A Survey of Fault-Injection Methodologies for Soft Error Rate Modeling in Systems-on-Chips

The development of process technology has increased system performance, but the system failure probability has also significantly increased. It is important to consider the system reliability in addition to the cost, performance, and power consumption. In this paper, we describe the types of faults that occur in a system and where these faults originate. Then, fault-injection techniques, which are used to characterize the fault rate of a system-on-chip (SoC), are investigated to provide a guideline to SoC designers for the realization of resilient SoCs

Survey of Soft Error Mitigation Techniques Applied to LEON3 Soft Processors on SRAM-Based FPGAs

Soft-core processors implemented in SRAM-based FPGAs are an attractive option for applications to be employed in radiation environments due to their flexibility, relatively-low application development costs, and reconfigurability features enabling them to adapt to the evolving mission needs. Despite the advantages soft-core processors possess, they are seldom used in critical applications because they are more sensitive to radiation than their hard-core counterparts. For instance, both the logic and signal routing circuitry of a soft-core processor as well as its user memory are susceptible to radiation-induced faults. Therefore, soft-core processors must be appropriately hardened against ionizing-radiation to become a feasible design choice for harsh environments and thus to reap all their benefits. This survey henceforth discusses various techniques to protect the configuration and user memories of an LEON3 soft processor, which is one of the most widely used soft-core processors in radiation environments, as reported in the state-of-the-art literature, with the objective of facilitating the choice of right fault-mitigation solution for any given soft-core processor

Self-Test Mechanisms for Automotive Multi-Processor System-on-Chips

L'abstract è presente nell'allegato / the abstract is in the attachmen

Error Detection and Diagnosis for System-on-Chip in Space Applications

Tesis por compendio de publicacionesLos componentes electrónicos comerciales, comúnmente llamados componentes Commercial-Off-The-Shelf (COTS) están presentes en multitud de dispositivos habituales en nuestro día a día. Particularmente, el uso de microprocesadores y sistemas en chip (SoC) altamente integrados ha favorecido la aparición de dispositivos electrónicos cada vez más inteligentes que sostienen el estilo de vida y el avance de la sociedad moderna. Su uso se ha generalizado incluso en aquellos sistemas que se consideran críticos para la seguridad, como vehículos, aviones, armamento, dispositivos médicos, implantes o centrales eléctricas. En cualquiera de ellos, un fallo podría tener graves consecuencias humanas o económicas. Sin embargo, todos los sistemas electrónicos conviven constantemente con factores internos y externos que pueden provocar fallos en su funcionamiento. La capacidad de un sistema para funcionar correctamente en presencia de fallos se denomina tolerancia a fallos, y es un requisito en el diseño y operación de sistemas críticos. Los vehículos espaciales como satélites o naves espaciales también hacen uso de microprocesadores para operar de forma autónoma o semi autónoma durante su vida útil, con la dificultad añadida de que no pueden ser reparados en órbita, por lo que se consideran sistemas críticos. Además, las duras condiciones existentes en el espacio, y en particular los efectos de la radiación, suponen un gran desafío para el correcto funcionamiento de los dispositivos electrónicos. Concretamente, los fallos transitorios provocados por radiación (conocidos como soft errors) tienen el potencial de ser una de las mayores amenazas para la fiabilidad de un sistema en el espacio. Las misiones espaciales de gran envergadura, típicamente financiadas públicamente como en el caso de la NASA o la Agencia Espacial Europea (ESA), han tenido históricamente como requisito evitar el riesgo a toda costa por encima de cualquier restricción de coste o plazo. Por ello, la selección de componentes resistentes a la radiación (rad-hard) específicamente diseñados para su uso en el espacio ha sido la metodología imperante en el paradigma que hoy podemos denominar industria espacial tradicional, u Old Space. Sin embargo, los componentes rad-hard tienen habitualmente un coste mucho más alto y unas prestaciones mucho menores que otros componentes COTS equivalentes. De hecho, los componentes COTS ya han sido utilizados satisfactoriamente en misiones de la NASA o la ESA cuando las prestaciones requeridas por la misión no podían ser cubiertas por ningún componente rad-hard existente. En los últimos años, el acceso al espacio se está facilitando debido en gran parte a la entrada de empresas privadas en la industria espacial. Estas empresas no siempre buscan evitar el riesgo a toda costa, sino que deben perseguir una rentabilidad económica, por lo que hacen un balance entre riesgo, coste y plazo mediante gestión del riesgo en un paradigma denominado Nuevo Espacio o New Space. Estas empresas a menudo están interesadas en entregar servicios basados en el espacio con las máximas prestaciones y el mayor beneficio posibles, para lo cual los componentes rad-hard son menos atractivos debido a su mayor coste y menores prestaciones que los componentes COTS existentes. Sin embargo, los componentes COTS no han sido específicamente diseñados para su uso en el espacio y típicamente no incluyen técnicas específicas para evitar que los efectos de la radiación afecten su funcionamiento. Los componentes COTS se comercializan tal cual son, y habitualmente no es posible modificarlos para mejorar su resistencia a la radiación. Además, los elevados niveles de integración de los sistemas en chip (SoC) complejos de altas prestaciones dificultan su observación y la aplicación de técnicas de tolerancia a fallos. Este problema es especialmente relevante en el caso de los microprocesadores. Por tanto, existe un gran interés en el desarrollo de técnicas que permitan conocer y mejorar el comportamiento de los microprocesadores COTS bajo radiación sin modificar su arquitectura y sin interferir en su funcionamiento para facilitar su uso en el espacio y con ello maximizar las prestaciones de las misiones espaciales presentes y futuras. En esta Tesis se han desarrollado técnicas novedosas para detectar, diagnosticar y mitigar los errores producidos por radiación en microprocesadores y sistemas en chip (SoC) comerciales, utilizando la interfaz de traza como punto de observación. La interfaz de traza es un recurso habitual en los microprocesadores modernos, principalmente enfocado a soportar las tareas de desarrollo y depuración del software durante la fase de diseño. Sin embargo, una vez el desarrollo ha concluido, la interfaz de traza típicamente no se utiliza durante la fase operativa del sistema, por lo que puede ser reutilizada sin coste. La interfaz de traza constituye un punto de conexión viable para observar el comportamiento de un microprocesador de forma no intrusiva y sin interferir en su funcionamiento. Como resultado de esta Tesis se ha desarrollado un módulo IP capaz de recabar y decodificar la información de traza de un microprocesador COTS moderno de altas prestaciones. El IP es altamente configurable y personalizable para adaptarse a diferentes aplicaciones y tipos de procesadores. Ha sido diseñado y validado utilizando el dispositivo Zynq-7000 de Xilinx como plataforma de desarrollo, que constituye un dispositivo COTS de interés en la industria espacial. Este dispositivo incluye un procesador ARM Cortex-A9 de doble núcleo, que es representativo del conjunto de microprocesadores hard-core modernos de altas prestaciones. El IP resultante es compatible con la tecnología ARM CoreSight, que proporciona acceso a información de traza en los microprocesadores ARM. El IP incorpora técnicas para detectar errores en el flujo de ejecución y en los datos de la aplicación ejecutada utilizando la información de traza, en tiempo real y con muy baja latencia. El IP se ha validado en campañas de inyección de fallos y también en radiación con protones y neutrones en instalaciones especializadas. También se ha combinado con otras técnicas de tolerancia a fallos para construir técnicas híbridas de mitigación de errores. Los resultados experimentales obtenidos demuestran su alta capacidad de detección y potencialidad en el diagnóstico de errores producidos por radiación. El resultado de esta Tesis, desarrollada en el marco de un Doctorado Industrial entre la Universidad Carlos III de Madrid (UC3M) y la empresa Arquimea, se ha transferido satisfactoriamente al entorno empresarial en forma de un proyecto financiado por la Agencia Espacial Europea para continuar su desarrollo y posterior explotación.Commercial electronic components, also known as Commercial-Off-The-Shelf (COTS), are present in a wide variety of devices commonly used in our daily life. Particularly, the use of microprocessors and highly integrated System-on-Chip (SoC) devices has fostered the advent of increasingly intelligent electronic devices which sustain the lifestyles and the progress of modern society. Microprocessors are present even in safety-critical systems, such as vehicles, planes, weapons, medical devices, implants, or power plants. In any of these cases, a fault could involve severe human or economic consequences. However, every electronic system deals continuously with internal and external factors that could provoke faults in its operation. The capacity of a system to operate correctly in presence of faults is known as fault-tolerance, and it becomes a requirement in the design and operation of critical systems. Space vehicles such as satellites or spacecraft also incorporate microprocessors to operate autonomously or semi-autonomously during their service life, with the additional difficulty that they cannot be repaired once in-orbit, so they are considered critical systems. In addition, the harsh conditions in space, and specifically radiation effects, involve a big challenge for the correct operation of electronic devices. In particular, radiation-induced soft errors have the potential to become one of the major risks for the reliability of systems in space. Large space missions, typically publicly funded as in the case of NASA or European Space Agency (ESA), have followed historically the requirement to avoid the risk at any expense, regardless of any cost or schedule restriction. Because of that, the selection of radiation-resistant components (known as rad-hard) specifically designed to be used in space has been the dominant methodology in the paradigm of traditional space industry, also known as “Old Space”. However, rad-hard components have commonly a much higher associated cost and much lower performance that other equivalent COTS devices. In fact, COTS components have already been used successfully by NASA and ESA in missions that requested such high performance that could not be satisfied by any available rad-hard component. In the recent years, the access to space is being facilitated in part due to the irruption of private companies in the space industry. Such companies do not always seek to avoid the risk at any cost, but they must pursue profitability, so they perform a trade-off between risk, cost, and schedule through risk management in a paradigm known as “New Space”. Private companies are often interested in deliver space-based services with the maximum performance and maximum benefit as possible. With such objective, rad-hard components are less attractive than COTS due to their higher cost and lower performance. However, COTS components have not been specifically designed to be used in space and typically they do not include specific techniques to avoid or mitigate the radiation effects in their operation. COTS components are commercialized “as is”, so it is not possible to modify them to improve their susceptibility to radiation effects. Moreover, the high levels of integration of complex, high-performance SoC devices hinder their observability and the application of fault-tolerance techniques. This problem is especially relevant in the case of microprocessors. Thus, there is a growing interest in the development of techniques allowing to understand and improve the behavior of COTS microprocessors under radiation without modifying their architecture and without interfering with their operation. Such techniques may facilitate the use of COTS components in space and maximize the performance of present and future space missions. In this Thesis, novel techniques have been developed to detect, diagnose, and mitigate radiation-induced errors in COTS microprocessors and SoCs using the trace interface as an observation point. The trace interface is a resource commonly found in modern microprocessors, mainly intended to support software development and debugging activities during the design phase. However, it is commonly left unused during the operational phase of the system, so it can be reused with no cost. The trace interface constitutes a feasible connection point to observe microprocessor behavior in a non-intrusive manner and without disturbing processor operation. As a result of this Thesis, an IP module has been developed capable to gather and decode the trace information of a modern, high-end, COTS microprocessor. The IP is highly configurable and customizable to support different applications and processor types. The IP has been designed and validated using the Xilinx Zynq-7000 device as a development platform, which is an interesting COTS device for the space industry. This device features a dual-core ARM Cortex-A9 processor, which is a good representative of modern, high-end, hard-core microprocessors. The resulting IP is compatible with the ARM CoreSight technology, which enables access to trace information in ARM microprocessors. The IP is able to detect errors in the execution flow of the microprocessor and in the application data using trace information, in real time and with very low latency. The IP has been validated in fault injection campaigns and also under proton and neutron irradiation campaigns in specialized facilities. It has also been combined with other fault-tolerance techniques to build hybrid error mitigation approaches. Experimental results demonstrate its high detection capabilities and high potential for the diagnosis of radiation-induced errors. The result of this Thesis, developed in the framework of an Industrial Ph.D. between the University Carlos III of Madrid (UC3M) and the company Arquimea, has been successfully transferred to the company business as a project sponsored by European Space Agency to continue its development and subsequent commercialization.Programa de Doctorado en Ingeniería Eléctrica, Electrónica y Automática por la Universidad Carlos III de MadridPresidenta: María Luisa López Vallejo.- Secretario: Enrique San Millán Heredia.- Vocal: Luigi Di Lill

Characterization of Interconnection Delays in FPGAS Due to Single Event Upsets and Mitigation

RÉSUMÉ L’utilisation incessante de composants électroniques à géométrie toujours plus faible a engendré de nouveaux défis au fil des ans. Par exemple, des semi-conducteurs à mémoire et à microprocesseur plus avancés sont utilisés dans les systèmes avioniques qui présentent une susceptibilité importante aux phénomènes de rayonnement cosmique. L'une des principales implications des rayons cosmiques, observée principalement dans les satellites en orbite, est l'effet d'événements singuliers (SEE). Le rayonnement atmosphérique suscite plusieurs préoccupations concernant la sécurité et la fiabilité de l'équipement avionique, en particulier pour les systèmes qui impliquent des réseaux de portes programmables (FPGA). Les FPGA à base de cellules de mémoire statique (SRAM) présentent une solution attrayante pour mettre en oeuvre des systèmes complexes dans le domaine de l’avionique. Les expériences de rayonnement réalisées sur les FPGA ont dévoilé la vulnérabilité de ces dispositifs contre un type particulier de SEE, à savoir, les événements singuliers de changement d’état (SEU). Un SEU est considérée comme le changement de l'état d'un élément bistable (c'est-à-dire, un bit-flip) dû à l'effet d'un ion, d'un proton ou d’un neutron énergétique. Cet effet est non destructif et peut être corrigé en réécrivant la partie de la SRAM affectée. Les changements de délai (DC) potentiels dus aux SEU affectant la mémoire de configuration de routage ont été récemment confirmés. Un des objectifs de cette thèse consiste à caractériser plus précisément les DC dans les FPGA causés par les SEU. Les DC observés expérimentalement sont présentés et la modélisation au niveau circuit de ces DC est proposée. Les circuits impliqués dans la propagation du délai sont validés en effectuant une modélisation précise des blocs internes à l'intérieur du FPGA et en exécutant des simulations. Les résultats montrent l’origine des DC qui sont en accord avec les mesures expérimentales de délais. Les modèles proposés au niveau circuit sont, aux meilleures de notre connaissance, le premier travail qui confirme et explique les délais combinatoires dans les FPGA. La conception d'un circuit moniteur de délai pour la détection des DC a été faite dans la deuxième partie de cette thèse. Ce moniteur permet de détecter un changement de délai sur les sections critiques du circuit et de prévenir les pannes de synchronisation engendrées par les SEU sans utiliser la redondance modulaire triple (TMR).----------ABSTRACT The unrelenting demand for electronic components with ever diminishing feature size have emerged new challenges over the years. Among them, more advanced memory and microprocessor semiconductors are being used in avionic systems that exhibit a substantial susceptibility to cosmic radiation phenomena. One of the main implications of cosmic rays, which was primarily observed in orbiting satellites, is single-event effect (SEE). Atmospheric radiation causes several concerns regarding the safety and reliability of avionics equipment, particularly for systems that involve field programmable gate arrays (FPGA). SRAM-based FPGAs, as an attractive solution to implement systems in aeronautic sector, are very susceptible to SEEs in particular Single Event Upset (SEU). An SEU is considered as the change of the state of a bistable element (i.e., bit-flip) due to the effect of an energetic ion or proton. This effect is non-destructive and may be fixed by rewriting the affected part. Sensitivity evaluation of SRAM-based FPGAs to a physical impact such as potential delay changes (DC) has not been addressed thus far in the literature. DCs induced by SEU can affect the functionality of the logic circuits by disturbing the race condition on critical paths. The objective of this thesis is toward the characterization of DCs in SRAM-based FPGAs due to transient ionizing radiation. The DCs observed experimentally are presented and the circuit-level modeling of those DCs is proposed. Circuits involved in delay propagation are reverse-engineered by performing precise modeling of internal blocks inside the FPGA and executing simulations. The results show the root cause of DCs that are in good agreement with experimental delay measurements. The proposed circuit level models are, to the best of our knowledge, the first work on modeling of combinational delays in FPGAs.In addition, the design of a delay monitor circuit for DC detection is investigated in the second part of this thesis. This monitor allowed to show experimentally cumulative DCs on interconnects in FPGA. To this end, by avoiding the use of triple modular redundancy (TMR), a mitigation technique for DCs is proposed and the system downtime is minimized. A method is also proposed to decrease the clock frequency after DC detection without interrupting the process

Automated Debugging Methodology for FPGA-based Systems

Electronic devices make up a vital part of our lives. These are seen from mobiles, laptops, computers, home automation, etc. to name a few. The modern designs constitute billions of transistors. However, with this evolution, ensuring that the devices fulfill the designer’s expectation under variable conditions has also become a great challenge. This requires a lot of design time and effort. Whenever an error is encountered, the process is re-started. Hence, it is desired to minimize the number of spins required to achieve an error-free product, as each spin results in loss of time and effort. Software-based simulation systems present the main technique to ensure the verification of the design before fabrication. However, few design errors (bugs) are likely to escape the simulation process. Such bugs subsequently appear during the post-silicon phase. Finding such bugs is time-consuming due to inherent invisibility of the hardware. Instead of software simulation of the design in the pre-silicon phase, post-silicon techniques permit the designers to verify the functionality through the physical implementations of the design. The main benefit of the methodology is that the implemented design in the post-silicon phase runs many order-of-magnitude faster than its counterpart in pre-silicon. This allows the designers to validate their design more exhaustively. This thesis presents five main contributions to enable a fast and automated debugging solution for reconfigurable hardware. During the research work, we used an obstacle avoidance system for robotic vehicles as a use case to illustrate how to apply the proposed debugging solution in practical environments. The first contribution presents a debugging system capable of providing a lossless trace of debugging data which permits a cycle-accurate replay. This methodology ensures capturing permanent as well as intermittent errors in the implemented design. The contribution also describes a solution to enhance hardware observability. It is proposed to utilize processor-configurable concentration networks, employ debug data compression to transmit the data more efficiently, and partially reconfiguring the debugging system at run-time to save the time required for design re-compilation as well as preserve the timing closure. The second contribution presents a solution for communication-centric designs. Furthermore, solutions for designs with multi-clock domains are also discussed. The third contribution presents a priority-based signal selection methodology to identify the signals which can be more helpful during the debugging process. A connectivity generation tool is also presented which can map the identified signals to the debugging system. The fourth contribution presents an automated error detection solution which can help in capturing the permanent as well as intermittent errors without continuous monitoring of debugging data. The proposed solution works for designs even in the absence of golden reference. The fifth contribution proposes to use artificial intelligence for post-silicon debugging. We presented a novel idea of using a recurrent neural network for debugging when a golden reference is present for training the network. Furthermore, the idea was also extended to designs where golden reference is not present

Caracterización de la tolerancia a fallos de circuitos implementados en FPGAs

213 p.Las FPGAs (Field-Programmable Gate Array) y los SoC (System-on-chip) basados en FPGA son dispositivos electrónicos configurables en campo (in field), que ofrecen la posibilidad de desarrollar un circuito a medida con un tiempo de salida al mercado y unos costes de diseño reducidos en comparación con los ASICs. Debido a la reducción continua del tamaño de los transistores, las prestaciones de estos dispositivos se están incrementando de manera vertiginosa en las últimas décadas, lo que ha generado interés en sectores muy específicos como automoción, ferroviario, industrial, aviónico o aeroespacial. En estos sectores se exige que los diseños estén orientados a confiabilidad y que cumplan con diversas normativas de seguridad, lo que requiere de métodos para la estimación y justificación de la tasa de fallos del sistema. El problema radica en que las FPGAs son especialmente susceptibles al SEU (Single Event Upset) generado por radiación en la memoria de configuración, un tipo de error que provoca la modificación aleatoria de uno o más bits de dicha memoria, afectando al circuito implementado. Por lo tanto, los diseños orientados a confiabilidad que utilicen FPGAs comerciales han de considerar la inclusión de una serie de medidas y mecanismos para mitigar sus efectos. No solo eso, sino que también es necesaria la aplicación de mecanismos de evaluación para corroborar que las estrategias aplicadas permiten alcanzar los objetivos de confiabilidad. De entre los diferentes procedimientos de evaluación aplicables se destaca la emulación de SEUs, que consiste en programar el dispositivo con un archivo intencionadamente corrompido para que se almacene contenido erróneo en la memoria de configuración, lo que genera un efecto análogo al SEU. Se han estudiado diferentes metodologías de emulación en la literatura y se han observado una serie de deficiencias. Por un lado, los métodos de emulación internos (los errores se inyectan desde la propia FPGA) tienen el problema de ser autobloqueantes, ya que el error inyectado puede afectar al propio sistema de emulación. Por otro lado, los sistemas de emulación externos pueden requerir cambios importantes a nivel de hardware.El objetivo principal de este trabajo es el desarrollo de un mecanismo de emulación de SEUs que pueda implementarse de manera sencilla en sistemas ya construidos, cuyo único requisito es que dicho sistema tenga un SoC FPGA del tipo Zynq o similar. Además, se pretenden solventar las deficiencias observadas en la literatura aprovechando las diferentes capacidades que ofrecen los SoCs que combinan FPGA y sistema procesador (PS). Para ello se ha planteado la implementación del sistema de inyección de errores en el PS, ya que de esta manera se previenen las inyecciones de errores bloqueantes. De igual modo, aunque las inyecciones de realicen desde fuera de la FPGA, las inyecciones se llevan a cabo desde el interior del propio chip, evitando la necesidad de añadir modificaciones en el hardware. Se ha propuesto un esquema de verificación universal independiente de la aplicación, de modo que el esquema de test pueda ser adaptado a diferentes sistemas de forma sencilla, independientemente de su complejidad.Una vez planteada la metodología de emulación, se han realizado otras dos aportaciones. En primer lugar se ha comprobado cómo afectan las diferentes decisiones que puedan tomarse en las diferentes etapas de la fase de diseño. Aquí se ha comprobado que un mismo diseño puede tener fluctuaciones de hasta el 50\% si se modifican algunos parámetros. Por otro lado, habiendo observado que los emuladores de SEU existentes en la literatura se centran en el estudio del SBU (Single Bit Upset), se ha propuesto un procedimiento para la estimación de la tasa de fallo en presencia de MCUs (Multiple Cell Upsets)

Cross-layer Soft Error Analysis and Mitigation at Nanoscale Technologies

This thesis addresses the challenge of soft error modeling and mitigation in nansoscale technology nodes and pushes the state-of-the-art forward by proposing novel modeling, analyze and mitigation techniques. The proposed soft error sensitivity analysis platform accurately models both error generation and propagation starting from a technology dependent device level simulations all the way to workload dependent application level analysis

Caracterización de la tolerancia a fallos de circuitos implementados en FPGAs

213 p.Las FPGAs (Field-Programmable Gate Array) y los SoC (System-on-chip) basados en FPGA son dispositivos electrónicos configurables en campo (in field), que ofrecen la posibilidad de desarrollar un circuito a medida con un tiempo de salida al mercado y unos costes de diseño reducidos en comparación con los ASICs. Debido a la reducción continua del tamaño de los transistores, las prestaciones de estos dispositivos se están incrementando de manera vertiginosa en las últimas décadas, lo que ha generado interés en sectores muy específicos como automoción, ferroviario, industrial, aviónico o aeroespacial. En estos sectores se exige que los diseños estén orientados a confiabilidad y que cumplan con diversas normativas de seguridad, lo que requiere de métodos para la estimación y justificación de la tasa de fallos del sistema. El problema radica en que las FPGAs son especialmente susceptibles al SEU (Single Event Upset) generado por radiación en la memoria de configuración, un tipo de error que provoca la modificación aleatoria de uno o más bits de dicha memoria, afectando al circuito implementado. Por lo tanto, los diseños orientados a confiabilidad que utilicen FPGAs comerciales han de considerar la inclusión de una serie de medidas y mecanismos para mitigar sus efectos. No solo eso, sino que también es necesaria la aplicación de mecanismos de evaluación para corroborar que las estrategias aplicadas permiten alcanzar los objetivos de confiabilidad. De entre los diferentes procedimientos de evaluación aplicables se destaca la emulación de SEUs, que consiste en programar el dispositivo con un archivo intencionadamente corrompido para que se almacene contenido erróneo en la memoria de configuración, lo que genera un efecto análogo al SEU. Se han estudiado diferentes metodologías de emulación en la literatura y se han observado una serie de deficiencias. Por un lado, los métodos de emulación internos (los errores se inyectan desde la propia FPGA) tienen el problema de ser autobloqueantes, ya que el error inyectado puede afectar al propio sistema de emulación. Por otro lado, los sistemas de emulación externos pueden requerir cambios importantes a nivel de hardware.El objetivo principal de este trabajo es el desarrollo de un mecanismo de emulación de SEUs que pueda implementarse de manera sencilla en sistemas ya construidos, cuyo único requisito es que dicho sistema tenga un SoC FPGA del tipo Zynq o similar. Además, se pretenden solventar las deficiencias observadas en la literatura aprovechando las diferentes capacidades que ofrecen los SoCs que combinan FPGA y sistema procesador (PS). Para ello se ha planteado la implementación del sistema de inyección de errores en el PS, ya que de esta manera se previenen las inyecciones de errores bloqueantes. De igual modo, aunque las inyecciones de realicen desde fuera de la FPGA, las inyecciones se llevan a cabo desde el interior del propio chip, evitando la necesidad de añadir modificaciones en el hardware. Se ha propuesto un esquema de verificación universal independiente de la aplicación, de modo que el esquema de test pueda ser adaptado a diferentes sistemas de forma sencilla, independientemente de su complejidad.Una vez planteada la metodología de emulación, se han realizado otras dos aportaciones. En primer lugar se ha comprobado cómo afectan las diferentes decisiones que puedan tomarse en las diferentes etapas de la fase de diseño. Aquí se ha comprobado que un mismo diseño puede tener fluctuaciones de hasta el 50\% si se modifican algunos parámetros. Por otro lado, habiendo observado que los emuladores de SEU existentes en la literatura se centran en el estudio del SBU (Single Bit Upset), se ha propuesto un procedimiento para la estimación de la tasa de fallo en presencia de MCUs (Multiple Cell Upsets)

Methodology to accelerate diagnostic coverage assessment: MADC

Tese (doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica, Florianópolis, 2016.Os veículos da atualidade vêm integrando um número crescente de eletrônica embarcada, com o objetivo de permitir uma experiência mais segura aos motoristas. Logo, a garantia da segurança física é um requisito que precisa ser observada por completo durante o processo de desenvolvimento. O padrão ISO 26262 provê medidas para garantir que esses requisitos não sejam negligenciados. Injeção de falhas é fortemente recomendada quando da verificação do funcionamento dos mecanismos de segurança implementados, assim como sua capacidade de cobertura associada ao diagnóstico de falhas existentes. A análise exaustiva não é obrigatória, mas evidências de que o máximo esforço foi feito para acurar a cobertura de diagnóstico precisam ser apresentadas, principalmente durante a avalição dos níveis de segurança associados a arquitetura implementada em hardware. Estes níveis dão suporte às alegações de que o projeto obedece às métricas de segurança da integridade física exigida em aplicações automotivas. Os níveis de integridade variam de A à D, sendo este último o mais rigoroso. Essa Tese explora o estado-da-arte em soluções de verificação, e tem por objetivo construir uma metodologia que permita acelerar a verificação da cobertura de diagnóstico alcançado. Diferentemente de outras técnicas voltadas à aceleração de injeção de falhas, a metodologia proposta utiliza uma plataforma de hardware dedicada à verificação, com o intuito de maximizar o desempenho relativo a simulação de falhas. Muitos aspectos relativos a ISO 26262 são observados de forma que a presente contribuição possa ser apreciada no segmento automotivo. Por fim, uma arquitetura OpenRISC é utilizada para confirmar os resultados alcançados com essa solução proposta pertencente ao estado-da-arte.Abstract : Modern vehicles are integrating a growing number of electronics to provide a safer experience for the driver. Therefore, safety is a non-negotiable requirement that must be considered through the vehicle development process. The ISO 26262 standard provides guidance to ensure that such requirements are implemented. Fault injection is highly recommended for the functional verification of safety mechanisms or to evaluate their diagnostic coverage capability. An exhaustive analysis is not required, but evidence of best effort through the diagnostic coverage assessment needs to be provided when performing quantitative evaluation of hardware architectural metrics. These metrics support that the automotive safety integrity level ? ranging from A (lowest) to D (strictest) levels ? was obeyed. This thesis explores the most advanced verification solutions in order to build a methodology to accelerate the diagnostic coverage assessment. Different from similar techniques for fault injection acceleration, the proposed methodology does not require any modification of the design model to enable acceleration. Many functional safety requisites in the ISO 26262 are considered thus allowing the contribution presented to be a suitable solution for the automotive segment. An OpenRISC architecture is used to confirm the results achieved by this state-of-the-art solution