Skip to main content
Article thumbnail
Location of Repository

Field Ion Microscopy and Field Electron Energy Spectroscopy of Alumina-Supported Particles

By Alexander Cörper

Abstract

In der vorliegenden Arbeit werden dynamische und elektronische Eigenschaften adsorbierter Partikel aus Platin, Palladium und Iridium auf einem auf NiAl (110) hergestellten, dünnen, wohlgeordneten Aluminiumoxidfilm bzw. auf reinem NiAl (110) untersucht. Untersuchungsmethoden sind die Feld-Ionen-Mikroskopie und die Feld-Elektronen-Energie-Spektroskopie. Im einzelnen wurden folgende Ergebnisse erzielt: Auf beiden Oberflächen, NiAl (110) und Al2O3 / NiAl (110), wurde die Aktivierungsenergie für die Oberflächendiffusion einzelner Pt-Adatome bestimmt: 0,48 eV bzw. 0,29 eV. Feld-Elektronen-Energie-Spektren mit adsorbierten Partikeln auf dem Aluminiumoxidfilm zeigen einen durch resonantes Tunneln hervorgerufenen zweiten, niederenergetischen Peak, der die lokale elektronische Zustandsdichte der adsorbierten Partikel wiederspiegelt. Analysen einer Serie solcher Spektren lassen Rückschlüsse auf das Nukleationsverhalten zu.This work presents investigations on dynamic and electronic properties of platinum, palladium and iridium particles adsorbed on a thin, well-ordered alumina film grown on NiAl (110) and on clean NiAl (110) respectively. Experimental methods are field ion microscopy and field electron energy spectroscopy. In detail, the following results have been obtained: On both surfaces, NiAl (110) and Al2O3 / NiAl (110), the activation energy of surface diffusion of individual Pt adatoms has been determined: 0.48 eV and 0.29 eV respectively. Field electron energy spectra measured for particles adsorbed on the alumina film show a second, low-energy peak caused by resonant tunneling reflecting the local density of electronic states of the adsorbed particles. From analyses of a series of such spectra, conclusions can be drawn on the nucleation behaviour

Topics: 530 Physik, Aktivierungsenergie, FEES, Feld-Elektronen-Energie-Spektroskopie, Feld-Elektronen-Mikroskopie, Feld-Ionen-Mikroskopie, FEM, FIM, Oberflächendiffusion, Activation energy, FEES, FEM, Field electron energy spectroscopy, Field electron microscopy, Field ion microscopy, FIM, Resonant tu, Surface diffusion
Year: 2003
OAI identifier: oai:depositonce.tu-berlin.de:11303/1033
Provided by: DepositOnce
Download PDF:
Sorry, we are unable to provide the full text but you may find it at the following location(s):
  • http://dx.doi.org/10.14279/dep... (external link)
  • http://depositonce.tu-berlin.d... (external link)
  • http://rightsstatements.org/vo... (external link)
  • Suggested articles


    To submit an update or takedown request for this paper, please submit an Update/Correction/Removal Request.