctrica en el material, lo que se conoce como Dosis Ionizante Total (TID por sus siglas en inglés), o por distorsiones en el silicio sobre el que se fabrican los circuitos, lo que se conoce como Daño por Desplazamiento (DD). Una única partícula ionizante puede, sin embargo, provocar también diversos tipos de fallos transitorios o permanentes en los componentes de un circuito, generalmente por un cambio de estado en un elemento de memoria o fallos destructivos en un transistor. Los diferentes tipos de fallos producidos en circuitos por la acción de una única partícula ionizante se engloban en la categoría de Efectos de Evento Único (SEE por sus siglas en inglés). Para proteger los sistemas electrónicos frente a los efectos de la radiación se suele recurrir a un conjunto de técnicas que llamamos endurecimiento frente a radiación. Los procedimientos tradicionales de endurecimiento han consistido en la fabricación de componentes electrónicos mediante procesos especiales que les confieran una resistencia inherente frente a la TID, el DD y los SEE. A este conjunto de técnicas de endurecimiento se lo conoce como Endurecimiento frente a la Radiación Por Proceso (RHBP por sus siglas en inglés). Estos procedimientos suelen aumentar el coste de los componentes y empeorar su rendimiento con respecto a los componentes que usamos en nuestros sistemas electrónicos cotidianos. En oposición a las técnicas RHBP encontramos las técnicas de Endurecimiento frente a la Radiación Por Diseño (RHBD por sus siglas en inglés). Estas técnicas permiten detectar y tratar de corregir fallos producidos por la radiación introduciendo modificaciones en los circuitos. Estas modificaciones suelen aumentar la complejidad de los circuitos que se quiere endurecer, haciendo que consuman más energía, ocupen más espacio o funcionen a menor frecuencia, pero estas desventajas se pueden compensar con la disminución de los costes de fabricación y la mejora en las prestaciones que aportan los sistemas modernos. En un intento por reducir el coste de las misiones espaciales y mejorar sus capacidades, en los últimos años se trata de introducir un mayor número de Componentes Comerciales (COTS por sus siglas en inglés), endurecidos mediante técnicas RHBD. Las técnicas RHBD habituales se basan en la adición de elementos redundantes idénticos al original, cuyos resultados se pueden comparar entre sí para obtener información acerca de la existencia de un error (si sólo se usa un circuito redundante, Duplicación Con Comparación [DWC]) o llegar incluso a corregir un error detectado de manera automática, si se emplean dos o más réplicas redundantes, siendo el caso más habitual la Redundancia Modular Triple (TMR) en todas sus variantes. El trabajo desarrollado en esta Tesis gira en torno a las técnicas de endurecimiento RHBD de sistemas electrónicos comerciales. En concreto, se trata de proponer y caracterizar nuevas técnicas de endurecimiento que permitan reducir el alto consumo de recursos de las utilizadas habitualmente. Para ello, se han desarrollado técnicas de endurecimiento que aprovechan cálculos aproximados para detectar y corregir fallos en circuitos electrónicos digitales para procesamiento de señal implementados en FPGA comerciales, dispositivos que permiten implementar circuitos electrónicos digitales a medida y reconfigurarlos tantas veces como se quiera. A lo largo de esta Tesis se han desarrollado diferentes circuitos de prueba endurecidos mediante TMR y se ha comparado su rendimiento con los de otras técnicas de Redundancia Aproximada, en concreto la Redundancia de Precisión Reducida (RPR), la Redundancia de Resolución Reducida (RRR) y la Redundancia Optimizada para Algoritmos Compuestos (ORCA): • La Redundancia de Precisión Reducida se basa en la utilización de dos réplicas redundantes que calculan resultados con un menor número de bits que el circuito original. De este modo se pueden disminuir los recursos necesitados por el circuito, aunque las correcciones en caso de fallo son menos precisas que en el TMR. En este trabajo exploramos también la RPR Escalada como un método de obtener un balance óptimo entre la precisión y el consumo de recursos. • La Redundancia de Resolución Reducida es una técnica propuesta originalmente en esta tesis. Está pensada para algoritmos que trabajan con información en forma de paquetes cuyos datos individuales guardan alguna relación entre sí. Las réplicas redundantes calculan los resultados con una fracción de los datos de entrada originales, lo que reduce su tamaño y permite correcciones aproximadas en caso de fallo. • La Redundancia Optimizada para Algoritmos Compuestos es también una aportación original de esta tesis. Está indicada para algoritmos cuyo resultado final puede expresarse como la composición de resultados intermedios calculados en etapas anteriores. Las réplicas redundantes se forman como bloques que calculan resultados intermedios y el resultado de su composición se puede comparar con el resultado original. Este método permite reducir recursos y proporciona resultados de corrección exactos en la mayor parte de los casos, lo que supone una mejora importante con respecto a las correcciones de los métodos anteriores. La eficacia de las técnicas de endurecimiento desarrolladas se ha probado mediante experimentos de inyección de fallos y mediante ensayos en instalaciones de aceleradores de partículas preparadas para la irradiación de dispositivos electrónicos. En concreto, se han realizado ensayos de radiación con protones en el Centro Nacional de Aceleradores (CNA España), el Paul Scherrer Institut (PSI, Suiza) y ensayos de radiación con neutrones en el laboratorio ISIS Neutron and Muon Source (ChipIR, Reino Unido).RESUMEN TÉCNICO. Se llama radiación al proceso por el cual una partícula o una onda es capaz de transmitir energía a través del espacio o un medio material. Si la energía transmitida es suficientemente alta, la radiación puede provocar que algunos electrones se desplacen de su posición, en un proceso llamado ionización. La radiación ionizante puede provocar problemas a los seres vivos, pero también a los diversos materiales que componen los sistemas eléctricos y electrónicos utilizados en entornos sujetos a radiación. Existen en La Tierra varios procesos que emiten radiación ionizante, como la obtención de energía en centrales nucleares o ciertos procedimientos médicos. Sin embargo, las fuentes de radiación más importantes se sitúan más allá de nuestra atmósfera y afectan fundamentalmente a sistemas aeroespaciales y vuelos de gran altitud. Debido a la radiación, los sistemas electrónicos que se exponen a cualquiera de estas fuentes sufren degradación en sus propiedades a lo largo del tiempo y pueden sufrir fallos catastróficos que acorten su vida útil. El envejecimiento de los componentes se produce por acumulación de carga eléctrica en el material, lo que se conoce como Dosis Ionizante Total (TID, Total Ionizing Dose), o por distorsiones acumuladas en la matriz cristalina del silicio en el que se fabrican los circuitos, lo que se conoce como Daño por Desplazamiento (DD, Displacement Damage). Una única partícula ionizante puede, sin embargo, provocar también diversos tipos de fallos transitorios o permanentes en los componentes de un circuito, generalmente por un cambio de estado en un elemento de memoria o la activación de circuitos parasitarios en un transistor. Los diferentes tipos de fallos producidos en circuitos por la acción de una única partícula ionizante se engloban en la categoría de Efectos de Evento Único (SEE, Single Event Effects). Para proteger los sistemas electrónicos frente a los efectos de la radiación se suele recurrir a un conjunto de técnicas que llamamos endurecimiento frente a radiación. Los procedimientos tradicionales de endurecimiento han consistido en la fabricación de componentes electrónicos mediante procesos especiales que les confieran una resistencia inherente frente a la TID, el DD y los SEE. A este conjunto de técnicas de endurecimiento se lo conoce como Endurecimiento frente a la Radiación Por Proceso (RHBP, por sus siglas en inglés). Estos procedimientos suelen aumentar el coste de los componentes y empeorar su rendimiento con respecto a los componentes que usamos en nuestros sistemas electrónicos cotidianos. En oposición a las técnicas RHBP encontramos las técnicas de Endurecimiento frente a la Radiación Por Diseño (RHBD, por sus siglas en inglés). Estas técnicas permiten detectar y tratar de corregir fallos producidos por la radiación introduciendo modificaciones en los circuitos. Estas modificaciones suelen aumentar la complejidad de los circuitos que se quiere endurecer, haciendo que consuman más energía, ocupen más espacio o funcionen a menor frecuencia, pero estas desventajas se pueden compensar con la disminución de los costes de fabricación y la mejora en las prestaciones que aportan los sistemas modernos. En un intento por reducir el coste de las misiones espaciales y mejorar sus capacidades, en los últimos años se trata de introducir un mayor número de Componentes Comerciales (COTS, por sus siglas en inglés), endurecidos mediante técnicas RHBD. Las técnicas RHBD habituales se basan en la adición de elementos redundantes idénticos al original, cuyos resultados se pueden comparar entre sí para obtener información acerca de la existencia de un error (si sólo se usa un circuito redundante, Duplicación Con Comparación [DWC, Duplication With Comparison]) o llegar incluso a corregir un error detectado de manera automática, si se emplean dos o más réplicas redundantes, siendo el caso más habitual la Redundancia Modular Triple (TMR, Triple Modular Redundancy) en todas sus variantes. El trabajo desarrollado en esta Tesis gira en torno a las técnicas de endurecimiento RHBD de sistemas electrónicos comerciales. En concreto, se trata de proponer y caracterizar nuevas técnicas de endurecimiento que permitan reducir el alto consumo de recursos de las técnicas utilizadas habitualmente. Para ello, se han desarrollado técnicas de endurecimiento que aprovechan cálculos aproximados para detectar y corregir fallos en circuitos electrónicos digitales para procesamiento de señal implementados en FPGA (Field Programmable Gate Array) comerciales. Las FPGA son dispositivos que permiten implementar circuitos electrónicos digitales diseñados a medida y reconfigurarlos tantas veces como se quiera. Su capacidad de reconfiguración y sus altas prestaciones las convierten en dispositivos muy interesantes para aplicaciones espaciales, donde realizar cambios en los diseños no suele ser posible una vez comenzada la misión. La reconfigurabilidad de las FPGA permite corregir en remoto posibles problemas en el diseño, pero también añadir o modificar funcionalidades a los circuitos implementados en el sistema. La eficacia de las técnicas de endurecimiento desarrolladas e implementadas en FPGAs se ha probado mediante experimentos de inyección de fallos y mediante ensayos en instalaciones de aceleradores de partículas preparadas para la irradiación de dispositivos electrónicos. Los ensayos de radiación son el estándar industrial para probar el comportamiento de todos los sistemas electrónicos que se envían a una misión espacial. Con estos ensayos se trata de emular de manera acelerada las condiciones de radiación a las que se verán sometidos los sistemas una vez hayan sido lanzados y determinar su resistencia a TID, DD y/o SEEs. Dependiendo del efecto que se quiera observar, las partículas elegidas para la radiación varían, pudiendo elegirse entre electrones, neutrones, protones, iones pesados, fotones... Particularmente, los ensayos de radiación realizados en este trabajo, tratándose de un estudio de técnicas de endurecimiento para sistemas electrónicos digitales, están destinados a establecer la sensibilidad de los circuitos estudiados frente a un tipo de SEE conocido como Single Event Upset (SEU), en el que la radiación modifica el valor lógico de un elemento de memoria. Para ello, hemos recurrido a experimentos de radiación con protones en el Centro Nacional de Aceleradores (CNA, España), el Paul Scherrer Institut (PSI, Suiza) y experimentos de radiación con neutrones en el laboratorio ISIS Neutron and Muon Source (ChipIR, Reino Unido). La sensibilidad de un circuito suele medirse en términos de su sección eficaz (cross section) con respecto a una partícula determinada, calculada como el cociente entre el número de fallos encontrados y el número de partículas ionizantes por unidad de área utilizadas en la campaña de radiación. Esta métrica sirve para estimar el número de fallos que provocará la radiación a lo largo de la vida útil del sistema, pero también para establecer comparaciones que permitan conocer la eficacia de los sistemas de endurecimiento implementados y ayudar a mejorarlos. El método de inyección de fallos utilizado en esta Tesis como complemento a la radiación se basa en modificar el valor lógico de los datos almacenados en la memoria de configuración de la FPGA. En esta memoria se guarda la descripción del funcionamiento del circuito implementado en la FPGA, por lo que modificar sus valores equivale a modificar el circuito. En FPGAs que utilizan la tecnología SRAM en sus memorias de configuración, como las utilizadas en esta Tesis, este es el componente más sensible a la radiación, por lo que es posible comparar los resultados de la inyección de fallos y de las campañas de radiación. Análogamente a la sección eficaz, en experimentos de inyección de fallos podemos hablar de la tasa de error, calculada como el cociente entre el número de fallos encontrados y la cantidad de bits de memoria inyectados. A lo largo de esta Tesis se han desarrollado diferentes circuitos endurecidos mediante Redundancia Modular Triple y se ha comparado su rendimiento con los de otras técnicas de Redundancia Aproximada, en concreto la Redundancia de Precisión Reducida (RPR), la Redundancia de Resolución Reducida (RRR) y la Redundancia Optimizada para Algoritmos Compuestos (ORCA). Estas dos últimas son contribuciones originales presentadas en esta Tesis. • La Redundancia de Precisión Reducida se basa en la utilización de dos réplicas redundantes que calculan resultados con un menor número de bits que el circuito original. Para cada dato de salida se comparan el resultado del circuito original y los dos resultados de precisión reducida. Si los dos resultados de precisión reducida son idénticos y su diferencia con el resultado de precisión completa es mayor que un determinado valor umbral, se considera que existe un fallo en el circuito original y se utiliza el resultado de precisión reducida para corregirlo. En cualquier otro caso, el resultado original se considera correcto, aunque pueda contener errores tolerables por debajo del umbral de comparación. En comparación con un circuito endurecido con TMR, los diseños RPR utilizan menos recursos, debido a la reducción en la precisión de los cálculos de los circuitos redundantes. No obstante, esto también afecta a la calidad de los resultados obtenidos cuando se corrige un error. En este trabajo exploramos también la RPR Escalada como un método de obtener un balance óptimo entre la precisión y el consumo de recursos. En esta variante de la técnica RPR, los resultados de cada etapa de cálculo en los circuitos redundantes tienen una precisión diferente, incrementándose hacia las últimas etapas, en las que el resultado tiene la misma precisión que el circuito original. Con este método se logra incrementar la calidad de los datos corregidos a la vez que se reducen los recursos utilizados por el endurecimiento. Los resultados de las campañas de radiación y de inyección de fallos realizadas sobre los diseños endurecidos con RPR sugieren que la reducción de recursos no sólo es beneficiosa por sí misma en términos de recursos y energía utilizados por el sistema, sino que también conlleva una reducción de la sensibilidad de los circuitos, medida tanto en cross section como en tasa de error. • La Redundancia de Resolución Reducida es una técnica propuesta originalmente en esta tesis. Está indicada para algoritmos que trabajan con información en forma de paquetes cuyos datos individuales guardan alguna relación entre sí, como puede ser un algoritmo de procesamiento de imágenes. En la técnica RRR, se añaden dos circuitos redundantes que calculan los resultados con una fracción de los datos de entrada originales. Tras el cálculo, los resultados diezmados pueden interpolarse para obtener un resultado aproximado del mismo tamaño que el resultado del circuito original. Una vez interpolados, los resultados de los tres circuitos pueden ser comparados para detectar y corregir fallos de una manera similar a la que se utiliza en la técnica RPR. Aprovechando las características del diseño hardware, la disminución de la cantidad de datos que procesan los circuitos de Resolución Reducida puede traducirse en una disminución de recursos, en lugar de una disminución de tiempo de cálculo. De esta manera, la técnica RRR es capaz de reducir el consumo de recursos en comparación a los que se necesitarían si se utilizase un endurecimiento TMR. Los resultados de los experimentos realizados en diseños endurecidos mediante Redundancia de Resolución Reducida sugieren que la técnica es eficaz en reducir los recursos utilizados y, al igual que pasaba en el caso de la Redundancia de Precisión Reducida, también su sensibilidad se ve reducida, comparada con la sensibilidad del mismo circuito endurecido con Redundancia Modular Triple. Además, se observa una reducción notable de la sensibilidad de los circuitos frente a errores no corregibles, comparado con el mismo resultado en TMR y RPR. Este tipo de error engloba aquellos producidos por fallos en la lógica de comparación y votación o aquellos en los que un único SEU produce fallos en los resultados de dos o más de los circuitos redundantes al mismo tiempo, lo que se conoce como Fallo en Modo Común (CMF). No obstante, también se observa que la calidad de las correcciones realizadas utilizando este método empeora ligeramente. • La Redundancia Optimizada para Algoritmos Compuestos es también una aportación original de esta tesis. Está indicada para algoritmos cuyo resultado final puede expresarse como la composición de resultados intermedios calculados en etapas anteriores. Para endurecer un circuito usando esta técnica, se añaden dos circuitos redundantes diferentes entre sí y que procesan cada uno una parte diferente del conjunto de datos de entrada. Cada uno de estos circuitos aproximados calcula un resultado intermedio. La composición de los dos resultados intermedios da un resultado idéntico al del circuito original en ausencia de fallos. La detección de fallos se realiza comparando el resultado del circuito original con el de la composición de los circuitos aproximados. En caso de ser diferentes, se puede determinar el origen del fallo comparando los resultados aproximados intermedios frente a un umbral. Si la diferencia entre los resultados intermedios supera el umbral, significa que el fallo se ha producido en uno de los circuitos aproximados y que el resultado de la composición no debe ser utilizado en la salida. Al igual que ocurre en la Redundancia de Precisión Reducida y la Redundancia de Resolución Reducida, utilizar un umbral de comparación implica la existencia de errores tolerables. No obstante, esta técnica de endurecimiento permite realizar correcciones exactas, en lugar de aproximadas, en la mayor parte de los casos, lo que mejora la calidad de los resultados con respecto a otras técnicas de endurecimiento aproximadas, al tiempo que reduce los recursos utilizados por el sistema endurecido en comparación con las técnicas tradicionales. Los resultados de los experimentos realizados con diseños endurecidos mediante Redundancia Optimizada para Algoritmos Compuestos confirman que esta técnica de endurecimiento es capaz de producir correcciones exactas en un alto porcentaje de los eventos. Su sensibilidad frente a todo tipo de errores y frente a errores no corregibles también se ve disminuida, comparada con la obtenida con Redundancia Modular Triple. Los resultados presentados en esta Tesis respaldan la idea de que las técnicas de Redundancia Aproximada son alternativas viables a las técnicas de endurecimiento frente a la radiación habituales, siempre que

    Design and Code Optimization for Systems with Next-generation Racetrack Memories

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    With the rise of computationally expensive application domains such as machine learning, genomics, and fluids simulation, the quest for performance and energy-efficient computing has gained unprecedented momentum. The significant increase in computing and memory devices in modern systems has resulted in an unsustainable surge in energy consumption, a substantial portion of which is attributed to the memory system. The scaling of conventional memory technologies and their suitability for the next-generation system is also questionable. This has led to the emergence and rise of nonvolatile memory ( NVM ) technologies. Today, in different development stages, several NVM technologies are competing for their rapid access to the market. Racetrack memory ( RTM ) is one such nonvolatile memory technology that promises SRAM -comparable latency, reduced energy consumption, and unprecedented density compared to other technologies. However, racetrack memory ( RTM ) is sequential in nature, i.e., data in an RTM cell needs to be shifted to an access port before it can be accessed. These shift operations incur performance and energy penalties. An ideal RTM , requiring at most one shift per access, can easily outperform SRAM . However, in the worst-cast shifting scenario, RTM can be an order of magnitude slower than SRAM . This thesis presents an overview of the RTM device physics, its evolution, strengths and challenges, and its application in the memory subsystem. We develop tools that allow the programmability and modeling of RTM -based systems. For shifts minimization, we propose a set of techniques including optimal, near-optimal, and evolutionary algorithms for efficient scalar and instruction placement in RTMs . For array accesses, we explore schedule and layout transformations that eliminate the longer overhead shifts in RTMs . We present an automatic compilation framework that analyzes static control flow programs and transforms the loop traversal order and memory layout to maximize accesses to consecutive RTM locations and minimize shifts. We develop a simulation framework called RTSim that models various RTM parameters and enables accurate architectural level simulation. Finally, to demonstrate the RTM potential in non-Von-Neumann in-memory computing paradigms, we exploit its device attributes to implement logic and arithmetic operations. As a concrete use-case, we implement an entire hyperdimensional computing framework in RTM to accelerate the language recognition problem. Our evaluation shows considerable performance and energy improvements compared to conventional Von-Neumann models and state-of-the-art accelerators

    Applications in Electronics Pervading Industry, Environment and Society

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    This book features the manuscripts accepted for the Special Issue “Applications in Electronics Pervading Industry, Environment and Society—Sensing Systems and Pervasive Intelligence” of the MDPI journal Sensors. Most of the papers come from a selection of the best papers of the 2019 edition of the “Applications in Electronics Pervading Industry, Environment and Society” (APPLEPIES) Conference, which was held in November 2019. All these papers have been significantly enhanced with novel experimental results. The papers give an overview of the trends in research and development activities concerning the pervasive application of electronics in industry, the environment, and society. The focus of these papers is on cyber physical systems (CPS), with research proposals for new sensor acquisition and ADC (analog to digital converter) methods, high-speed communication systems, cybersecurity, big data management, and data processing including emerging machine learning techniques. Physical implementation aspects are discussed as well as the trade-off found between functional performance and hardware/system costs

    Phase Noise Analyses and Measurements in the Hybrid Memristor-CMOS Phase-Locked Loop Design and Devices Beyond Bulk CMOS

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    Phase-locked loop (PLLs) has been widely used in analog or mixed-signal integrated circuits. Since there is an increasing market for low noise and high speed devices, PLLs are being employed in communications. In this dissertation, we investigated phase noise, tuning range, jitter, and power performances in different architectures of PLL designs. More energy efficient devices such as memristor, graphene, transition metal di-chalcogenide (TMDC) materials and their respective transistors are introduced in the design phase-locked loop. Subsequently, we modeled phase noise of a CMOS phase-locked loop from the superposition of noises from its building blocks which comprises of a voltage-controlled oscillator, loop filter, frequency divider, phase-frequency detector, and the auxiliary input reference clock. Similarly, a linear time-invariant model that has additive noise sources in frequency domain is used to analyze the phase noise. The modeled phase noise results are further compared with the corresponding phase-locked loop designs in different n-well CMOS processes. With the scaling of CMOS technology and the increase of the electrical field, the problem of short channel effects (SCE) has become dominant, which causes decay in subthreshold slope (SS) and positive and negative shifts in the threshold voltages of nMOS and pMOS transistors, respectively. Various devices are proposed to continue extending Moore\u27s law and the roadmap in semiconductor industry. We employed tunnel field effect transistor owing to its better performance in terms of SS, leakage current, power consumption etc. Applying an appropriate bias voltage to the gate-source region of TFET causes the valence band to align with the conduction band and injecting the charge carriers. Similarly, under reverse bias, the two bands are misaligned and there is no injection of carriers. We implemented graphene TFET and MoS2 in PLL design and the results show improvements in phase noise, jitter, tuning range, and frequency of operation. In addition, the power consumption is greatly reduced due to the low supply voltage of tunnel field effect transistor

    Microarchitectures pour la sauvegarde incrémentale, robuste et efficace dans les systèmes à alimentation intermittente

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    Embedded devices powered with environmental energy harvesting, have to sustain computation while experiencing unexpected power failures.To preserve the progress across the power interruptions, Non-Volatile Memories (NVMs) are used to quickly save the state. This dissertation first presents an overview and comparison of different NVM technologies, based on different surveys from the literature. The second contribution we propose is a dedicated backup controller, called Freezer, that implements an on-demand incremental backup scheme. This can make the size of the backup 87.7% smaller then a full-memory backup strategy from the state of the art (SoA). Our third contribution addresses the problem of corruption of the state, due to interruptions during the backup process. Two algorithms are presented, that improve on the Freezer incremental backup process, making it robust to errors, by always guaranteeing the existence of a correct state, that can be restored in case of backup errors. These two algorithms can consume 23% less energy than the usual double-buffering technique used in the SoA. The fourth contribution, addresses the scalability of our proposed approach. Combining Freezer with Bloom filters, we introduce a backup scheme that can cover much larger address spaces, while achieving a backup size which is half the size of the regular Freezer approach.Les appareils embarqués alimentés par la récupération d'énergie environnementale doivent maintenir le calcul tout en subissant des pannes de courant inattendues. Pour préserver la progression à travers les interruptions de courant, des mémoires non volatiles (NVM) sont utilisées pour enregistrer rapidement l'état. Cette thèse présente d'abord une vue d'ensemble et une comparaison des différentes technologies NVM, basées sur différentes enquêtes de la littérature. La deuxième contribution que nous proposons est un contrôleur de sauvegarde dédié, appelé Freezer, qui implémente un schéma de sauvegarde incrémentale à la demande. Cela peut réduire la taille de la sauvegarde de 87,7% à celle d'une stratégie de sauvegarde à mémoire complète de l'état de l'art. Notre troisième contribution aborde le problème de la corruption de l'état, due aux interruptions pendant le processus de sauvegarde. Deux algorithmes sont présentés, qui améliorent le processus de sauvegarde incrémentale de Freezer, le rendant robuste aux erreurs, en garantissant toujours l'existence d'un état correct, qui peut être restauré en cas d'erreurs de sauvegarde. Ces deux algorithmes peuvent consommer 23%23\% d'énergie en moins que la technique de ``double-buffering'' utilisée dans l'état de l'art. La quatrième contribution porte sur l'évolutivité de notre approche proposée. En combinant Freezer avec des filtres Bloom, nous introduisons un schéma de sauvegarde qui peut couvrir des espaces d'adressage beaucoup plus grands, tout en obtenant une taille de sauvegarde qui est la moitié de la taille de l'approche Freezer habituelle

    Design of Low-Cost Energy Harvesting and Delivery Systems for Self-Powered Devices: Application to Authentication IC

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    This thesis investigates the development of low-cost energy harvesting and delivery systems for low-power low-duty-cycle devices. Initially, we begin by designing a power management scheme for on-demand power delivery. The baseline implementation is also used to identify critical challenges for low-power energy harvesting. We further propose a robust self-powered energy harvesting and delivery system (EHDS) design as a solution to achieve energy autonomy in standalone systems. The design demonstrates a complete ecosystem for low-overhead pulse-frequency modulated (PFM) harvesting while reducing harvesting window confinement and overall implementation footprint. Two transient-based models are developed for improved accuracy during design space exploration and optimization for both PFM power conversion and energy harvesting. Finally, a low-power authentication IC is demonstrated and projected designs for self-powered System-on-Chips (SoCs) are presented. The proposed designs are proto-typed in two test-chips in a 65nm CMOS process and measurement data showcase improved performance in terms of battery power, cold-start duration, passives (inductance and capacitance) needed, and end-to-end harvesting/conversion efficiency.Ph.D

    Virtualizing Reconfigurable Architectures: From Fpgas To Beyond

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    With field-programmable gate arrays (FPGAs) being widely deployed in data centers to enhance the computing performance, an efficient virtualization support is required to fully unleash the potential of cloud FPGAs. However, the system support for FPGAs in the context of the cloud environment is still in its infancy, which leads to a low resource utilization due to the tight coupling between compilation and resource allocation. Moreover, the system support proposed in existing works is limited to a homogeneous FPGA cluster comprising identical FPGA devices, which is hard to be extended to a heterogeneous FPGA cluster that comprises multiple types of FPGAs. As the FPGA cloud is expected to become increasingly heterogeneous due to the hardware rolling upgrade strategy, it is necessary to provide efficient virtualization support for the heterogeneous FPGA cluster. In this dissertation, we first identify three pairs of conflicting requirements from runtime management and offline compilation, which are related to the tradeoff between flexibility and efficiency. These conflicting requirements are the fundamental reason why the single-level abstraction proposed in prior works for the homogeneous FPGA cluster cannot be trivially extended to the heterogeneous cluster. To decouple these conflicting requirements, we provide a two-level system abstraction. Specifically, the high-level abstraction is FPGA-agnostic and provides a simple and homogeneous view of the FPGA resources to simplify the runtime management and maximize the flexibility. On the contrary, the low-level abstraction is FPGA-specific and exposes sufficient low-level hardware details to the compilation framework to ensure the mapping quality and maximize the efficiency. This generic two-level system abstraction can also be specialized to the homogeneous FPGA cluster and/or be extended to leverage application-specific information to further improve the efficiency. We also develop a compilation framework and a modular runtime system with a heuristic-based runtime management policy to support this two-level system abstraction. By enabling a dynamic FPGA sharing at the sub-FPGA granularity, the proposed virtualization solution can deploy 1.62x more applications using the same amount of FPGA resources and reduce the compilation time by 22.6% (perform as many compilation tasks in parallel as possible) with an acceptable virtualization overhead, i.e., Finally, we use Liquid Silicon as a case study to show that the proposed virtualization solution can be extended to other spatial reconfigurable architectures. Liquid Silicon is a homogeneous reconfigurable architecture enabled by the non-volatile memory technology (i.e., RRAM). It extends the configuration capability of existing FPGAs from computation to the whole spectrum ranging from computation to data storage. It allows users to better customize hardware by flexibly partitioning hardware resources between computation and memory based on the actual usage. Instead of naively applying the proposed virtualization solution onto Liquid Silicon, we co-optimize the system abstraction and Liquid Silicon architecture to improve the performance

    Digital System Design - Use of Microcontroller

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    Embedded systems are today, widely deployed in just about every piece of machinery from toasters to spacecraft. Embedded system designers face many challenges. They are asked to produce increasingly complex systems using the latest technologies, but these technologies are changing faster than ever. They are asked to produce better quality designs with a shorter time-to-market. They are asked to implement increasingly complex functionality but more importantly to satisfy numerous other constraints. To achieve the current goals of design, the designer must be aware with such design constraints and more importantly, the factors that have a direct effect on them.One of the challenges facing embedded system designers is the selection of the optimum processor for the application in hand; single-purpose, general-purpose or application specific. Microcontrollers are one member of the family of the application specific processors.The book concentrates on the use of microcontroller as the embedded system?s processor, and how to use it in many embedded system applications. The book covers both the hardware and software aspects needed to design using microcontroller.The book is ideal for undergraduate students and also the engineers that are working in the field of digital system design.Contents• Preface;• Process design metrics;• A systems approach to digital system design;• Introduction to microcontrollers and microprocessors;• Instructions and Instruction sets;• Machine language and assembly language;• System memory; Timers, counters and watchdog timer;• Interfacing to local devices / peripherals;• Analogue data and the analogue I/O subsystem;• Multiprocessor communications;• Serial Communications and Network-based interfaces
    corecore