Erratum to: 36th International Symposium on Intensive Care and Emergency Medicine

[This corrects the article DOI: 10.1186/s13054-016-1208-6.]

Moyens de diagnostic pour l'étude spatio-temporelle de l'émission X d'un plasma créé par laser

The development of subnanosecond high intensity lasers requires diagnoses to measure the effects of their interaction with matter. In order to characterize the compression of small targets (diameter < 500 μm) it is necessary to have X-ray devices with a temporal resolution of 10 ps and a spatial resolution of a few microns within the range of 1 to 10 keV. The use of X-ray microscopes having a spatial resolution of 2-3 μm, of streak cameras with time resolution < 50 ps and of framing camera tubes of 200 ps framing time allows such diagnoses. Here, we discuss the performance of these devices and some applications.Le développement des lasers de puissance délivrant des impulsions subnanosecondes demande l'élaboration de diagnostics permettant de mesurer les effets de leur interaction avec la matière. Les possibilités, à moyen terme, de comprimer de manière significative des cibles de petit diamètre ( < 500 μm) nécessitent d'explorer la gamme de temps qui va de quelques picosecondes à quelques nanosecondes, avec des résolutions spatiales pouvant atteindre quelques microns dans le domaine spectral compris entre 1 et 10 keV. De tels diagnostics sont actuellement possibles grâce à la mise au point de microscope X à très haute résolution spatiale (2 à 3 μm) et de caméras X à balayage de fente à haute résolution temporelle (< 50 ps). Nous présentons les performances obtenues avec de tels dispositifs ainsi que des exemples d'applications

Moyens de diagnostic pour l'étude spatio-temporelle de l'émission X d'un plasma créé par laser

Le développement des lasers de puissance délivrant des impulsions subnanosecondes demande l'élaboration de diagnostics permettant de mesurer les effets de leur interaction avec la matière. Les possibilités, à moyen terme, de comprimer de manière significative des cibles de petit diamètre ( < 500 μm) nécessitent d'explorer la gamme de temps qui va de quelques picosecondes à quelques nanosecondes, avec des résolutions spatiales pouvant atteindre quelques microns dans le domaine spectral compris entre 1 et 10 keV. De tels diagnostics sont actuellement possibles grâce à la mise au point de microscope X à très haute résolution spatiale (2 à 3 μm) et de caméras X à balayage de fente à haute résolution temporelle (< 50 ps). Nous présentons les performances obtenues avec de tels dispositifs ainsi que des exemples d'applications

High speed (&lt;= 250 ps) high gain X-ray shutter camera

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

The soft X-ray P 550 streak camera. Characteristics and applications

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

HIGH RESOLUTION MULTICHANNEL XUV SPECTROMETER WITH A 3-PICOSECOND TIME-RESOLUTION FOR LASER-PRODUCED PLASMAS DIAGNOSTICS

Nous décrivons la réalisation d'un nouveau spectrographe XUV à résolution temporelle dont les performances espérées sont une résolution spectrale de 0.1 Å et temporelle de 3 ps . Cet instrument est constitué d'un spectromètre Schwob-Fraenkel modifié, couplé à une nouvelle caméra électronique à balayage de fente ultra-rapide.A new XUV spectrometer designed to have a time-resolution of 3 ps and a spectral resolution of 0.1 Å is described. It is basically a modified version of a Schwob-Fraenkel spectrometer, which is coupled to a new ultrafast electronic streak camera

Imagerie X par ouverture de codage appliquee aux plasmas crees par laser

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc