Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Es setzt sich heute immer mehr die Erkenntnis durch, daß anwendungsspezifische hochintegrierte Schaltungen nur dann wirtschaftlich eingesetzt werden können, wenn bereits beim Entwurf die Testerzeugung und Testdurchführung berücksichtigt werden. Um die Ausbildung für den rechnergestützten Schaltungsentwurf an der Fakultät für Informatik der Universität Karlsruhe entsprechend abzurunden, hat der Autor seit dem Wintersemester 1985/1986 die Vorlesung "Testprobleme hochintegrierter Schaltungen" angeboten. Etwa zum gleichen Zeitpunkt etablierte sich am dortigen Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz die Forschungsgruppe "Prüfgerechter Entwurf und Test". Das vorliegende Buch vereinigt die Erfahrungen aus der Vorlesung und die Ergebnisse der Forschungsgruppe. Es gibt einen Überblick über wichtige Techniken des prüfgerechten Entwurfs, des Selbsttests sowie der Testerzeugung, und es enthält zahlreiche neue Vorschläge auf diesem Gebiet

Analyse de testabilité au niveau transfert de registres

Synthèse automatique et analyse de testabilité -- Les définitions de base -- Analyse de testabilité à haut niveau d'abstraction -- Analyse de testabilité et d'insertion de points de test au niveau transfert de registres -- Testability analysis and test-point insertion in RTL VHDL specifications for scan-based bist -- Implantation de l'algorithme et résultats expérimentaux