Kemiallisen ympäristön tutkiminen XPS-menetelmällä

Abstract

Tiivistelmä. Fotoelektronispektroskopiassa hyödynnetään Albert Einsteinin selittämää valosähköistä ilmiötä, jolla määritetään liike-energia näytteestä irrotetuille fotoelektroneille. Näillä tiedoilla aseistettuna selvitämme näytemateriaalin elektronivyörakennetta, josta voimme päätellä näytteen koostumuksen. Tässä tutkielmassa käsittelen tarkemmin röntgenfotoelektronispektroskopiaa ja sen soveltamista atomien kemiallisen ympäristön analysoimiseen. Röntgenfotoelektronispektroskopia, eli XPS ("X-ray photoelectron spectroscopy") on yksi materiaalitutkimuksen menetelmistä. Painottaen menetelmän hyötyä aineanalyysissä, sitä kutsutaan myös elektronispektroskopiaksi kemialliseen analyysiin, mikä lyhennetään ESCA ("Electron spectroscopy for chemical analysis"). Erikoisuutena muihin spektroskooppisiin menetelmiin XPS kertoo, alkuainepitoisuuksien lisäksi, myös näytteen kemiallisista sidoksista

    Similar works