363 research outputs found

    TFI-FTS: An efficient transient fault injection and fault-tolerant system for asynchronous circuits on FPGA platform

    Get PDF
    Designing VLSI digital circuits is challenging tasks because of testing the circuits concerning design time. The reliability and productivity of digital integrated circuits are primarily affected by the defects in the manufacturing process or systems. If the defects are more in the systems, which leads the fault in the systems. The fault tolerant systems are necessary to overcome the faults in the VLSI digital circuits. In this research article, an asynchronous circuits based an effective transient fault injection (TFI) and fault tolerant system (FTS) are modelled. The TFI system generates the faults based on BMA based LFSR with faulty logic insertion and one hot encoded register. The BMA based LFSR reduces the hardware complexity with less power consumption on-chip than standard LFSR method. The FTS uses triple mode redundancy (TMR) based majority voter logic (MVL) to tolerant the faults for asynchronous circuits. The benchmarked 74X-series circuits are considered as an asynchronous circuit for TMR logic. The TFI-FTS module is modeled using Verilog-HDL on Xilinx-ISE and synthesized on hardware platform. The Performance parameters are tabulated for TFI-FTS based asynchronous circuits. The performance of TFI-FTS Module is analyzed with 100% fault coverage. The fault coverage is validated using functional simulation of each asynchronous circuit with fault injection in TFI-FTS Module

    Investigations into the feasibility of an on-line test methodology

    Get PDF
    This thesis aims to understand how information coding and the protocol that it supports can affect the characteristics of electronic circuits. More specifically, it investigates an on-line test methodology called IFIS (If it Fails It Stops) and its impact on the design, implementation and subsequent characteristics of circuits intended for application specific lC (ASIC) technology. The first study investigates the influences of information coding and protocol on the characteristics of IFIS systems. The second study investigates methods of circuit design applicable to IFIS cells and identifies theΒ· technique possessing the characteristics most suitable for on-line testing. The third study investigates the characteristics of a 'real-life' commercial UART re-engineered using the techniques resulting from the previous two studies. The final study investigates the effects of the halting properties endowed by the protocol on failure diagnosis within IFIS systems. The outcome of this work is an identification and characterisation of the factors that influence behaviour, implementation costs and the ability to test and diagnose IFIS designs

    ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ опрСдСлСния Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ зависимости Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм ΠΎΡ‚ проявлСния ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… ошибок

    Get PDF
    Structural dependences of the working outputs of logical combinational circuits were studied with the aim of subsequent identification of the type of possible errors. The types of manifested errors and the classification of the working outputs of logical combinational circuits are given. It is shown that the presence of an internal structural connection of discrete devices leads to an increase in the multiplicity of possible errors. The condition for determining the functional dependence of outputs on the manifestation of errors of the studied multiplicity is given. It is noted that out of the many types of errors, unidirectional errors can appear at the outputs of the circuits. A well-known method for determining unidirectionally dependent operating outputs of discrete device circuits is presented, which has a drawback. It is only necessary to pairwise compare each output with the rest of the whole set. For the convenience of the process of searching for such outputs, the author of the article proposed a new method for identifying unidirectionally dependent working outputs. This method differs from known methods in that it is applicable for any number of outputs, which requires much less time to search for the above outputs. It is shown that logical combinational circuits can have functional features, in which only unidirectional errors can appear at the working outputs. Therefore, a new method for identifying any number of unidirectionally independent operating outputs of combinational circuits has been proposed. It is shown that the methods proposed in the article for finding unidirectionally dependent and unidirectionally independent outputs of logical combinational circuits require simple mathematical calculations. In the Multisim, internal faults of the diagnosable circuits are simulated and all possible errors at the working outputs are fixed. According to the results of the experiments, the validity of the theoretical results obtained was also confirmed.Π’ Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Π΅ исслСдованы структурныС зависимости Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм с Ρ†Π΅Π»ΡŒΡŽ ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰Π΅ΠΉ ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ Π²ΠΈΠ΄Π° Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½Ρ‹Ρ… ошибок. ΠŸΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Ρ‹ Π²ΠΈΠ΄Ρ‹ Π²ΠΎΠ·Π½ΠΈΠΊΠ°ΡŽΡ‰ΠΈΡ… ошибок ΠΈ классификация Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π½Π°Π»ΠΈΡ‡ΠΈΠ΅ Π²Π½ΡƒΡ‚Ρ€Π΅Π½Π½Π΅ΠΉ структурной связи дискрСтных устройств ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ ΡƒΠ²Π΅Π»ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ кратности Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½Ρ‹Ρ… ошибок. ΠŸΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡΡ условиС опрСдСлСния Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ зависимости Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² ΠΎΡ‚ проявлСния ошибок исслСдуСмой кратности. ΠžΡ‚ΠΌΠ΅Ρ‡Π΅Π½ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΈΠ· мноТСства Π²ΠΈΠ΄ΠΎΠ² ошибок, Π½Π° Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π°Ρ… схСм ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π»ΡΡ‚ΡŒΡΡ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ½Π°ΠΏΡ€Π°Π²Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ (ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅) ошибки. ΠŸΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ извСстный ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ опрСдСлСния ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ зависимых Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² дискрСтных устройств ΠΈ ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½ Π΅Π³ΠΎ нСдостаток, Π·Π°ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°ΡŽΡ‰ΠΈΠΉΡΡ Π² нСобходимости Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΏΠΎΠΏΠ°Ρ€Π½ΠΎΠ³ΠΎ сравнСния ΠΊΠ°ΠΆΠ΄ΠΎΠ³ΠΎ Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π° с ΠΎΡΡ‚Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌΠΈ ΠΈΠ· Ρ†Π΅Π»ΠΎΠ³ΠΎ мноТСства. Для удобства процСсса поиска ΠΏΠΎΠ΄ΠΎΠ±Π½Ρ‹Ρ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² Π°Π²Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΌ ΡΡ‚Π°Ρ‚ΡŒΠΈ ΠΏΡ€Π΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½ Π½ΠΎΠ²Ρ‹ΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ зависимых Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ², ΠΎΡ‚Π»ΠΈΡ‡Π°ΡŽΡ‰ΠΈΠΉΡΡ ΠΎΡ‚ извСстных ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠ² Ρ‚Π΅ΠΌ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π΄Π°Π½Π½Ρ‹ΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΠΈΠΌ для любого числа Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ², Ρ‡Ρ‚ΠΎ Ρ‚Ρ€Π΅Π±ΡƒΠ΅Ρ‚ Π·Π½Π°Ρ‡ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ мСньшСго Π²Ρ€Π΅ΠΌΠ΅Π½ΠΈ для поиска Π²Ρ‹ΡˆΠ΅ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ². Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ логичСскиС ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ схСмы ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΎΠ±Π»Π°Π΄Π°Ρ‚ΡŒ Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌΠΈ особСнностями, ΠΏΡ€ΠΈ ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Ρ… Π½Π° Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π°Ρ… ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π»ΡΡ‚ΡŒΡΡ Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ошибки. Π‘Π»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ, ΠΏΡ€Π΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½ Π½ΠΎΠ²Ρ‹ΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ любого числа ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ нСзависимых Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΏΡ€Π΅Π΄Π»Π°Π³Π°Π΅ΠΌΡ‹Π΅ Π² ΡΡ‚Π°Ρ‚ΡŒΠ΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ поиска ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ зависимых ΠΈ ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ нСзависимых Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм Ρ‚Ρ€Π΅Π±ΡƒΡŽΡ‚ выполнСния нСслоТных матСматичСских вычислСний. Π’ ΠΏΡ€ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠΌΠ½ΠΎΠΉ срСдС Multisim смодСлированы Π²Π½ΡƒΡ‚Ρ€Π΅Π½Π½ΠΈΠ΅ нСисправности диагностируСмых схСм ΠΈ зафиксированы всС Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½Ρ‹Π΅ ошибки Π½Π° Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π°Ρ…. По Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π°ΠΌ экспСримСнтов Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ ΠΏΠΎΠ΄Ρ‚Π²Π΅Ρ€ΠΆΠ΄Π΅Π½Π° ΡΠΏΡ€Π°Π²Π΅Π΄Π»ΠΈΠ²ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… тСорСтичСских Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚ΠΎΠ²

    ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ опрСдСлСния Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ зависимости Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм ΠΎΡ‚ проявлСния ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… ошибок

    Get PDF
    Π’ Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Π΅ исслСдованы структурныС зависимости Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм с Ρ†Π΅Π»ΡŒΡŽ ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰Π΅ΠΉ ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ Π²ΠΈΠ΄Π° Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½Ρ‹Ρ… ошибок. ΠŸΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Ρ‹ Π²ΠΈΠ΄Ρ‹ Π²ΠΎΠ·Π½ΠΈΠΊΠ°ΡŽΡ‰ΠΈΡ… ошибок ΠΈ классификация Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π½Π°Π»ΠΈΡ‡ΠΈΠ΅ Π²Π½ΡƒΡ‚Ρ€Π΅Π½Π½Π΅ΠΉ структурной связи дискрСтных устройств ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ ΡƒΠ²Π΅Π»ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ кратности Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½Ρ‹Ρ… ошибок. ΠŸΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡΡ условиС опрСдСлСния Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ зависимости Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² ΠΎΡ‚ проявлСния ошибок исслСдуСмой кратности. ΠžΡ‚ΠΌΠ΅Ρ‡Π΅Π½ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΈΠ· мноТСства Π²ΠΈΠ΄ΠΎΠ² ошибок, Π½Π° Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π°Ρ… схСм ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π»ΡΡ‚ΡŒΡΡ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ½Π°ΠΏΡ€Π°Π²Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ (ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅) ошибки. ΠŸΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ извСстный ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ опрСдСлСния ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ зависимых Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² дискрСтных устройств ΠΈ ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½ Π΅Π³ΠΎ нСдостаток, Π·Π°ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°ΡŽΡ‰ΠΈΠΉΡΡ Π² нСобходимости Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΏΠΎΠΏΠ°Ρ€Π½ΠΎΠ³ΠΎ сравнСния ΠΊΠ°ΠΆΠ΄ΠΎΠ³ΠΎ Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π° с ΠΎΡΡ‚Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌΠΈ ΠΈΠ· Ρ†Π΅Π»ΠΎΠ³ΠΎ мноТСства. Для удобства процСсса поиска ΠΏΠΎΠ΄ΠΎΠ±Π½Ρ‹Ρ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² Π°Π²Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΌ ΡΡ‚Π°Ρ‚ΡŒΠΈ ΠΏΡ€Π΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½ Π½ΠΎΠ²Ρ‹ΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ зависимых Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ², ΠΎΡ‚Π»ΠΈΡ‡Π°ΡŽΡ‰ΠΈΠΉΡΡ ΠΎΡ‚ извСстных ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠ² Ρ‚Π΅ΠΌ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π΄Π°Π½Π½Ρ‹ΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΠΈΠΌ для любого числа Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ², Ρ‡Ρ‚ΠΎ Ρ‚Ρ€Π΅Π±ΡƒΠ΅Ρ‚ Π·Π½Π°Ρ‡ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ мСньшСго Π²Ρ€Π΅ΠΌΠ΅Π½ΠΈ для поиска Π²Ρ‹ΡˆΠ΅ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ². Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ логичСскиС ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ схСмы ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΎΠ±Π»Π°Π΄Π°Ρ‚ΡŒ Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌΠΈ особСнностями, ΠΏΡ€ΠΈ ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Ρ… Π½Π° Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π°Ρ… ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π»ΡΡ‚ΡŒΡΡ Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ошибки. Π‘Π»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ, ΠΏΡ€Π΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½ Π½ΠΎΠ²Ρ‹ΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ любого числа ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ нСзависимых Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΏΡ€Π΅Π΄Π»Π°Π³Π°Π΅ΠΌΡ‹Π΅ Π² ΡΡ‚Π°Ρ‚ΡŒΠ΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ поиска ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ зависимых ΠΈ ΠΌΠΎΠ½ΠΎΡ‚ΠΎΠ½Π½ΠΎ нСзависимых Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ² логичСских ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… схСм Ρ‚Ρ€Π΅Π±ΡƒΡŽΡ‚ выполнСния нСслоТных матСматичСских вычислСний. Π’ ΠΏΡ€ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠΌΠ½ΠΎΠΉ срСдС Multisim смодСлированы Π²Π½ΡƒΡ‚Ρ€Π΅Π½Π½ΠΈΠ΅ нСисправности диагностируСмых схСм ΠΈ зафиксированы всС Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½Ρ‹Π΅ ошибки Π½Π° Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π°Ρ…. По Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π°ΠΌ экспСримСнтов Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ ΠΏΠΎΠ΄Ρ‚Π²Π΅Ρ€ΠΆΠ΄Π΅Π½Π° ΡΠΏΡ€Π°Π²Π΅Π΄Π»ΠΈΠ²ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… тСорСтичСских Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚ΠΎΠ²

    К вопросу синтСза Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² ΠΌΠΎΠ΄ΠΈΡ„ΠΈΡ†ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΊΠΎΠ΄ΠΎΠ² с суммированиСм Π²Π·Π²Π΅ΡˆΠ΅Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… разрядов с ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒΡŽ вСсовых коэффициСнтов, ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΡƒΡŽΡ‰Π΅ΠΉ Π½Π°Ρ‚ΡƒΡ€Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ ряд чисСл

    Get PDF
    Π˜Π·Π»Π°Π³Π°ΡŽΡ‚ΡΡ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹, ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Π°Π²Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΌ Π² области синтСза Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… Π²Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² ΠΌΠΎΠ΄ΠΈΡ„ΠΈΡ†ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΊΠΎΠ΄ΠΎΠ² Π‘Π΅Ρ€Π³Π΅Ρ€Π°. Π”Π°Π½Π½Ρ‹Π΅ ΠΊΠΎΠ΄Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΈΠ½Π°Π΄Π»Π΅ΠΆΠ°Ρ‚ ΠΊ классу ΠΌΠΎΠ΄ΠΈΡ„ΠΈΡ†ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡŒΠ½ΠΎ Π²Π·Π²Π΅ΡˆΠ΅Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΊΠΎΠ΄ΠΎΠ² с суммированиСм. ΠŸΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΡΡ‚ΡΡ ΠΎΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ структуры Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² Ρ‚Π°ΠΊΠΈΡ… ΠΊΠΎΠ΄ΠΎΠ², Π° Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ Π°Π»Π³ΠΎΡ€ΠΈΡ‚ΠΌ построСния Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π°, ΠΏΠΎΠ·Π²ΠΎΠ»ΡΡŽΡ‰ΠΈΠΉ ΠΎΠΏΡ‚ΠΈΠΌΠΈΠ·ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ Π΅Π³ΠΎ структуру, сократив количСство ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅ΠΌΡ‹Ρ… Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… элСмСнтов. Выводится Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΡƒΠ»Π° подсчСта ΠΎΠ±Ρ‰Π΅Π³ΠΎ количСства Π΄Π²ΡƒΡ…Π²Ρ…ΠΎΠ΄ΠΎΠ²Ρ‹Ρ… логичСских элСмСнтов, Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡ‹Ρ… для тСхничСской Ρ€Π΅Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π°. ΠŸΡ€Π΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½Π½Ρ‹ΠΉ Π°Π»Π³ΠΎΡ€ΠΈΡ‚ΠΌ синтСза Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² являСтся ΡƒΠ½ΠΈΠ²Π΅Ρ€ΡΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌ ΠΈ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ использован для построСния Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² Π»ΡŽΠ±Ρ‹Ρ… ΠΌΠΎΠ΄ΠΈΡ„ΠΈΡ†ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡŒΠ½ΠΎ Π²Π·Π²Π΅ΡˆΠ΅Π½Π½Ρ‹Ρ… ΠΊΠΎΠ΄ΠΎΠ² с суммированиСм

    A Survey on the Best Choice for Modulus of Residue Code

    Get PDF
    Nowadays, the development of technology and the growing need for dense and complex chips have led chip industries to increase their attention on the circuit testability. Also, using the electronic chips in certain industries, such as the space industry, makes the design of fault tolerant circuits a challenging issue. Coding is one of the most suitable methods for error detection and correction. The residue code, as one of the best choices for error detection aims, is wildly used in large arithmetic circuits such as multiplier and also finds a wide range of applications in processors and digital filters. The modulus value in this technique directly effect on the area overhead parameter. A large area overhead is one of the most important disadvantages especially for testing the small circuits. The purpose of this paper is to study and investigate the best choice for residue code check base that is used for simple and small circuits such as a simple ripple carry adder. The performances are evaluated by applying stuck-at-faults and transition-faults by simulators. The efficiency is defined based on fault coverage and normalized area overhead. The results show that the modulus 3 with 95% efficiency provided the best result. Residue code with this modulus for checking a ripple carry adder, in comparison with duplex circuit, 30% improves the efficiency

    Π‘ΠΈΠ½Ρ‚Π΅Π· самопровСряСмых схСм встроСнного контроля Π½Π° основС ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π° логичСского дополнСния Π΄ΠΎ равновСсного ΠΊΠΎΠ΄Π° Β«2 ΠΈΠ· 4Β»

    Get PDF
    The article explores the peculiarities of self-checking integrated control circuits synthesis by the Boolean complement method based on the "2-out-of-4'' constant-weight code. The article describes the features of integrated control circuits implementation by the Boolean complement method. It is noted that it is possible to synthesize the structures of discrete devices, which have less structural redundancy than in situation of the control circuit implementation by the method of duplication. The effect in structural redundancy reducing is achieved by minimizing the complexity of the control logic block technical implementation and using checkers that are simpler in their structures than the comparator in the system of duplication. The article proposes a method of the integrated control circuit organization based on determining the values of control functions taking into account the maintenance of testability of elements of addition by modulo two in the Boolean complement block and the checker of the "2-out-of-4" code.Π˜ΡΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‚ΡΡ особСнности синтСза самопровСряСмых схСм встроСнного контроля ΠΏΠΎ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρƒ логичСского дополнСния Π½Π° основС равновСсного ΠΊΠΎΠ΄Π° Β«2 ΠΈΠ· 4Β». ΠžΠΏΠΈΡΡ‹Π²Π°ΡŽΡ‚ΡΡ особСнности Ρ€Π΅Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ схСм встроСнного контроля ΠΏΠΎ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρƒ логичСского дополнСния. ΠžΡ‚ΠΌΠ΅Ρ‡Π°Π΅Ρ‚ΡΡ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ синтСза структур дискрСтных устройств, ΠΈΠΌΠ΅ΡŽΡ‰ΠΈΡ… ΠΌΠ΅Π½ΡŒΡˆΡƒΡŽ ΡΡ‚Ρ€ΡƒΠΊΡ‚ΡƒΡ€Π½ΡƒΡŽ ΠΈΠ·Π±Ρ‹Ρ‚ΠΎΡ‡Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ, Ρ‡Π΅ΠΌ ΠΏΡ€ΠΈ Ρ€Π΅Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ схСмы контроля ΠΏΠΎ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρƒ дублирования. Π­Ρ„Ρ„Π΅ΠΊΡ‚ Π² сниТСнии структурной избыточности достигаСтся Π·Π° счСт ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ слоТности тСхничСской Ρ€Π΅Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ Π±Π»ΠΎΠΊΠ° ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Π»ΠΎΠ³ΠΈΠΊΠΈ ΠΈ использования Π±ΠΎΠ»Π΅Π΅ простых ΠΏΠΎ своим структурам тСстСров, Ρ‡Π΅ΠΌ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ°Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ Π² систСмС дублирования. ΠŸΡ€Π΅Π΄Π»Π°Π³Π°Π΅Ρ‚ΡΡ способ ΠΎΡ€Π³Π°Π½ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ схСмы встроСнного контроля, основанный Π½Π° Π΄ΠΎΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΈΠΈ Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠΉ ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΉ с ΡƒΡ‡Π΅Ρ‚ΠΎΠΌ обСспСчСния тСстируСмости элСмСнтов слоТСния ΠΏΠΎ ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡŽ Π΄Π²Π° Π² Π±Π»ΠΎΠΊΠ΅ логичСского дополнСния ΠΈ тСстСра ΠΊΠΎΠ΄Π° Β«2 ΠΈΠ· 4Β»
    • …
    corecore