Preparation methodology for the microstructural characterization of diffusion layers in a titanium/steel composite

Abstract

Hot pressing of titanium and carbon steel leads to the formation of a diffusion layer at the interface. Depending on the carbon content of the steel used, it either exclusively contains TiC or additional other phases. In the case of steel with a medium carbon concentration (0.67 wt.% C), a pure TiC layer forms. A preparation methodology was developed to make statements about functional and microstructural properties of the respective layers such as layer thickness, porosity, or grain size. However, apart from the diffusion layer’s microstructure, it also reveals the microstructure of the two base substrates. A comparison based on electron backscatter diffraction (EBSD) examinations yields similar results in terms of microstructure. A micrograph analysis based on the new preparation methodology also allows confirming the element distribution measurement by glow discharge optical emission spectroscopy (GDOES). The methodology therefore provides a way of quickly and reliably controlling the layer formation during the hot pressing process of titanium and carbon steel.Beim Heißpressen von Titan und Kohlenstoffstahl entsteht an der Grenzfläche eine Diffusionsschicht, welche abhängig vom Kohlenstoffgehalt des verwendeten Stahls entweder ausschließlich TiC oder zusätzliche andere Phasen enthält. Im Fall eines Stahls mit mittlerer Kohlenstoffkonzentration (0,67 wt.-% C) bildet sich eine reine TiC-Schicht. Um eine Aussage über die funktionalen und mikrostrukturellen Eigenschaften, wie Schichtdicke, Porosität oder Korngröße, entsprechender Schichten treffen zu können, wurde eine Präparationsmethodik entwickelt. Hierbei wird jedoch nicht nur das Gefüge der Diffusionsschicht, sondern auch das der beiden Grundsubstrate entwickelt. Ein Vergleich mit Elektronenrückstreubeugungs-Untersuchungen (EBSD) liefert hinsichtlich der Mikrostruktur vergleichbare Ergebnisse. Auch die Messung der Elementverteilung durch Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) kann durch eine Schliffbildanalyse unter Anwendung der neuen Präparationsmethodik belegt werden. Die Methodik stellt also eine Möglichkeit zur schnellen und sicheren Kontrolle der Schichtbildung beim Heißpressen von Titan und Kohlenstoffstahl dar