Analyse und Erweiterung eines fehler-toleranten NoC für SRAM-basierte FPGAs in Weltraumapplikationen

Data Processing Units for scientific space mission need to process ever higher volumes of data and perform ever complex calculations. But the performance of available space-qualified general purpose processors is just in the lower three digit megahertz range, which is already insufficient for some applications. As an alternative, suitable processing steps can be implemented in hardware on a space-qualified SRAM-based FPGA. However, suitable devices are susceptible against space radiation. At the Institute for Communication and Network Engineering a fault-tolerant, network-based communication architecture was developed, which enables the construction of processing chains on the basis of different processing modules within suitable SRAM-based FPGAs and allows the exchange of single processing modules during runtime, too. The communication architecture and its protocol shall isolate non SEU mitigated or just partial SEU mitigated modules affected by radiation-induced faults to prohibit the propagation of errors within the remaining System-on-Chip. In the context of an ESA study, this communication architecture was extended with further components and implemented in a representative hardware platform. Based on the acquired experiences during the study, this work analyses the actual fault-tolerance characteristics as well as weak points of this initial implementation. At appropriate locations, the communication architecture was extended with mechanisms for fault-detection and fault-differentiation as well as with a hardware-based monitoring solution. Both, the former measures and the extension of the employed hardware-platform with selective fault-injection capabilities for the emulation of radiation-induced faults within critical areas of a non SEU mitigated processing module, are used to evaluate the effects of radiation-induced faults within the communication architecture. By means of the gathered results, further measures to increase fast detection and isolation of faulty nodes are developed, selectively implemented and verified. In particular, the ability of the communication architecture to isolate network nodes without SEU mitigation could be significantly improved.Instrumentenrechner für wissenschaftliche Weltraummissionen müssen ein immer höheres Datenvolumen verarbeiten und immer komplexere Berechnungen ausführen. Die Performanz von verfügbaren qualifizierten Universalprozessoren liegt aber lediglich im unteren dreistelligen Megahertz-Bereich, was für einige Anwendungen bereits nicht mehr ausreicht. Als Alternative bietet sich die Implementierung von entsprechend geeigneten Datenverarbeitungsschritten in Hardware auf einem qualifizierten SRAM-basierten FPGA an. Geeignete Bausteine sind jedoch empfindlich gegenüber der Strahlungsumgebung im Weltraum. Am Institut für Datentechnik und Kommunikationsnetze wurde eine fehlertolerante netzwerk-basierte Kommunikationsarchitektur entwickelt, die innerhalb eines geeigneten SRAM-basierten FPGAs Datenverarbeitungsmodule miteinander nach Bedarf zu Verarbeitungsketten verbindet, sowie den Austausch von einzelnen Modulen im Betrieb ermöglicht. Nicht oder nur partiell SEU mitigierte Module sollen bei strahlungsbedingten Fehlern im Modul durch das Protokoll und die Fehlererkennungsmechanismen der Kommunikationsarchitektur isoliert werden, um ein Ausbreiten des Fehlers im restlichen System-on-Chip zu verhindern. Im Kontext einer ESA Studie wurde diese Kommunikationsarchitektur um Komponenten erweitert und auf einer repräsentativen Hardwareplattform umgesetzt. Basierend auf den gesammelten Erfahrungen aus der Studie, wird in dieser Arbeit eine Analyse der tatsächlichen Fehlertoleranz-Eigenschaften sowie der Schwachstellen dieser ursprünglichen Implementierung durchgeführt. Die Kommunikationsarchitektur wurde an geeigneten Stellen um Fehlerdetektierungs- und Fehlerunterscheidungsmöglichkeiten erweitert, sowie um eine hardwarebasierte Überwachung ergänzt. Sowohl diese Maßnahmen, als auch die Erweiterung der Hardwareplattform um gezielte Fehlerinjektions-Möglichkeiten zum Emulieren von strahlungsinduzierten Fehlern in kritischen Komponenten eines nicht SEU mitigierten Prozessierungsmoduls werden genutzt, um die tatsächlichen auftretenden Effekte in der Kommunikationsarchitektur zu evaluieren. Anhand der Ergebnisse werden weitere Verbesserungsmaßnahmen speziell zur schnellen Detektierung und Isolation von fehlerhaften Knoten erarbeitet, selektiv implementiert und verifiziert. Insbesondere die Fähigkeit, fehlerhafte, nicht SEU mitigierte Netzwerkknoten innerhalb der Kommunikationsarchitektur zu isolieren, konnte dabei deutlich verbessert werden

Contributions to the detection and diagnosis of soft errors in radiation environments

Texto completo descargado desde Teseo1. Introducción Los efectos de la radiación ionizante sobre dispositivos semiconductores es objeto de estudio desde la invención del transistor bipolar en 1947. El espacio es un entorno de alta radiación, como pusieron de manifiesto los primeros satélites puestos en órbita, y fue durante la carrera espacial de los años 50 cuando se impulsó el estudio de errores generados en componentes electrónicos críticos a bordo de las primeras misiones espaciales. La necesidad de robustecer la electrónica frente a la radiación ha estado siempre presente en el sector aeroespacial, además, el progresivo escalado de las tecnologías microelectrónicas, hace que el problema sea cada vez más acuciante, afectando incluso a dispositivos que operan a nivel del mar. El advenimiento de tecnologías nanométricas augura que serán necesarias nuevas y más eficaces técnicas de robustecimiento que garanticen la fiabilidad de equipos electrónicos críticos en sectores tan importantes como la aviación, automoción o energía nuclear. Existen dos métodos de robustecimiento para los dispositivos electrónicos, por proceso y por diseño. En el primer caso, el circuito integrado es fabricado en una tecnología que presenta baja sensibilidad a los efectos de la radiación, como la ampliamente utilizada SOI (Silicon On Insulator). En el segundo caso, el circuito presenta topologías en su diseño que mitigan en mayor o menor grado el daño por radiación. La efectividad de cualquier medida de protección debe ser validada en el correspondiente ensayo de radiación de acuerdo a los estándares vigentes (ESA, NASA, JEDEC, AEC,...). Existen varios tipos de daño por radiación, asociados a dosis acumulada (TID) y a eventos únicos (SEE), fundamentalmente. Estos últimos están asociados al paso de una única partícula energética a través del dispositivo, que genera una estela de carga y puede dar lugar a respuestas eléctricas no deseadas, como conmutación 2 2 Antecedentes de biestables, enclavamiento de un bit o excursiones de voltaje transitorias. A su vez, dentro de los errores asociados a eventos únicos se puede distinguir entre daños físicos, que pueden destruir el dispositivo de manera irreversible, y errores lógicos o soft errors que conllevan la corrupción del estado de un circuito digital, por ejemplo por la conmutación del valor lógico de un biestable. Los tests en aceleradores de partículas o con fuentes radiactivas, se consideran los ensayos más representativos para conocer la inmunidad de un componente frente al daño de tipo SEE. Sin embargo, la complejidad de estos ensayos dificulta la observabilidad experimental y la interpretación de los resultados obtenidos. En particular los tests dinámicos, que implican que el chip esté operando durante la irradiacón, comportan una dificultad añadida a la hora de interpretar los errores observados en las salidas del circuito. El test dinámico de radiación es el más realista, ya que introduce la variable temporal en el experimento y da lugar a efectos reales que no son reproducibles en condiciones estáticas, como el evento único transitorio (SET). El trabajo a realizar durante esta tesis pretende aportar una metodología de test que mejore la observabilidad de errores lógicos en un test dinámico de radiación de circuitos digitales mediante detección y diagnóstico en tiempo real. 2. Antecedentes La experiencia investigadora del grupo al que pertenece el autor de esta tesis en el campo de los efectos de la radiación sobre dispositivos electrónicos, ha puesto de manifiesto la necesidad de establecer una metodología que permita el diagnóstico de los errores observados en un componente electrónico sometido a radiación ionizante. Generalmente, no es posible correlacionar con certeza el efecto (anomalía detectada en los puertos de salida) con la causa del mismo. La complejidad inherente a la instrumentación de un ensayo de radiación en un acelerador 3 3 Hipótesis y Objetivos de partículas, así como la propia comlejidad del circuito bajo estudio, requieren algún criterio de clasificación de los errores observados que pueden ser de muy diversa naturaleza. Algunos autores han aportado técnicas que combinan inyección de fallos dinámica con test en acelerador estáticos para estimar la probabilidad de fallo real del circuito, salvando la complejidad del test de radiación dinámico. La protección selectiva, consistente en adoptar topologías de diseño robustas en ¿puntos calientes¿ o críticos del circuito, requiere técnicas de ensayo que permita el diagnóstico y localización del daño por radiación. El uso de microsondas nucleares permite la focalización de un haz de iones en una región relativamente pequeña, facilitando el diagnóstico. La disponibilidad de uso de la microsonda nuclear en el Centro Nacional de Aceleradores puede contribuir al desarrollo de la técnica de detección y diagnóstico que es objeto de esta tesis. La curva de sección eficaz de fallo SEE es la forma más extendida de representación de resultados de experimentación. Estas curvas representan una colección de datos experimentales que deben ser minuciosamente clasificados. Lo mismo ocurre en los tests destinados a evaluar la tasa de errores lógicos en tiempo real (RTSER). En este sentido, la norma JEDEC JESD89-1A recomienda que se sigan ¿criterios de fallo¿ para la correcta identificación de los errores detectados a la salida de un circuito en tests de radiación. 3. Hipótesis y Objetivos El grupo de investigación al que pertenece el doctorando, posee una contrastada experiencia en el uso de emuladores hardware para la evaluación temprana de la robustez de diseños digitales ante errores lógicos. Estos emuladores inyectan fallos en la netlist de un diseño digital y estudian la evolución del estado del circuito durante la ejecución de un conjunto de estímulos. La principal ventaja de estas herramientas frente a la simulación, radica en la aceleración hardware de los 4 3 Hipótesis y Objetivos tests que permite la finalización de campañas de inyección masivas en un tiempo relativamente corto. Las campañas masivas o sistemáticas de inyección de fallos permiten comprobar de forma exhaustiva la respuesta de un diseño digital a un entorno de alta radiación. Estas campañas arrojan una ingente cantidad de información acerca de las vulnerabilidades del diseño que debe ser procesada generalmente de forma estadística. La correlación entre el instante y lugar de inyección del fallo emulado y la respuesta del mismo, sería una información que permitiría establecer la causa de un error (comportamiento anómalo) observado durante un test de radiación, donde generalmente sólo están accesibles las salidas del dispositivo. Los resultados de una campaña de inyección dependen, además del diseño bajo test, del conjunto de estímulos aplicado (workload). A partir de los resultados de la campaña de inyección masiva, se puede realizar un estudio estadístico que determine la calidad de los vectores de test desde el punto de vista del diagnóstico. Es de esperar que diferentes fallos inyectados compartan la misma firma, de manera que en caso de obtener dicha firma en un test de radiación, sea imposible determinar exactamente el punto de inyección del fallo. A la hora de preparar un test de radiación, es recomendable emplear vectores de test que garanticen que la certidumbre del diagnóstico sea máxima, lo cual es un aporte adicional de la tesis. Esta tesis pretende establecer un procedimiento que permita obtener ¿diccionarios de fallos¿ en los que se establece una correlación entre el punto de inyección y la respuesta del circuito codificada en una firma de pocos bytes. Durante un test de radiación se pueden obtener en tiempo real las firmas generadas por el circuito, que servirán para diagnosticar en cada caso el origen del daño empleando los diccionarios de fallos previamente generados en un emulador hardware. En el supuesto de que la firma generada durante la irradiación no estuviera contenida en un diccionario exhaustivo, se puede decir que el error no ha sido originado por el 5 4 Metodología y Trabajo Realizado modelo de fallo empleado en la generación del diccionario, debiéndose por tanto a un tipo de daño no contemplado (por ejemplo daño físico). La culminación de la tesis es el test de radiación en un acelerador de partículas. La Universidad de Sevilla cuenta con las instalaciones del Centro Nacional de Aceleradores, que puede ser un banco de pruebas idóneo para comprobar la validez de la metodología y comprobar las ventajas e inconvenientes de la misma. 4. Metodología y Trabajo Realizado El plan de trabajo incluyó los siguientes hitos en el orden expuesto: Estudio de la base de conocimiento genérica relacionada con los efectos de la radiación en circuitos electrónicos Análisis del Estado del Arte en técnicas de inyección de fallos en circuitos digitales. Recopilación de normas y estándares relacionados con los test radiación de componentes electrónicos. Estudio simulado de bajo nivel de los efectos de la radiación en tecnologías submicrométricas. Selección de un módulo adecuado para creación de firmas a partir de las salidas de un circuito digital. Adecuación del emulador hardware FT-UNSHADES para la generación de firmas durante las campañas de inyección. Selección de un vehículo de test para el experimento en la microsonda nuclear del CNA. 6 4 Metodología y Trabajo Realizado Realización de campañas de inyección masivas para la generación de diccionarios de fallos sobre diseños digitales y análisis de resultados. Preparación del setup experimental para el acelerador de partículas. Experimento en la microsonda nuclear del CNA y análisis de resultados. El estudio bibliográfico de la base de conocimiento en el campo de los efectos de la radiación sobre circuitos electrónicos ha sido fundamental para poder establecer el ámbito de aplicación de la tesis. El papel de la emulación hardware para inyección de fallos en esta investigación fue crítica y ha sido necesario un estudio de las plataformas existentes para entender qué puede aportar cada herramienta. Para acabar con la documentación, es necesario además recopilar las normas y estándares relacionados con test de radiación de circuitos electrónicos. La simulación de bajo nivel de los efectos de la radiación sobre una determinada tecnología engloba herramientas como SPICE, SRIM y TCAD. Estas simulaciones permiten estimar cuales deben ser las características del haz de iones empleado en un futuro ensayo en el acelerador de partículas. Los resultados de estas simulaciones fueron discutidos con los técnicos del acelerador para estudiar la viabilidad de los parámetros deseados. Un elemento clave en la metodología fue el bloque que debe generar las firmas a partir de las salidas del circuito digital. Es deseable que se trate de un módulo sencillo y que pueda ser implementado en un dispositivo programable sin suponer un consumo excesivo de recursos. El emulador FT-UNSHADES fue adaptado par incorporar el módulo de firmas. Se dispuso de un circuito integrado que servió vehículo de test para un experimento en el CNA. Es necesaria además la descripción VHDL del mismo para su emulación en FT-UNSHADES. No es objeto de esta tesis el desarrollo de este componente, su diseño y fabricación está fuera del alcance de esta tesis. Se gener- 7 4 Metodología y Trabajo Realizado aron diccionarios de fallos del vehículo de tests y de otros diseños digitales y, a partir de estos diccionarios, se han confeccionado estudios estadísticos de diagnóstico. En una fase ulterior, se desarrolló el hardware necesario para el setup experimental. Todo el hardware se probó en el laboratorio, antes de acudir al CNA. El resultado de esta etapa es la configuración del equipamiento de test automático (ATE) que se encargó de introducir estímulos en el chip y monitorizarlo durante el experimento en el acelerador de partículas. Finalmente, se llevó a cabo un experimento en el Centro Nacional de Aceleradores sobre el vehículo de test elegido para completar una prueba de concepto de la metodología propuesta.

Toward Fault-Tolerant Applications on Reconfigurable Systems-on-Chip

L'abstract è presente nell'allegato / the abstract is in the attachmen

Fault-tolerant satellite computing with modern semiconductors

Miniaturized satellites enable a variety space missions which were in the past infeasible, impractical or uneconomical with traditionally-designed heavier spacecraft. Especially CubeSats can be launched and manufactured rapidly at low cost from commercial components, even in academic environments. However, due to their low reliability and brief lifetime, they are usually not considered suitable for life- and safety-critical services, complex multi-phased solar-system-exploration missions, and missions with a longer duration. Commercial electronics are key to satellite miniaturization, but also responsible for their low reliability: Until 2019, there existed no reliable or fault-tolerant computer architectures suitable for very small satellites. To overcome this deficit, a novel on-board-computer architecture is described in this thesis.Robustness is assured without resorting to radiation hardening, but through software measures implemented within a robust-by-design multiprocessor-system-on-chip. This fault-tolerant architecture is component-wise simple and can dynamically adapt to changing performance requirements throughout a mission. It can support graceful aging by exploiting FPGA-reconfiguration and mixed-criticality.  Experimentally, we achieve 1.94W power consumption at 300Mhz with a Xilinx Kintex Ultrascale+ proof-of-concept, which is well within the powerbudget range of current 2U CubeSats. To our knowledge, this is the first COTS-based, reproducible on-board-computer architecture that can offer strong fault coverage even for small CubeSats.European Space AgencyComputer Systems, Imagery and Medi

Development and Qualification of an FPGA-Based Multi-Processor System-on-Chip On-Board Computer for LEO Satellites

九州工業大学博士学位論文 学位記番号:工博甲第374号　学位授与年月日:平成26年9月26日Chapter 1: Introduction||Chapter 2: Background and Literature Review||Chapter 3: Multi-Processor System-on-Chip On-Borad Computer Design||Chapter 4: Space and Time Redundancy Trade-offs||Chapter 5: Radiation and Fault Injection Testing||Chapter 6: Thermal Vacuum Testing||Chapter 7: Results and Discussion||Chapter 8: Conclusion and Future Perspectives||ReferencesDeveloping small satellites for scientific and commercial purposes is emerging rapidly in the last decade. The future is still expected to carry more challenging services and designs to fulfill the growing needs for space based services. Nevertheless, there exists a big challenge in developing cost effective and highly efficient small satellites yet with accepted reliability and power consumption that is adequate to the mission capabilities. This challenge mandates the use of the recent developments in digital design techniques and technologies to strike the required balance between the four basic parameters: 1) Cost, 2) Performance, 3) Reliability and 4) Power consumption. This balance becomes even more stringent and harder to reach when the satellite mass reduces significantly. Mass reduction puts strict constraints on the power system in terms of the solar panels and the batteries. That fact creates the need to miniaturize the design of the subsystems as much as possible which can be viewed as the fifth parameter in the design balance dilemma. At Kyuhsu Institute of Technology-Japan we are investigating the use of SRAMbased Field Programmable Gate Arrays (FPGA) in building: 1) High performance, 2)Low cost, 3) Moderate power consumption and 4) Highly reliable Muti-Processor System-on-Chip (MPSoC) On-Board Computers (OBC) for future space missions and applications. This research tries to investigate how commercial grade SRAMbased FPGAs would perform in space and how to mitigate them against the space environment. Our methodology to answer that question depended on following formal design procedure for the OBC according to the space environment requirements then qualifying the design through extensive testing. We developed the MPSoC OBC with 4 complete embedded processor systems. The Inter Processor Communication (IPC) takes place through hardware First-In-First-Out (FIFO) mailboxes. One processor acts as the system master controller which monitors the operation and controls the reset and restore of the system in case of faults and the other three processors form Triple Modular Redundancy (TMR) fault tolerance architecture with each other. We used Dynamic Partial Reconfiguration (DPR) in scrubbing the configuration memory frames and correcting the faults that might exist. The system is implemented using a Virtex-5 LX50 commercial grade FPGA from Xilinx. The research also qualifies the design in the ground-simulated space environment conditions. We tested the implemented MPSoC OBC in Thermal Vacuum Chambers (TVC) at the Center of Nano-Satellite Testing (CeNT) at Kyushu Institute of Technology. Also we irradiated the design with proton accelerated beam at 65 MeV with fluxes of 10e06 and 3e06 particle/cm2/sec at the Takasaki Advanced Radiation Research Institute (TARRI). The TVC test results showed that the FPGA design exceeded the limits of normal operation for the commercial grade package at about 105 C°. Therefore, we mitigated the package using: 1) heat sink, 2) dynamic temperature management through operating frequency reduction from 100 MHz to 50 MHz and 3) reconfiguration to reduce the number of working processors to 2 instead of 4 by replacing the spaceredundancy TMR with time-redundancy TMR during the sunlight section of the orbit. The mitigation proved to be efficient and it even reduced the temperature from 105 C° to about 66 C° when the heat sink, frequency reduction, and reconfiguration techniques were used together. The radiation and the fault injection tests showed that mitigating the FPGA configuration frames through scrubbing are efficient when Single Bit Upsets (SBU) are recorded. Multiple Bit Upsets (MBU) are not well mitigated using the scrubbing with Single Error Correction Double Error Detection (SECDED) technique and the FPGA needs to be totally reset and reloaded when MBUs are detected in its configuration frames. However, as MBUs occurrence in space is very seldom and rare compared to SBUs, we consider that SECDED scrubbing is very efficient in decreasing the soft error rate and increasing the reliability of having error-free bitstreams. The reliability was proven to be at 0.9999 when the scrubbing rate was continuous at a period of 7.1 msec between complete scans of the FPGA bitstream. In the proton radiation tests we managed to develop a new technique to estimate the static cross section using internal scrubbing only without using external monitoring, control and scrubbing device. Fault injection was used to estimate the dynamic cross section in a cost effective alternative for estimating it through radiation test. The research proved through detailed testing that the 65 nm commercial grade SRAM-based FPGA can be used in future space missions. The MPSoC OBC design achieved an adequate balance between the performance, power, mass, and reliability requirements. Extensive testing and applying carefully crafted mitigation techniques were the key points to verify and validate the MPSoC OBC design. In-orbit validation through a scientific demonstration mission would be the next step for the future research

Fault and Defect Tolerant Computer Architectures: Reliable Computing With Unreliable Devices

This research addresses design of a reliable computer from unreliable device technologies. A system architecture is developed for a fault and defect tolerant (FDT) computer. Trade-offs between different techniques are studied and yield and hardware cost models are developed. Fault and defect tolerant designs are created for the processor and the cache memory. Simulation results for the content-addressable memory (CAM)-based cache show 90% yield with device failure probabilities of 3 x 10(-6), three orders of magnitude better than non fault tolerant caches of the same size. The entire processor achieves 70% yield with device failure probabilities exceeding 10(-6). The required hardware redundancy is approximately 15 times that of a non-fault tolerant design. While larger than current FT designs, this architecture allows the use of devices much more likely to fail than silicon CMOS. As part of model development, an improved model is derived for NAND Multiplexing. The model is the first accurate model for small and medium amounts of redundancy. Previous models are extended to account for dependence between the inputs and produce more accurate results

Generic on-board-computer hardware and software development for nanosatellite applications

This study outlines the results obtained from the development of a generic nanosatellite on-board-computer (OBC). The nanosatellite OBC is a non-mission specific design and as such it must be adaptable to changing mission requirements in order to be suitable for varying nanosatellite missions. Focus is placed on the commercial-off-the-shelf (COTS) principle where commercial components are used and evaluated for their potential performance in nanosatellite applications. The OBC design is prototyped and subjected to tests to evaluate its performance and its feasibility to survive in space

Real-time trace decoding and monitoring for safety and security in embedded systems

Integrated circuits and systems can be found almost everywhere in today’s world. As their use increases, they need to be made safer and more perfor mant to meet current demands in processing power. FPGA integrated SoCs can provide the ideal trade-off between performance, adaptability, and energy usage. One of today’s vital challenges lies in updating existing fault tolerance techniques for these new systems while utilizing all available processing capa bilities, such as multi-core and heterogeneous processing units. Control-flow monitoring is one of the primary mechanisms described for error detection at the software architectural level for the highest grade of hazard level clas sifications (e.g., ASIL D) described in industry safety standards ISO-26262. Control-flow errors are also known to compose the majority of detected errors for ICs and embedded systems in safety-critical and risk-susceptible environ ments [5]. Software-based monitoring methods remain the most popular [6–8]. However, recent studies show that the overheads they impose make actual reliability gains negligible [9, 10]. This work proposes and demonstrates a new control flow checking method implemented in FPGA for multi-core embedded systems called control-flow trace checker (CFTC). CFTC uses existing trace and debug subsystems of modern processors to rebuild their execution states. It can iden tify any errors in real-time by comparing executed states to a set of permitted state transitions determined statically. This novel implementation weighs hardware resource trade-offs to target mul tiple independent tasks in multi-core embedded applications, as well as single core systems. The proposed system is entirely implemented in hardware and isolated from all monitored software components, requiring 2.4% of the target FPGA platform resources to protect an execution unit in its entirety. There fore, it avoids undesired overheads and maintains deterministic error detection latencies, which guarantees reliability improvements without impairing the target software system. Finally, CFTC is evaluated under different software i Resumo fault-injection scenarios, achieving detection rates of 100% of all control-flow errors to wrong destinations and 98% of all injected faults to program binaries. All detection times are further analyzed and precisely described by a model based on the monitor’s resources and speed and the software application’s control-flow structure and binary characteristics.Circuitos integrados estão presentes em quase todos sistemas complexos do mundo moderno. Conforme sua frequência de uso aumenta, eles precisam se tornar mais seguros e performantes para conseguir atender as novas demandas em potência de processamento. Sistemas em Chip integrados com FPGAs conseguem prover o balanço perfeito entre desempenho, adaptabilidade, e uso de energia. Um dos maiores desafios agora é a necessidade de atualizar técnicas de tolerância à falhas para estes novos sistemas, aproveitando os novos avanços em capacidade de processamento. Monitoramento de fluxo de controle é um dos principais mecanismos para a detecção de erros em nível de software para sistemas classificados como de alto risco (e.g. ASIL D), descrito em padrões de segurança como o ISO-26262. Estes erros são conhecidos por compor a maioria dos erros detectados em sistemas integrados [5]. Embora métodos de monitoramento baseados em software continuem sendo os mais populares [6–8], estudos recentes mostram que seus custos adicionais, em termos de performance e área, diminuem consideravelmente seus ganhos reais em confiabilidade [9, 10]. Propomos aqui um novo método de monitora mento de fluxo de controle implementado em FPGA para sistemas embarcados multi-core. Este método usa subsistemas de trace e execução de código para reconstruir o estado atual do processador, identificando erros através de com parações entre diferentes estados de execução da CPU. Propomos uma implementação que considera trade-offs no uso de recuros de sistema para monitorar múltiplas tarefas independetes. Nossa abordagem suporta o monitoramento de sistemas simples e também de sistemas multi-core multitarefa. Por fim, nossa técnica é totalmente implementada em hardware, evitando o uso de unidades de processamento de software que possa adicionar custos indesejáveis à aplicação em perda de confiabilidade. Propomos, assim, um mecanismo de verificação de fluxo de controle, escalável e extensível, para proteção de sistemas embarcados críticos e multi-core