Borges, Fernando Roxo

Pereira, Luis Gustavo

Santos, Mauricio Cougo dos

Schmidt, Joao Edgar

Portuguese

Lume 5.8

 Ciências Exatas e da Terra  143  RESISTIVIDADE ELÉTRICA EM FILMES FINOS DE FERRO CRESCIDOS SOBRE SI (III). Fernando Roxo Borges, Joao Schimidt, Mauricio Cougo, Luis Gustavo Pereira (orient.) (Departamento de Física, Instituto de Física, UFRGS). Em recentes trabalhos observou-se que filmes finos de Ferro depositados em substratos de Si (III) apresentam uma morfologia de crescimento diferenciada. A peculiaridade no crescimento se deve ao fato de que o substrato de Silício apresenta uma estrutura do tipo escada. Quando os átomos de Ferro chegam ao substrato, se posicionam de maneira a formar estruturas alongadas em direções privilegiadas. Por outro lado, sabe-se que a condução elétrica em filmes finos depende do livre caminho médio dos elétrons numa rede cristalina. Considerando que os grãos de Ferro são anisotrópicos na forma, deveremos ter diferentes valores para o livre caminho médio eletrônico, quando variamos a direção da medida com relação aos eixos cristalinos do substrato. (O estudo destas propriedades é de grande importância para a construção de dispositivos de spintrônica, pois o conhecimento do comportamento da condução eletrônica em sistemas de baixa dimensionalidade é que vai determinar o uso dos componentes na formação de tais dispositivos.) Neste trabalho apresentamos a construção de um sistema de medidas resistivas e magnetorresistivas, assim como alguns resultados da medida de filmes de Ferro de diferentes espessuras. (PROPESQ/UFRGS). 393 

Resistividade elétrica em filmes finos de ferro crescidos sobre Si (III)

https://lume.ufrgs.br/bitstream/10183/40016/1/000403285.pdf

Resistividade elétrica em filmes finos de ferro crescidos sobre Si (III)

Abstract

Similar works

Full text

Available Versions

Lume 5.8