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Analisi dell'elettromigrazione in circuiti avanzati e possibili strategie per prevederne la comparsa
Il lavoro di tesi si è concentrato sull'applicazione di un innovativo modello per descrivere l'effetto a livello elettrico dell'elettromigrazione nelle linee di interconnessione.
Sono stati analizzati gli effetti del guasto in alcuni blocchi circuitali analogici critici per sistemi elettronici ad alta affidabilità . Sono state quindi suggerite alcune soluzioni architetturali che consentano la rilevazione del guasto in tempo reale