Article thumbnail

Кінетичний аналіз накопичення дефектів в радіаційній технології модифікації структури кристалів опроміненням

By Олександр Миколайович Огурцов, Ольга Миколаївна Близнюк and Наталія Юріївна Масалітіна

Abstract

Запропонована кінетична модель процесу формування точкового дефекту внаслідок релаксації електронних збуджень в конденсованих системах. Проведений аналіз дозових кривих інтенсивності смуг люмінесценції в кристалах інертних елементів. Одержані значення характеристичних кінетичних констант добре узгоджуються з відомою ієрархією процесів релаксації електронних збуджень.Kinetic model for the process of point defect formation induced by electronic excitation relaxation in condensed systems is proposed. The analysis of dose curves of intensity of noble crystal luminescence bands was made. The determined characteristic kinetic constants are found to be in good agreement with known hierarchy of electronic excitation relaxation processes

Topics: конденсовані системи, точковий дефект, кінетична модель, електронні збудження, процеси релаксації
Publisher: НТУ "ХПІ"
Year: 2010
OAI identifier: oai:repository.kpi.kharkov.ua:KhPI-Press/19240

Suggested articles


To submit an update or takedown request for this paper, please submit an Update/Correction/Removal Request.