THE COLLECTION OF SINGLE-CRYSTAL DIFFRACTION DATA WITH AREA DETECTORS

L'emploi de détecteurs bi-dimensionnels demande une réévaluation complète des procédés de mesure : un diffractomètre à détecteur 2-D n'est ni une caméra à rotation où le film serait remplacé par un détecteur électronique, ni un diffractomètre à quatre cercles équipé d'un détecteur 2-D au lieu du détecteur uni-dimensionnel. Les nouveaux instruments doivent être reliés à des mini-ordinateurs relativement puissants possédant une grande mémoire pour le stockage des données et des programmes. Ces ordinateurs offrent de nouvelles possibilités pour l'optimisation de la stratégie de la collection des données. De telles dispositions permettent des mesures très rapides ; elles permettent aussi une précision supérieure par comparaison aux méthodes classiques, parce qu'elles rendent possible une calibration exacte du détecteur et une correction totale des mesures. Ces possibilités représentent un pari formidable pour le programmeur afin d'arriver à produire un ensemble de programmes d'une versatilité, d'une fiabilité et d'une facilité d'utilisation suffisantes pour encourager une large communauté scientifique à se servir de ces instruments nouveaux.The use of area detector methods requires a complete re-thinking of optimum procedures of data collection : Area detector diffractometers have to be interfaced to relatively powerful mini-computers with very large amounts of program and data storage space which present new opportunities of optimising data collection strategies. In addition to making possible very fast data-collection, they permit a higher accuracy to be achieved than is possible with other methods, because they allow very elaborate and complete calibration and correction of the measurements. Software packages of great flexibility, reliability and user-friendliness are required to encourage the wide-spread use of the new instruments by a large user community

The development of a new X-ray image intensifier for X-ray diffraction studies

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