1 research outputs found
Surface Analysis: X-ray Photoelectron Spectroscopy and Auger Electron Spectroscopy
- Author
- Akaki O.
- Baker A. D.
- Baker A. D.
- Balcerowska G.
- Baraldi A.
- Barr T. L.
- Beamson G.
- Beck S. E.
- Bideux L.
- Bindu V.
- Bowling R. A.
- Bowling R. A.
- Briggs D.
- Bureau
- Bureau
- Castle J. E.
- Cazaux J.
- Chatelier R. C.
- Chen Y.
- Cheng Z.
- Clare B. W.
- Comino A.
- Conny J. M.
- Creagh C. A.
- Crist B. V.
- Cumpson P.
- Czuprynski P.
- de Siervo A.
- Ding Z. J.
- Diplas S.
- Do T.
- Egdell R. G.
- El-Gomati M.
- Endo K.
- Evans S.
- Fillippone F.
- Fillmore D. K.
- Frydman E.
- Fulghum J. E.
- Fulghum J. E.
- Furuya M.
- Gaarenstroom S. W.
- Galuska A. A.
- Gergely G.
- Gergely G.
- Goede J.
- Gotter R.
- Graat P.
- Grant J. T.
- Havercroft N. J.
- Hercules D. M.
- Hercules D. M.
- Hercules D. M.
- Hofmann S.
- Hofmann S.
- Hofmann S.
- Hucek S.
- Hucek S.
- Hucek S.
- Hutton B. M.
- Ichiki T.
- Ichimura S.
- Ijima Y.
- Ikeda A.
- Isomura N.
- Iwai H.
- Iwai H.
- Iwanowski R. J.
- Jablonski A.
- Jablonski A.
- Jablonski A.
- Jablonski A.
- Jenniskens H. G.
- Jeurgens L. P. H.
- Jiménez V. M.
- Jo M.
- Johansson A.
- Kane P. F.
- Kane P. F.
- Karlsson K.
- Katayama T.
- Kazuhiko D.
- Kerber S. J.
- Kim D.
- Kim N. Y.
- Kleiman G. G.
- Kleiman G. G.
- Kobayashi H.
- Kohiki S.
- Kotani A.
- Krainsky I. L.
- Kucherenko Y.
- Landers R.
- Larrabee G. B.
- Larson P. E.
- Lassaletta G.
- Lee H.-I.
- Lee J. W.
- Lesiak B.
- Lesiak B.
- Li L.
- Liu H.
- Liu Z.
- Lomas D. G.
- Madden H. H.
- Malherbe J. B.
- Matthew J. A. D.
- Mayusumi M.
- McGuire G. E.
- McGuire G. E.
- McGuire G. E.
- McGuire G. E.
- McGuire G. E.
- McIntyre N. S.
- McIntyre N. S.
- Meier R. J.
- MenialdĂșa J.
- Menyhard M.
- Miller A. C.
- Miller S.
- Mitsuya M.
- Mogi K.
- Moretti G.
- Morohashi T.
- Mroz S.
- MĂ€hl S.
- MĂ€hl S.
- MĂ€hl S.
- MĂ€hl S.
- Nagatomi T.
- Nakamura T.
- Nanda J.
- Nehasil V.
- Nettesheim S.
- Nettesheim S.
- Obravac M. N.
- Obu-Cann K.
- Ohno M.
- Ohno M.
- Okada K.
- Oku M.
- Olefjord
- Oswald S.
- Oyama T.
- Patil V.
- Patil V.
- Pesin L. A.
- Pijpers P.
- Polak
- Powell C.
- Powell C. J.
- Powell C. J.
- Pratt A. R.
- Prutton M.
- Raeburn S. P.
- Raeburn S. P.
- Rar A.
- Rar A.
- Ray M. A.
- Ro C.-U.
- Robinson A. W.
- Roosendaal S. J.
- Sakai I.
- Sakamoto T.
- Sakamoto T.
- Salvi A. M.
- Salvia A. M.
- Sanz J. M.
- Sastry M.
- Schmessier D.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Seah M. P.
- Shabanova I. N.
- Sherwood P. M.
- Sherwood P. M. A.
- Shimada H.
- Silberberg E.
- Simonsen A. C.
- Simonsen A. C.
- Siuda R.
- Splinter S. J.
- Stephens J. W.
- Stock H.-R.
- Suzuki M.
- Suzuki M.
- Suzuki N.
- Suzuki N.
- SĂĄnchez-LĂłpez J. C.
- Takutaka H.
- Tanuma S.
- Thomas E. A.
- Thomas E. A.
- Thomas J. H.
- Thurgate S. M.
- Tilinin I. S.
- Tilinin I. S.
- Timmermans B.
- Tohma H.
- Tokutaka H.
- Tomie T.
- Tomitori M.
- Toney M. F.
- Tougaard S.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Turner N. H.
- Vaitkus J.
- Vereecke G.
- Vereecke G.
- von Richthofen A.
- Weiss W.
- Werner W. S. M.
- Wolan J. T.
- Wöhner T.
- Yang D.
- Yang X.
- Yarzhemsky V. G.
- Yoshihara K.
- Yoshitake M.
- Zalm P. C.
- Zommer L.
- Zurkirch M.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full text
