High temperature fixed points: investigation of influence parameters on the temperature uncertainty by thermal modelling

En el campo del calibrado térmico, la determinación de puntos fijos de fusión de materiales eutécticos a alta temperatura es muy importante, debido a la dificultad para realizar medidas experimentales a altas temperaturas, el modelado térmico es una herramienta esencial para comprender las fuentes de incertidumbre en la obtención de estos puntos fijos. La diferencia entre la temperatura medida con el termómetro y la temperatura de la interfase líquido-sólido es causada por varios factores: Las pérdidas de calor al entorno, la resistencia térmica del metal y de las paredes del crisol, la distribución de temperatura en el horno, el diseño del crisol y del horno y la temperatura nominal del punto fijo. Como resultado de este trabajo, se ha evaluado la influencia de grietas y poros en aleaciones eutécticas con defectos de formación, se han calculado las incertidumbres asociadas a los valores de la emisividad y la conductividad térmica del grafito y se ha estimado tanto la influencia de la longitud del crisol y el espesor de sus paredes como el uso de hornos y perfiles de temperatura diferentes.Departamento de Ingeniería Energética y Fluidodinámic

NASA patent abstracts bibliography: A continuing bibliography. Section 2: Indexes (supplement 14)

This issue of the Index Section contains entries for 3512 patent and applications for patent citations covering the period May 1969 through December 1978. The Index Section contains five indexes --- subject, inventor, source, number, and accession number

NASA patent abstracts bibliography: A continuing bibliography. Section 2: Indexes (supplement 19)

Citations of approximately 4,000 patents and patent applications for the period May 1969 through July 1981 are indexed according to subject, invention, source, number, and accession number

NASA patent abstracts bibliography: A continuing bibliography. Section 2: Indexes (supplement 18)

Entries for 3900 patents and patent applications citations for the period May 1980 through December 1980 are listed. Indexes for subject, invention, source, number, and accession number are included