Location of Repository

Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии

By А. Л. Жарин and К. В. Пантелеев
Publisher: БНТУ
Year: 2015
OAI identifier: oai:rep.bntu.by:data/21715

Suggested articles

Preview


To submit an update or takedown request for this paper, please submit an Update/Correction/Removal Request.