Analise do metodo de acrescimo e decrescimo para ensaios de impulso : simulação computacional e sua comparação com ensaios em "gaps" do tipo haste-haste

Abstract

Resumo: É realizada uma análise do método do acréscimo e decréscimo utilizado em ensaios de impulso na determinação da tensão disruptiva crítica V50% de elementos isolantes auto recuperáveis. A análise é feita pela comparação dos resultados de V50% e do desvio padrão 'sigma' obtidos por simulação computacional do método de acréscimo e decréscimo conforme a NBR 5389/81 e de resultados de ensaios em sistemas de eletrodos do tipo haste-haste e haste-placa efetuados conforme a NBR 5389/81, tendo como parâmetros o número de aplicações de tensão (N) , o degrau de tensão (d) e a tensão inicial (VI) utilizados nos cálculos e ensaios. Os resultados mostram que os parâmetros N, d e VI apresentam uma grande influência nos valores de V50% e 'sigma' e que estes parâmetros estão fortemente inter-relacionados um com o outro.. Ou seja, por exemplo, que para um dado N. existem valores bem definidos de d e Vi que levam a resultados satisfatórios de V50% e vice-versa. Por outro lado, os resultados obtidos tanto em simulações quanto em ensaios mostraram valores de dispersão do desvio padrão 'sigma', relativamente elevados, o que vem a concordar com inúmeros trabalhos existentes sobre o assunto, de que o método de acréscimo e decréscimo permite uma determinação satisfatória da tensão de V50%, porém não é adequado para o cálculo do desvio padrão 'sigma'.Abstract: It is realized an analysis of the up-and-down method used in impulse tests to determine the critical flashover voltage V50% In self-restorlng insulations. The analysis is made by comparing the resu1ts of V50% and the standard derivation 'sigma' obtained by computaclonal slimulation of the up-and-down method according to the NBR-5389/81 standard and tests results in rod-rod and rod-plane: electrods systems. These tests have also been performed according to the NBR-5389/81 standard, havlng by the parameters the number of impulse applications (N), the voltage step (d) and initial voltage (VI). The results indicate that the parameters N, d, Vi have a great influency in the V50% and 'sigma' values and that also have a great inter-relation within then. That means for instance, to a given N, exist well definite values of d and VI that should carry to a satisfatory results of V50% and vice-versa. On the other hand the results obtained in simulations and tests show high values of dispersion of standard deviation wich agrees with many existents works on the subject as well the up-and-down method allow a satisfactory determination of the V50% voltage, but is not appropriate for the standard deviation calculation