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A Replicated Experiment to Fault-Prone Module Detection with Clone Metrics

By 靖高 亀井, 裕紀 左藤, 暁人 門田, 真司 川口, 秀剛 上野, 正剛 名倉 and 健一 松本

Abstract

本論文では,馬場らによるクローンメトリックスを用いたfault-proneモジュール判別の追実験を行った.Eclipseプロジェクトより収集した3バージョン分(バージョン3.0,3.1,3.2)のモジュールデータを用いた実験の結果,先行研究とは異なり精度の向上は確認できなかった.本論文では,精度が向上しなかった要因を調べるためにクローンメトリックスとfaultの関係を分析した.分析結果から,クローンメトリックスは規模の小さいモジュールに対するfault-proneモジュール判別には効果がないものの,馬場らが対象とするようなある程度規模の大きいモジュールに対しては効果があることが示唆された

Publisher: 電子情報通信学会
Year: 2010
OAI identifier: oai:library.naist.jp:10061/12275
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