Testing Embedded Memories in Telecommunication Systems

Extensive system testing is mandatory nowadays to achieve high product quality. Telecommunication systems are particularly sensitive to such a requirement; to maintain market competitiveness, manufacturers need to combine reduced costs, shorter life cycles, advanced technologies, and high quality. Moreover, strict reliability constraints usually impose very low fault latencies and a high degree of fault detection for both permanent and transient faults. This article analyzes major problems related to testing complex telecommunication systems, with particular emphasis on their memory modules, often so critical from the reliability point of view. In particular, advanced BIST-based solutions are analyzed, and two significant industrial case studies presente

Guest editor's introduction

Peer Reviewedhttp://deepblue.lib.umich.edu/bitstream/2027.42/43014/1/10836_2004_Article_BF00972516.pd

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕСТОВЫХ НАБОРОВ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ АДРЕСНЫХ ЛИНИЙ ОЗУ

Предлагается подход к определению тестовых наборов для обнаружения неисправностей адресных линий оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Приведенные в статье теоретические и экспериментальные результаты показывают, что данный подход позволяет существенно сократить количество тестовых наборов, необходимых для обнаружения всех неисправностей  адресных линий ОЗУ, по сравнению с существующими маршевыми алгоритмами

АНАЛИЗ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК РАЗЛИЧИЯ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ОЗУ

Анализируются численные характеристики подобия и различия, применяемые для сравнения двоичных и многозначных векторов, которые используются при многократном тестировании оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Показывается, что оценкой, позволяющей формировать эффективные начальные состояния ОЗУ при многократном их тестировании, являются характеристики различия двоичных векторов Rogers-Tanmoto и Sokal-Michener. Выбор адресных последовательностей для обеспечения высокой эффективности тестирования ОЗУ  осуществляется на основе расстояния Минковского

ФОРМИРОВАНИЕ АДРЕСНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ С МАКСИМАЛЬНЫМ СРЕДНИМ ХЭММИНГОВЫМ РАССТОЯНИЕМ ДЛЯ МНОГОКРАТНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ОЗУ

Рассматриваются методы генерирования адресных последовательностей с максимальным средним Хэмминговым расстоянием между последовательными адресами для многократного тестирования оперативных запоминающих устройств. Приводятся результаты экспериментальных исследований, показывающие эффективность применения последовательностей адресов с различными значениями среднего Хэммингова расстояния