È stato proposto un nuovo approccio al processing di forme d’onda riflettometriche, basato sul matching tra il riflettogramma misurato e quello simulato al variare dei profili dei parametri da stimare, all’interno di un appropriato modello elettromagnetico. Il metodo presentato consente di estendere l’applicazione della tecnica TDR a misure distribuite molto più generali rispetto a quelle attualmente eseguite con questa tecnica, basate p. es. su hardware molto più economico dei dispositivi TDR commerciali
