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Systemkonzeption hoechstintegrierter ASIC's (bis 0.5#mu#m) fuer Anwendungen in klein- und mittelstaendischen Unternehmen Schlussbericht

By Zentrum Mikroelektronik Dresden GmbH (Germany)

Abstract

While testing of purely digital ASIC components is assisted by CAD tools, there are no computer-aided systems available yet for the automatic generation of mixed analog/digital ASIC test patterns. The widely used CAD test pattern generation tools are not always suited for small- and medium-sized firms because the requirement of test design customer circuit integration may involve high costs on account of the customers' insufficient experiences in this complex field of application. This research project was dedicated to the achievement of further improvements in all-automatic test pattern generation as regards specific circuit-engineering restrictions, and to the development of approaches to all-automatic test pattern generation for mixed analog/digital ASICs. Efforts were made at achieving considerable reductions in the cost of design processes by further increases in the level of mixed analog/digital design automation. (orig./RHM)Waehrend fuer rein digitale ASIC's das Bauelemente-Testproblem bereits von CAD-Tools unterstuetzt wird, ist eine Rechnerunterstuetzung zur automatisierten Generierung der Testpattern fuer mixed analog/digitale ASIC's zur Zeit noch nicht allgemein verfuegbar. Ein wesentlicher Mangel aller bisher breit angewendeter CAD-Tools zur automatisierten Testpatterngenerierung besteht darin, dass die Testkonzeption von dem ASIC-Entwickler in seine Kundenschaltung integriert werden muss. Dies ist fuer klein- und mittelstaendische Unternehmen, die in der Regel nur ueber geringe Erfahrungen auf diesem komplizierten Gebiet verfuegen, sehr kostenintensiv. Ein Schwerpunkt des dokumentierten Forschungsvorhabens war es, die schaltungstechnischen Einschraenkungen bei der Anwendung der vollautomatischen Testpatterngenerierung weiter zu verringern, sowie Wege zu finden, eine vollautomatische Testpatterngenerierung auch fuer mixed analog/digitale ASIC's zu ermoeglichen. Auch wurde angestrebt durch eine weitere Erhoehung des Automatisierungsgrades beim Entwurf von mixed analog/digitalen ASIC's eine erhebliche Kostenreduzierung des Designprozesses zu erreichen. (orig./RHM)Available from TIB Hannover: F94B0029 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)DEGerman

Topics: 09A - Components, 09L - Computer-Aided Design (CAD), COMPUTER AIDED DESIGN: M, TEST PATTERN GENERATORS: M, MICROELECTRONICS: M, COMPUTER TOOLS: M, INTEGRATED CIRCUITS, SMALL AND MEDIUM SIZED FIRMS, CHIPS (ELECTRONICS), AUTOMATION
Year: 1993
OAI identifier:
Provided by: OpenGrey Repository
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